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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2021年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2011-237255 | パターン形状検査装置及び検査方法並びにパターンドメディアディスク製造ライン | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-237277 | 核酸分析反応セルおよび核酸分析装置 | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-237596 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2011年11月24日 | |
| 再表 2009-154049 | 自動分析装置 | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-234693 | 核酸検査装置 | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-237683 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-238630 | ガス電界電離イオン源，走査荷電粒子顕微鏡 | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-238400 | 走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡による試料検査方法 | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-237384 | 分析用光学系及びその光学系を用いた分析装置 | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-234639 | 核酸増幅装置及びそれを用いた核酸検査装置 | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-234681 | 核酸配列解析装置に用いられる温度制御装置 | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-237375 | 欠陥検査方法及びその装置 | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-234671 | 核酸抽出装置 | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-237684 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-233721 | 真空処理装置及び真空処理方法 | 2011年11月17日 |
689 件中 61-75 件を表示
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2011-237255 2011-237277 2011-237596 2009-154049 2011-234693 2011-237683 2011-238630 2011-238400 2011-237384 2011-234639 2011-234681 2011-237375 2011-234671 2011-237684 2011-233721
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