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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2011年 出願公開件数ランキング    第52位 689件 上昇2010年:第70位 624件)

  2011年 特許取得件数ランキング    第98位 350件 下降2010年:第95位 307件)

(ランキング更新日:2021年12月2日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 4839127 校正用標準部材及びこれを用いた校正方法および電子ビーム装置 2011年12月21日
特許 4843399 検査装置及び検査方法 2011年12月21日
特許 4839254 質量分析データ解析方法 2011年12月21日
特許 4842875 電子顕微鏡 2011年12月21日
特許 4843250 質量分析を用いた物質の同定方法 2011年12月21日
特許 4842782 欠陥レビュー方法および装置 2011年12月21日
特許 4842533 不良検査装置 2011年12月21日
特許 4843406 キャピラリ電気泳動分析装置 2011年12月21日
特許 4841407 電子顕微鏡 2011年12月21日
特許 4842648 試薬ボトル 2011年12月21日
特許 4838086 化学発光測定装置 2011年12月14日 共同出願
特許 4836875 修飾ペプチドの分析方法および装置 2011年12月14日
特許 4838736 プラズマ処理装置 2011年12月14日
特許 4832222 プラズマ処理装置 2011年12月 7日
特許 4832375 試料像形成方法及び荷電粒子線装置 2011年12月 7日

350 件中 16-30 件を表示

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4839127 4843399 4839254 4842875 4843250 4842782 4842533 4843406 4841407 4842648 4838086 4836875 4838736 4832222 4832375

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