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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2025年6月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5554852 | 試料検査装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5560285 | 試料処理装置、試料処理システム及び試料の処理方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5560148 | 検査装置、及び位置決め装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5548244 | 検査計測装置および検査計測方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5552298 | 細菌コロニ釣菌装置及びその前処理方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5548652 | 荷電粒子ビーム装置 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5550862 | 欠陥分類装置及び分類調整方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5547932 | 成膜装置 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5548151 | パターン形状検査方法及びその装置 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5553489 | 走査形電子顕微鏡、および走査形電子顕微鏡を用いた撮像方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5547878 | 半導体加工方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5547942 | 欠陥観察方法及びその装置 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5553716 | 欠陥検査方法及びその装置 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5548780 | 画像処理装置およびコンピュータプログラム | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5542095 | 検査装置 | 2014年 7月 9日 |
625 件中 166-180 件を表示
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5554852 5560285 5560148 5548244 5552298 5548652 5550862 5547932 5548151 5553489 5547878 5547942 5553716 5548780 5542095
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