ホーム > 特許ランキング > 株式会社ニューフレアテクノロジー > 2013年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(株式会社ニューフレアテクノロジー)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2013年 出願公開件数ランキング 第410位 100件
(2012年:第343位 120件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第439位 82件
(2012年:第464位 75件)
(ランキング更新日:2025年2月28日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5123754 | 描画装置及び荷電粒子ビームの焦点合わせ方法 | 2013年 1月23日 | |
特許 5123561 | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 | 2013年 1月23日 | |
特許 5123730 | 偏向アンプのセトリング時間検査方法及び偏向アンプの故障判定方法 | 2013年 1月23日 | |
特許 5121524 | ビーム照射位置誤差の検出方法およびビーム照射位置誤差の補正方法 | 2013年 1月16日 | |
特許 5121291 | データ転送システム | 2013年 1月16日 | |
特許 5121642 | マスク検査装置及びマスク検査方法 | 2013年 1月16日 | |
特許 5111798 | 描画装置、及び描画装置における描画方法 | 2013年 1月 9日 |
82 件中 76-82 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5123754 5123561 5123730 5121524 5121291 5121642 5111798
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ニューフレアテクノロジーの知財の動向チェックに便利です。
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
Floor 16, Tower A, InDo Building, A48 Zhichun Road, Haidian District, Beijing 100098, P.R. China 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定
京都市東山区泉涌寺門前町26番地 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング