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富士通セミコンダクター株式会社

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　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第64位　612件（2012年：第59位　620件）

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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2013-258384	半導体装置の製造方法	2013年12月26日
特開 2013-258220	半導体装置の製造方法及び半導体装置の欠陥検査装置	2013年12月26日
特開 2013-258266	半導体装置	2013年12月26日
特開 2013-254793	半導体装置およびその製造方法	2013年12月19日
特開 2013-254531	半導体メモリおよびシステム	2013年12月19日
特開 2013-254436	動的再構成回路，半導体集積回路および動的再構成回路の制御方法	2013年12月19日
特開 2013-253881	パターン検査方法及びパターン検査装置	2013年12月19日
特開 2013-255092	画像データ圧縮符号化装置、画像データ圧縮符号化方法、及び、画像データ圧縮符号化プログラム	2013年12月19日
特開 2013-251412	半導体パッケージ用の蓋、及び半導体パッケージ	2013年12月12日
特開 2013-251807	電源スイッチ回路	2013年12月12日
特開 2013-251869	入力バッファ回路及び半導体装置	2013年12月12日
特開 2013-251437	半導体装置	2013年12月12日
特開 2013-251392	半導体装置とその製造方法	2013年12月12日
特開 2013-247335	半導体装置の製造方法	2013年12月 9日
特開 2013-247284	半導体装置の検査装置及び半導体装置の検査方法	2013年12月 9日

349 件中 1-15 件を表示

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2013-258384 2013-258220 2013-258266 2013-254793 2013-254531 2013-254436 2013-253881 2013-255092 2013-251412 2013-251807 2013-251869 2013-251437 2013-251392 2013-247335 2013-247284

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