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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年12月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5520385 | 検体検査自動化システムおよびその制御方法 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5517807 | 分析装置 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5517467 | 自動分析装置 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5517160 | 自動分析装置 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5520342 | 検査装置 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5519786 | 検体検査自動化システム | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5519572 | 磁気力顕微鏡用カンチレバー | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5520644 | ディスククランプ機構、磁気ヘッド及び磁気ディスク検査装置 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5520491 | 試料ステージ装置 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5519421 | 走査型電子顕微鏡及びその制御方法 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5517584 | 電子顕微鏡 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5517559 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置における三次元情報の表示方法 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5511834 | 検体搬送システム | 2014年 6月 4日 | |
| 特許 5511025 | 検体処理自動化システム | 2014年 6月 4日 | |
| 特許 5509255 | 試料検査装置及び吸収電流像の作成方法 | 2014年 6月 4日 |
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5520385 5517807 5517467 5517160 5520342 5519786 5519572 5520644 5520491 5519421 5517584 5517559 5511834 5511025 5509255
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12月6日(金) -
12月2日(月) - 滋賀 草津市
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12月10日(火) - 東京 港区
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12月11日(水) - 東京 港区
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12月11日(水) -
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12月12日(木) - 東京 千代田
12月12日(木) -
12月12日(木) -
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12月13日(金) - 東京 品川
12月13日(金) -
12月13日(金) -
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