特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社アドバンテスト

※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2012年出願公開件数ランキング　　　第193位　230件（2011年：第199位　212件）

　■　2012年特許取得件数ランキング　　　第199位　196件（2011年：第170位　211件）

（ランキング更新日：2025年2月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2012-198240	プッシャ、プッシャユニットおよび半導体試験装置	2012年10月18日
特開 2012-196117	ワイヤレス給電装置、受電装置および給電システム	2012年10月11日
特開 2012-191412	Ａ／Ｄコンバータの試験装置および試験方法	2012年10月 4日
特開 2012-191268	ワイヤレス電力送信機、無線タグおよびワイヤレス給電システム	2012年10月 4日
再表 2010-109647	マルチコラム電子線描画用マスク保持装置及びマルチコラム電子線描画装置	2012年 9月27日
再表 2010-109655	電子線描画装置及び電子線描画方法	2012年 9月27日
再表 2010-109739	製造装置、製造方法およびパッケージデバイス	2012年 9月27日
再表 2010-109740	試験装置、試験方法および製造方法	2012年 9月27日
再表 2010-109847	試験装置、キャリブレーション方法、および、プログラム	2012年 9月27日
特開 2012-185036	試験装置	2012年 9月27日
再表 2010-106621	マルチコラム電子線描画装置及びその電子線軌道調整方法	2012年 9月20日
再表 2010-109574	ステージ装置及びステージクリーニング方法	2012年 9月20日
再表 2010-103786	試験装置および試験方法	2012年 9月13日
特開 2012-177654	パターン高さ測定装置及びパターン高さ測定方法	2012年 9月13日	共同出願
特開 2012-174804	半導体装置、試験装置、および製造方法	2012年 9月10日

230 件中 46-60 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2012-198240 2012-196117 2012-191412 2012-191268 2010-109647 2010-109655 2010-109739 2010-109740 2010-109847 2012-185036 2010-106621 2010-109574 2010-103786 2012-177654 2012-174804

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社アドバンテストの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数