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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第547位 66件 (2010年:第406位 107件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第532位 60件 (2010年:第555位 49件)
(ランキング更新日:2024年9月27日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-249273 | 走査電子顕微鏡 | 2011年12月 8日 | |
特開 2011-249069 | 質量分析装置 | 2011年12月 8日 | |
特開 2011-243409 | 球面収差補正装置および球面収差補正方法 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-243483 | 試料保持体、検査装置、及び検査方法 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-238387 | エミッタアレイを用いた電子プローブ装置 | 2011年11月24日 | |
特開 2011-233398 | 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置のキャリブレーション方法 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-233466 | 電子顕微鏡の分解能評価方法、プログラム、及び情報記憶媒体 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-222222 | ハイブリッドプラズマ発生装置 | 2011年11月 4日 | |
特開 2011-210401 | 電子銃 | 2011年10月20日 | |
特開 2011-210400 | 荷電粒子線装置 | 2011年10月20日 | |
特開 2011-210698 | タンデム型飛行時間型質量分析装置 | 2011年10月20日 | |
特開 2011-209118 | X線顕微鏡及びX線を用いた顕微方法。 | 2011年10月20日 | |
特開 2011-198534 | 電界脱離イオン源を備えた質量分析装置 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-187267 | 試料ホルダ及びマルチビームシステム | 2011年 9月22日 | |
特開 2011-181504 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 | 2011年 9月15日 |
66 件中 1-15 件を表示
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2011-249273 2011-249069 2011-243409 2011-243483 2011-238387 2011-233398 2011-233466 2011-222222 2011-210401 2011-210400 2011-210698 2011-209118 2011-198534 2011-187267 2011-181504
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