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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2023年3月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5592863 | 真空処理装置および被処理体の搬送方法 | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5591378 | ガス電界電離イオン源、イオンビーム装置 | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5593209 | 検査装置 | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5587965 | 化学分析装置 | 2014年 9月10日 | |
| 特許 5587265 | 検査装置 | 2014年 9月10日 | |
| 特許 5589089 | パターンの判定装置、及びコンピュータプログラム | 2014年 9月10日 | |
| 特許 5589023 | 半導体ウェハの異物検査装置 | 2014年 9月10日 | |
| 特許 5588529 | プラズマ処理方法 | 2014年 9月10日 | |
| 特許 5588944 | 走査型電子顕微鏡 | 2014年 9月10日 | |
| 特許 5588481 | ネットワーク装置、ネットワーク装置の制御方法及びネットワークシステム | 2014年 9月10日 | 共同出願 |
| 特許 5587862 | 化学分析装置 | 2014年 9月10日 | 共同出願 |
| 特許 5588759 | 試料ステージ及び試料ステージを備えた測定，検査，観察装置 | 2014年 9月10日 | |
| 特許 5587816 | 核酸分析デバイス、及び核酸分析装置 | 2014年 9月10日 | |
| 特許 5586286 | プラズマ処理装置 | 2014年 9月10日 | |
| 特許 5586889 | 粒子画像解析装置 | 2014年 9月10日 |
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5592863 5591378 5593209 5587965 5587265 5589089 5589023 5588529 5588944 5588481 5587862 5588759 5587816 5586286 5586889
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