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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2011年 出願公開件数ランキング    第52位 689件 上昇2010年:第70位 624件)

  2011年 特許取得件数ランキング    第98位 350件 下降2010年:第95位 307件)

(ランキング更新日:2022年8月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 4790435 3次元液体クロマトグラフィ 2011年10月12日
特許 4791141 電子線式寸法計測装置及びそれを用いた寸法計測方法 2011年10月12日
特許 4791267 欠陥検査システム 2011年10月12日
特許 4789651 シミュレーション装置、シミュレーションプログラム及びシミュレーション方法 2011年10月12日
特許 4786589 円周方向のスクラッチ欠陥検出方法および磁気ディスクサーテファイア 2011年10月 5日
特許 4787698 画像表示方法 2011年10月 5日
特許 4782579 タンデム型質量分析システム及び方法 2011年 9月28日
特許 4781294 パターン形成装置及びこれらを用いた表示用パネル製造方法 2011年 9月28日
特許 4782585 プラズマエッチング装置及び方法 2011年 9月28日
特許 4782596 プラズマ処理方法 2011年 9月28日
特許 4782957 基板の配線パターン切断方法及び装置 2011年 9月28日
特許 4778778 半導体デバイスのモニタリング方法およびモニタリング装置 2011年 9月21日
特許 4778408 ディスクのチャック機構およびディスクキャリア 2011年 9月21日
特許 4778748 液体クロマトグラフ装置 2011年 9月21日
特許 4778755 欠陥検査方法及びこれを用いた装置 2011年 9月21日

350 件中 91-105 件を表示

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4790435 4791141 4791267 4789651 4786589 4787698 4782579 4781294 4782585 4782596 4782957 4778778 4778408 4778748 4778755

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