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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2011年 出願公開件数ランキング    第52位 689件 上昇2010年:第70位 624件)

  2011年 特許取得件数ランキング    第98位 350件 下降2010年:第95位 307件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 4832375 試料像形成方法及び荷電粒子線装置 2011年12月 7日
特許 4832222 プラズマ処理装置 2011年12月 7日
特許 4832005 磁場遮蔽装置及び磁場計測装置 2011年12月 7日
特許 4825469 半導体デバイスの欠陥レビュー方法及びその装置 2011年11月30日
特許 4825530 パターン欠陥検査方法および装置 2011年11月30日
特許 4825734 異種計測装置間のキャリブレーション方法及びそのシステム 2011年11月30日
特許 4825021 レポートフォーマット設定方法、レポートフォーマット設定装置、及び欠陥レビューシステム 2011年11月30日
特許 4825442 臨床検査用自動分析装置の精度管理方法、及び自動分析装置 2011年11月30日
特許 4825731 キャピラリ電気泳動装置 2011年11月30日
特許 4825689 真空処理装置 2011年11月30日
特許 4827512 炭素材料の精製方法及びその精製装置 2011年11月30日
特許 4824987 パターンマッチング装置およびそれを用いた半導体検査システム 2011年11月30日
特許 4828162 電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 2011年11月30日
特許 4822682 イコライザ回路、高周波アナログ信号伝送路並びにハードディスクの検査装置 2011年11月24日
特許 4814384 弁体 2011年11月16日

350 件中 31-45 件を表示

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4832375 4832222 4832005 4825469 4825530 4825734 4825021 4825442 4825731 4825689 4827512 4824987 4828162 4822682 4814384

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