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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2011年出願公開件数ランキング　　　第52位　689件（2010年：第70位　624件）

　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第98位　350件（2010年：第95位　307件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2011-228071	質量分析装置	2011年11月10日
特開 2011-228170	走査電子顕微鏡及びそれを用いた試料の観察方法	2011年11月10日
特開 2011-228072	分析装置、イオン化装置及び分析方法	2011年11月10日
特開 2011-226939	基板検査方法及び装置	2011年11月10日
特開 2011-227768	ステージ装置，それを用いた荷電粒子線装置及び縮小投影露光装置，およびステージ制御方法	2011年11月10日
特開 2011-228386	半導体装置を製造するプラズマ処理装置及びプラズマ処理方法	2011年11月10日
特開 2011-226889	自動分析装置及び自動分析方法	2011年11月10日
特開 2011-228475	稠密スロット透過型電極体を用いたプラズマ処理装置	2011年11月10日
特開 2011-227213	プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のアライメント方法、及び表示用パネル基板の製造方法	2011年11月10日
特開 2011-228223	透過電子顕微鏡、および視野ずれ補正方法	2011年11月10日
特開 2011-226909	自動分析装置及び自動分析方法	2011年11月10日
特開 2011-228534	エッチング方法およびエッチング装置	2011年11月10日
特開 2011-228436	プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法	2011年11月10日
特開 2011-221245	プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板位置決め方法、及び表示用パネル基板の製造方法、並びに光学式変位計を用いた微小角度検出方法	2011年11月 4日
特開 2011-220712	高さ測定方法及び装置	2011年11月 4日

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2011-228071 2011-228170 2011-228072 2011-226939 2011-227768 2011-228386 2011-226889 2011-228475 2011-227213 2011-228223 2011-226909 2011-228534 2011-228436 2011-221245 2011-220712

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2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
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2012年特許出願件数	2012年特許取得件数

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