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富士通セミコンダクター株式会社

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　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第64位　612件（2012年：第59位　620件）

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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2013-148647	検証方法、検証プログラムおよび検証装置	2013年 8月 1日
特開 2013-149318	半導体メモリ	2013年 8月 1日
特開 2013-149314	半導体記憶装置の内部電圧生成回路、半導体記憶装置、及び半導体システム	2013年 8月 1日
特開 2013-149313	半導体記憶装置	2013年 8月 1日
特開 2013-149856	電気ヒューズ	2013年 8月 1日
特開 2013-149775	半導体装置の製造方法	2013年 8月 1日
特開 2013-149677	半導体装置及びその製造方法	2013年 8月 1日
特開 2013-149640	半導体装置及び半導体装置の製造方法	2013年 8月 1日
特開 2013-150550	電源電圧制御回路及び電源電圧制御方法	2013年 8月 1日
特開 2013-145856	関連付け方法、関連付けプログラム、および関連付け装置	2013年 7月25日	共同出願
特開 2013-145857	関連付け方法、関連付けプログラム、および関連付け装置	2013年 7月25日	共同出願
特開 2013-145896	半導体装置の製造方法	2013年 7月25日
特開 2013-143018	基準電圧生成回路，それを有する発振回路および発振回路の発振周波数の校正方法	2013年 7月22日
特開 2013-143628	半導体装置	2013年 7月22日
特開 2013-143516	多値磁気抵抗メモリおよび多値磁気抵抗メモリの製造方法	2013年 7月22日

349 件中 121-135 件を表示

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2013-148647 2013-149318 2013-149314 2013-149313 2013-149856 2013-149775 2013-149677 2013-149640 2013-150550 2013-145856 2013-145857 2013-145896 2013-143018 2013-143628 2013-143516

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