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株式会社キーエンス

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  2012年 出願公開件数ランキング    第385位 107件 上昇2011年:第601位 58件)

  2012年 特許取得件数ランキング    第306位 119件 上昇2011年:第428位 77件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2012-155009 共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラム 2012年 8月16日
特開 2012-155011 顕微鏡システム、焦点位置検出方法および焦点位置検出プログラム 2012年 8月16日
特開 2012-155010 顕微鏡システム、表面状態観察方法および表面状態観察プログラム 2012年 8月16日
特開 2012-155857 除電器 2012年 8月16日
特開 2012-148317 レーザー加工装置 2012年 8月 9日
特開 2012-148324 レーザー加工装置 2012年 8月 9日
特開 2012-148309 印字品質評価システム、レーザマーキング装置、印字条件設定装置、印字品質評価装置、印字条件設定プログラム、印字品質評価プログラム、コンピュータで読み取り可能な記録媒体 2012年 8月 9日
特開 2012-150335 共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラム 2012年 8月 9日
特開 2012-148313 レーザー加工装置 2012年 8月 9日
特開 2012-148307 印字品質評価システム、レーザマーキング装置、印字条件設定装置、印字品質評価装置、印字条件設定プログラム、印字品質評価プログラム、コンピュータで読み取り可能な記録媒体 2012年 8月 9日
特開 2012-148312 レーザー加工装置 2012年 8月 9日
特開 2012-148316 レーザー加工装置 2012年 8月 9日
特開 2012-148315 レーザー加工装置 2012年 8月 9日
特開 2012-148314 レーザー加工装置 2012年 8月 9日
特開 2012-148308 印字品質評価システム、レーザマーキング装置、印字条件設定装置、印字品質評価装置、印字条件設定プログラム、印字品質評価プログラム、コンピュータで読み取り可能な記録媒体 2012年 8月 9日

107 件中 16-30 件を表示

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2012-155009 2012-155011 2012-155010 2012-155857 2012-148317 2012-148324 2012-148309 2012-150335 2012-148313 2012-148307 2012-148312 2012-148316 2012-148315 2012-148314 2012-148308

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