特許ランキング - 出願人詳細情報 - English version here

ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2011年 > 出願公開一覧

株式会社日立ハイテクノロジーズ

※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて

  2011年 出願公開件数ランキング    第52位 689件 上昇2010年:第70位 624件)

  2011年 特許取得件数ランキング    第98位 350件 下降2010年:第95位 307件)

(ランキング更新日:2020年8月6日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

2012年  2013年  2014年  2015年  2016年  2017年  2018年  2019年  2020年 

公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2011-258563 質量分析装置 2011年12月22日
特開 2011-257224 核酸分析デバイス、およびその製造方法 2011年12月22日
特開 2011-254806 釣菌装置および釣菌方法 2011年12月22日
特開 2011-257222 欠陥検査方法および欠陥検査装置 2011年12月22日
特開 2011-258576 荷電粒子線装置に用いられる標準試料,荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置に用いられる標準試料の製造方法 2011年12月22日
特開 2011-258573 荷電粒子線装置 2011年12月22日
特開 2011-257304 基板検査方法及び装置 2011年12月22日
特開 2011-257186 欠陥検査装置 2011年12月22日
特開 2011-257268 分光光度計 2011年12月22日
特開 2011-258615 プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 2011年12月22日
特開 2011-254944 磁場解析方法、プログラムおよび磁場解析装置 2011年12月22日
特開 2011-257427 自動分析装置 2011年12月22日
特開 2011-258967 プラズマ処理装置 2011年12月22日
特開 2011-258614 プラズマ処理装置または試料載置台 2011年12月22日
特開 2011-258451 走査電子顕微鏡 2011年12月22日

689 件中 1-15 件を表示

1 2 3 4 5 6 7次へ>

をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2011-258563 2011-257224 2011-254806 2011-257222 2011-258576 2011-258573 2011-257304 2011-257186 2011-257268 2011-258615 2011-254944 2011-257427 2011-258967 2011-258614 2011-258451

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

  • このサイトをYahoo!ブックマークに登録
  • はてなブックマークに追加

特許ランキング

2020年 特許出願件数2020年 特許取得件数
2019年 特許出願件数2019年 特許取得件数
2018年 特許出願件数2018年 特許取得件数
2017年 特許出願件数2017年 特許取得件数
2016年 特許出願件数2016年 特許取得件数
2015年 特許出願件数2015年 特許取得件数
2014年 特許出願件数2014年 特許取得件数
2013年 特許出願件数2013年 特許取得件数
2012年 特許出願件数2012年 特許取得件数
出願人を検索

特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介

中井国際特許事務所

大阪府大阪市中央区北浜東1-12 千歳第一ビル4階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング 

久野特許事務所

兵庫県西宮市高木西町18番5号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 コンサルティング 

あいだ特許事務所

〒195-0074 東京都町田市山崎町1089-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 鑑定 コンサルティング