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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2013年 出願公開件数ランキング    第59位 716件 下降2012年:第54位 709件)

  2013年 特許取得件数ランキング    第51位 717件 上昇2012年:第71位 547件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2013-255445 微生物検査方法および検査システム 2013年12月26日
特開 2013-257147 イオン選択性電極及び分析装置 2013年12月26日
特開 2013-257157 清掃・メンテナンスラックおよび検体搬送システム 2013年12月26日
特開 2013-257148 コーティング装置、及びコーティング装置の前処理装置 2013年12月26日
特開 2013-258181 多結晶シリコン膜の検査方法及びその装置 2013年12月26日
特開 2013-257983 荷電粒子ビーム発生装置、荷電粒子線装置、高電圧発生装置、および高電位装置 2013年12月26日
特開 2013-254616 試料ホルダ、及び、観察用試料固定方法 2013年12月19日
特開 2013-254723 プラズマ処理装置 2013年12月19日
特開 2013-254673 荷電粒子線装置および荷電粒子線の偏向制御装置 2013年12月19日
特開 2013-254574 荷電粒子線観察装置および試料観察方法 2013年12月19日
特開 2013-254704 昇温脱離ガス分析装置及び試料支持板フォルダ 2013年12月19日
特開 2013-254675 ステージ装置、及び荷電粒子線装置 2013年12月19日
特開 2013-253813 自動分析装置 2013年12月19日
特開 2013-253888 質量分析を用いた定量分析方法と定量分析装置 2013年12月19日
特開 2013-253934 自動分析装置及びキャリーオーバー試験方法 2013年12月19日

716 件中 1-15 件を表示

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2013-255445 2013-257147 2013-257157 2013-257148 2013-258181 2013-257983 2013-254616 2013-254723 2013-254673 2013-254574 2013-254704 2013-254675 2013-253813 2013-253888 2013-253934

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