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株式会社キーエンス

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  2012年 出願公開件数ランキング    第385位 107件 上昇2011年:第601位 58件)

  2012年 特許取得件数ランキング    第306位 119件 上昇2011年:第428位 77件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2012-64173 光学情報読取装置用の設定支援装置 2012年 3月29日
特開 2012-51032 レーザ加工装置、レーザ加工データ設定装置、レーザ加工データ設定方法、レーザ加工条件設定プログラム、コンピュータで読み取り可能な記録媒体及び記録した機器 2012年 3月15日
特開 2012-53059 光電センサ及びその設定方法 2012年 3月15日
特開 2012-44680 撮像装置 2012年 3月 1日
特開 2012-37257 測定設定データ作成装置、測定設定データ作成方法及び測定設定データ作成装置用のプログラム 2012年 2月23日
特開 2012-32344 画像測定装置、画像測定方法及び画像測定装置用のプログラム 2012年 2月16日
特開 2012-32341 測定設定データ作成装置、測定設定データ作成方法、測定設定データ作成装置用のプログラム及び寸法測定装置 2012年 2月16日
特開 2012-32323 画像測定装置、画像測定方法及び画像測定装置用のプログラム 2012年 2月16日
特開 2012-32224 寸法測定装置、寸法測定方法及び寸法測定装置用のプログラム 2012年 2月16日
特開 2012-34392 撮像装置 2012年 2月16日
特開 2012-21909 画像処理装置及び外観検査方法 2012年 2月 2日
特開 2012-21914 画像処理装置及び外観検査方法 2012年 2月 2日
特開 2012-21919 画像処理装置、画像処理方法及びコンピュータプログラム 2012年 2月 2日
特開 2012-21856 干渉膜厚計 2012年 2月 2日
特開 2012-18818 拡大観察装置及び拡大観察方法、拡大観察用プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 2012年 1月26日

107 件中 76-90 件を表示

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2012-64173 2012-51032 2012-53059 2012-44680 2012-37257 2012-32344 2012-32341 2012-32323 2012-32224 2012-34392 2012-21909 2012-21914 2012-21919 2012-21856 2012-18818

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