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富士通セミコンダクター株式会社

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　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第64位　612件（2012年：第59位　620件）

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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2013-105920	半導体素子の測定方法及びプローブカード	2013年 5月30日
特開 2013-104667	半導体装置の検査装置及び検査方法	2013年 5月30日
特開 2013-105322	データ転送システム、データ転送方法、受信回路、及び受信方法	2013年 5月30日
特開 2013-105277	管理プログラム、管理方法、および管理装置	2013年 5月30日
特開 2013-105514	半導体メモリ、半導体メモリの動作方法、システムおよび半導体メモリの製造方法	2013年 5月30日
特開 2013-105919	半導体ウェハ及び半導体装置の製造方法	2013年 5月30日
特開 2013-106273	画像処理装置、及び画像処理方法	2013年 5月30日
特開 2013-101744	ヒューズ素子読み出し回路	2013年 5月23日
特開 2013-102075	エッチング装置	2013年 5月23日
特開 2013-98374	半導体装置の製造方法	2013年 5月20日
特開 2013-92382	論理回路の故障検出方法、テスト回路挿入方法、テスト回路挿入装置および半導体集積回路	2013年 5月16日
特開 2013-93733	バイアス回路およびそれを有するアンプ回路	2013年 5月16日
特開 2013-93876	広帯域無線接続通信装置	2013年 5月16日
特開 2013-89269	半導体記憶装置	2013年 5月13日
特開 2013-89827	半導体装置の製造方法	2013年 5月13日

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2013-105920 2013-104667 2013-105322 2013-105277 2013-105514 2013-105919 2013-106273 2013-101744 2013-102075 2013-98374 2013-92382 2013-93733 2013-93876 2013-89269 2013-89827

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