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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5542650 | 校正用標準部材およびその作製方法並びにそれを用いた走査電子顕微鏡 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5542749 | 試料の作製装置，作製方法、及びそれを用いた荷電粒子線装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5544200 | 自動分析装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5542095 | 検査装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5542055 | 質量分析装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5542478 | 荷電粒子線顕微鏡 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5544176 | 検査装置および検査方法 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5544308 | 自動分析装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5546644 | 油中のポリ塩化ビフェニルの分析方法 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5544238 | 試料ステージ | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5544419 | 走査型電子顕微鏡 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5544187 | 荷電粒子線装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5542537 | 荷電粒子線装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5544236 | 試料ステージ装置、及び荷電粒子線装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5544344 | 欠陥観察方法及び欠陥観察装置 | 2014年 7月 9日 |
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5542650 5542749 5544200 5542095 5542055 5542478 5544176 5544308 5546644 5544238 5544419 5544187 5542537 5544236 5544344
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