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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第103位 471件
(2012年:第109位 428件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第47位 767件
(2012年:第43位 768件)
(ランキング更新日:2025年2月27日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特表 2013-519229 | 相変化メモリ・セル、形成方法、及び形成装置 | 2013年 5月23日 | |
特表 2013-518135 | フッ素を含まない縮合環複素芳香族光酸発生剤、およびそれを含むレジスト組成物 | 2013年 5月20日 | |
特表 2013-518283 | 分子を検出する半導体デバイスを形成する方法ならびに分子を検出する集積回路、クロマトグラフィ・デバイス及び半導体デバイス | 2013年 5月20日 | |
特表 2013-518335 | コピー機能を操作するための方法、システム、およびコンピュータ・プログラム製品 | 2013年 5月20日 | |
特表 2013-518334 | 映像ストリーム処理のための方法、コンピュータプログラムおよびシステム | 2013年 5月20日 | |
特表 2013-518330 | 非機能要件に基づく仮想マシンの配置の抽象化方法およびシステム | 2013年 5月20日 | |
特開 2013-98541 | 強化された銅−銅接合を有する三次元(3D)集積回路およびその形成方法 | 2013年 5月20日 | |
特表 2013-517113 | ナノ多孔質半透膜及びその製造方法 | 2013年 5月16日 | |
特開 2013-91093 | アンダーフィルとの間で化学的に硬化物を形成する無洗浄フラックス | 2013年 5月16日 | |
特開 2013-93084 | データをシーケンシャルに記録する記憶装置 | 2013年 5月16日 | |
特開 2013-92950 | プログラムのデバッグ方法、デバッグ装置、およびデバッグ支援GUI | 2013年 5月16日 | |
特開 2013-92897 | 仕様検証方法、プログラム及びシステム | 2013年 5月16日 | |
特表 2013-517550 | 個別化されたタグのランク付けのためのシステム、方法、およびコンピュータ・プログラム | 2013年 5月16日 | |
特開 2013-93591 | デバイス、方法、システム(電子デバイスの有効動作範囲を拡大するための過電圧および過電流補償の利用) | 2013年 5月16日 | |
特開 2013-93507 | 半導体チップを3次元積層アセンブリへと多段に形成していく、はんだ接合プロセス | 2013年 5月16日 |
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2013-519229 2013-518135 2013-518283 2013-518335 2013-518334 2013-518330 2013-98541 2013-517113 2013-91093 2013-93084 2013-92950 2013-92897 2013-517550 2013-93591 2013-93507
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2月27日(木) -
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2月27日(木) -
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2月27日(木) -
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3月4日(火) -
3月4日(火) -
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3月5日(水) -
3月5日(水) -
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3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
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