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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第103位 453件
（
2011年：第93位 464件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第59位 620件
（2011年：第53位 577件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-182702 | リセット回路および半導体装置 | 2012年 9月20日 | |
| 特開 2012-182866 | モータ制御装置、モータ制御装置製造用プログラム、及びモータ制御装置の製造方法 | 2012年 9月20日 | |
| 特開 2012-182638 | アナログデジタル変換器 | 2012年 9月20日 | |
| 特開 2012-182530 | 通信装置，通信方法 | 2012年 9月20日 | |
| 特開 2012-178629 | 出力回路 | 2012年 9月13日 | |
| 特開 2012-178651 | トランジスタの制御回路、トランジスタの制御システム、およびトランジスタの制御方法 | 2012年 9月13日 | |
| 特開 2012-177626 | 半導体装置、試験プログラム、試験方法、および試験装置 | 2012年 9月13日 | |
| 特開 2012-173470 | アクティブマトリクス基板、その製造方法、及び反射型液晶表示装置 | 2012年 9月10日 | |
| 特開 2012-174284 | 書き込み制御回路及び半導体装置 | 2012年 9月10日 | |
| 特開 2012-174123 | 誤書き込み防止回路および半導体装置 | 2012年 9月10日 | |
| 特開 2012-174085 | 基準電圧回路および半導体集積回路 | 2012年 9月10日 | |
| 特開 2012-173201 | 故障診断方法、故障診断装置、テストシステム及びプログラム | 2012年 9月10日 | |
| 特開 2012-175594 | 可変容量回路 | 2012年 9月10日 | |
| 特開 2012-174283 | 書き込み制御回路及び半導体装置 | 2012年 9月10日 | |
| 特開 2012-174998 | 半導体装置 | 2012年 9月10日 |
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2012-182702 2012-182866 2012-182638 2012-182530 2012-178629 2012-178651 2012-177626 2012-173470 2012-174284 2012-174123 2012-174085 2012-173201 2012-175594 2012-174283 2012-174998
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12月6日(金) -
12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
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