特許ランキング - 出願人詳細情報 -
株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2020年6月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2014-241301 | 荷電粒子線装置、及びその制御方法 | 2014年12月25日 | |
| 特開 2014-240801 | 赤外線検査装置 | 2014年12月25日 | |
| 特開 2014-240765 | ラインパターンの形状評価方法及びその装置 | 2014年12月25日 | |
| 特開 2014-239091 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2014年12月18日 | |
| 特開 2014-239063 | 荷電粒子線装置 | 2014年12月18日 | |
| 特開 2014-238346 | 自動分析装置 | 2014年12月18日 | |
| 特開 2014-239060 | 試料観察方法 | 2014年12月18日 | |
| 特開 2014-235076 | 血球破壊試薬及びそれを用いる血球破壊方法 | 2014年12月15日 | |
| 特開 2014-235001 | 自動分析装置 | 2014年12月15日 | |
| 特開 2014-235985 | 荷電粒子線装置 | 2014年12月15日 | |
| 特開 2014-235253 | パターン形成装置及びパターン形成方法 | 2014年12月15日 | |
| 特開 2014-235035 | 液体クロマトグラフ分析装置、並びにそれを用いた分析システム及び分析方法 | 2014年12月15日 | |
| 特開 2014-235948 | イオン源およびイオンミリング装置 | 2014年12月15日 | |
| 特開 2014-235020 | 自動分析装置 | 2014年12月15日 | |
| 特開 2014-232057 | 温度調整ユニット及びこれを用いた核酸分析装置 | 2014年12月11日 |
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2014-241301 2014-240801 2014-240765 2014-239091 2014-239063 2014-238346 2014-239060 2014-235076 2014-235001 2014-235985 2014-235253 2014-235035 2014-235948 2014-235020 2014-232057
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