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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2017年 出願公開件数ランキング    第138位 386件 上昇2016年:第182位 243件)

  2017年 特許取得件数ランキング    第90位 339件 下降2016年:第89位 360件)

(ランキング更新日:2020年8月13日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6253477 プラズマ処理方法 2017年12月27日
特許 6254060 荷電粒子線装置用垂直移動ステージ及び荷電粒子線装置 2017年12月27日
特許 6254445 荷電粒子ビーム装置 2017年12月27日
特許 6255152 検査装置 2017年12月27日
特許 6255216 電気化学測定装置 2017年12月27日
特許 6255339 自動分析装置 2017年12月27日
特許 6255448 荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置 2017年12月27日
特許 6255494 電子顕微鏡、及び、試料の観察方法 2017年12月27日
特許 6249626 自動分析装置 2017年12月20日
特許 6249653 自動分析装置 2017年12月20日
特許 6250105 電解質分析装置及び電解質分析方法 2017年12月20日
特許 6251525 荷電粒子線装置 2017年12月20日
特許 6245848 自動分析装置 2017年12月13日
特許 6246393 荷電粒子線装置、設置方法 2017年12月13日
特許 6247064 生体分子計測装置 2017年12月13日

341 件中 1-15 件を表示

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6253477 6254060 6254445 6255152 6255216 6255339 6255448 6255494 6249626 6249653 6250105 6251525 6245848 6246393 6247064

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