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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2012年 出願公開件数ランキング    第54位 709件 下降2011年:第52位 689件)

  2012年 特許取得件数ランキング    第71位 547件 上昇2011年:第98位 350件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2012-230074 分光光度計及びそのスリット条件決定方法 2012年11月22日
特開 2012-226842 荷電粒子顕微鏡装置および画像撮像方法 2012年11月15日
特開 2012-223197 核酸分析方法 2012年11月15日
特開 2012-227334 プラズマ処理方法 2012年11月15日
特開 2012-227160 荷電粒子ビーム用軌道補正器、及び荷電粒子ビーム装置 2012年11月15日
再表 2010-140303 試薬情報を読取不可とする自動分析装置 2012年11月15日
特開 2012-227398 プラズマ処理装置 2012年11月15日
特開 2012-227278 プラズマ処理装置および処理方法 2012年11月15日
再表 2010-137543 核酸分析用デバイス、核酸分析装置、及び核酸分析方法 2012年11月15日
特開 2012-227194 FPDモジュール組立装置及び時間認識方法 2012年11月15日
特開 2012-225768 欠陥分類方法及び欠陥分類システム 2012年11月15日
再表 2010-140460 フロー式粒子画像解析方法及び装置 2012年11月15日
特開 2012-225938 欠陥検査方法および欠陥検査装置 2012年11月15日
特開 2012-222225 プラズマ処理装置 2012年11月12日
特開 2012-221678 電子顕微鏡 2012年11月12日

709 件中 61-75 件を表示

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2012-230074 2012-226842 2012-223197 2012-227334 2012-227160 2010-140303 2012-227398 2012-227278 2010-137543 2012-227194 2012-225768 2010-140460 2012-225938 2012-222225 2012-221678

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