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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第155位 297件
（
2013年：第144位 349件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第83位 448件
（2013年：第64位 612件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5532578 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5531848 | 半導体装置、半導体集積回路装置、ＳＲＡＭ、Ｄｔ−ＭＯＳトランジスタの製造方法 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5531812 | ＭＯＳトランジスタおよびその製造方法、半導体集積回路装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5531489 | ウェーハ端面の洗浄方法及び装置、並びに洗浄液供給装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5533424 | 集積回路装置及び集積回路装置のスキュー調整方法 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5526572 | 試験装置および試験方法 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5522079 | 書き込み制御回路及び半導体装置 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5527080 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5526875 | 半導体装置およびその製造方法 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5526742 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5526561 | 半導体装置のセルレイアウト方法及び半導体装置 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5521993 | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5521541 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5527251 | 可変容量回路 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5527187 | 半導体装置 | 2014年 6月18日 |
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5532578 5531848 5531812 5531489 5533424 5526572 5522079 5527080 5526875 5526742 5526561 5521993 5521541 5527251 5527187
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