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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5579374 | 半導体加工方法 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5579574 | 欠陥検査方法およびその装置 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5581007 | 加工装置、及び試料加工方法 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5577160 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5576406 | 荷電粒子線装置 | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5577174 | 試料の核酸増幅検出方法及び装置 | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5576050 | リニア浮上式高速鉄道ガイドウェイ走行路検査装置及び検査方法 | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5576135 | パターン検査方法及びその装置 | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5572428 | 検査装置および検査方法 | 2014年 8月13日 | |
| 特許 5572329 | プラズマ処理装置およびプラズマ生成装置 | 2014年 8月13日 | |
| 特許 5572293 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2014年 8月13日 | |
| 特許 5571969 | 欠陥検査方法及びその装置 | 2014年 8月13日 | |
| 特許 5568444 | 欠陥検査方法、微弱光検出方法および微弱光検出器 | 2014年 8月 6日 | |
| 特許 5568277 | パターンマッチング方法、及びパターンマッチング装置 | 2014年 8月 6日 | |
| 特許 5568456 | 荷電粒子線装置 | 2014年 8月 6日 |
625 件中 121-135 件を表示
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5579374 5579574 5581007 5577160 5576406 5577174 5576050 5576135 5572428 5572329 5572293 5571969 5568444 5568277 5568456
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