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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

(ランキング更新日:2020年11月26日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5645934 荷電粒子線装置および防音カバー 2014年12月24日
特許 5645771 質量分析装置 2014年12月24日
特許 5644006 処理時間の予測方法および自動分析システム 2014年12月24日
特許 5645829 信号処理装置、質量分析装置及び光度計 2014年12月24日
特許 5642427 プラズマ処理方法 2014年12月17日
特許 5643339 自動分析装置 2014年12月17日 共同出願
特許 5641463 欠陥検査装置及びその方法 2014年12月17日
特許 5638098 検査装置、及び検査条件取得方法 2014年12月10日
特許 5640027 オーバーレイ計測方法、計測装置、走査型電子顕微鏡およびGUI 2014年12月10日
特許 5639541 光学式検査装置、検査システムおよび座標管理用ウエハ 2014年12月10日
特許 5637841 検査装置 2014年12月10日
特許 5640135 プラズマ処理装置 2014年12月10日
特許 5639925 パターンマッチング装置、及びコンピュータープログラム 2014年12月10日
特許 5639797 パターンマッチング方法,画像処理装置、及びコンピュータプログラム 2014年12月10日
特許 5639959 前処理装置及びそれを用いた自動分析装置 2014年12月10日

625 件中 1-15 件を表示

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5645934 5645771 5644006 5645829 5642427 5643339 5641463 5638098 5640027 5639541 5637841 5640135 5639925 5639797 5639959

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