特開2023-37489ワイヤロープ検査方法、ワイヤロープ検査システム、および、ワイヤロープ検査装置
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023037489
(43)【公開日】2023-03-15
(54)【発明の名称】ワイヤロープ検査方法、ワイヤロープ検査システム、および、ワイヤロープ検査装置
(51)【国際特許分類】
G01N 27/82 20060101AFI20230308BHJP
B66B 5/00 20060101ALI20230308BHJP
【ＦＩ】
G01N27/82
B66B5/00 G
【審査請求】未請求
【請求項の数】10
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2021144274
(22)【出願日】2021-09-03
(71)【出願人】
【識別番号】000001993
【氏名又は名称】株式会社島津製作所
(74)【代理人】
【識別番号】100104433
【弁理士】
【氏名又は名称】宮園 博一
(74)【代理人】
【識別番号】100202728
【弁理士】
【氏名又は名称】三森 智裕
(72)【発明者】
【氏名】戸波 寛道
【テーマコード（参考）】
2G053
3F304
【Ｆターム（参考）】
2G053AA11
2G053AA14
2G053AB01
2G053BA03
2G053BA14
2G053BB03
2G053BB11
2G053BC02
2G053BC14
2G053BC20
2G053CA03
2G053CB24
2G053DA02
2G053DB20
3F304BA08
3F304BA09
(57)【要約】
【課題】ワイヤロープに固有のノイズとワイヤロープの異常部分とを区別することにより、ワイヤロープの異常部分を精度よく判定することが可能なワイヤロープ検査方法、ワイヤロープ検査システム、および、ワイヤロープ検査装置を提供する。
【解決手段】このワイヤロープ検査方法は、磁束波形に対して１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する。そして、１回微分波形の正の成分または負の成分に対して２回目の微分処理を実行することによって２回微分波形を取得する。そして、２回微分波形の正の成分と、負の成分の絶対値とを、ワイヤロープＷの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって加算波形を生成する。そして、生成された加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合にワイヤロープＷの異常部分を判定する。
【選択図】図１３
【解決手段】このワイヤロープ検査方法は、磁束波形に対して１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する。そして、１回微分波形の正の成分または負の成分に対して２回目の微分処理を実行することによって２回微分波形を取得する。そして、２回微分波形の正の成分と、負の成分の絶対値とを、ワイヤロープＷの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって加算波形を生成する。そして、生成された加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合にワイヤロープＷの異常部分を判定する。
【選択図】図１３
【特許請求の範囲】
【請求項1】
検査対象であるワイヤロープに対して磁界を印加するステップと、
前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得するステップと、
取得された前記検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得するステップと、
取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得するステップと、
取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とを、前記ワイヤロープの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成するステップと、
生成された前記加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、前記ワイヤロープの前記異常部分を判定するステップと、を備える、ワイヤロープ検査方法。
前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得するステップと、
取得された前記検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得するステップと、
取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得するステップと、
取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とを、前記ワイヤロープの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成するステップと、
生成された前記加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、前記ワイヤロープの前記異常部分を判定するステップと、を備える、ワイヤロープ検査方法。
【請求項2】
前記１回微分波形を取得するステップは、前記磁束波形に対して、所定の第１微分区間による前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含み、
前記２回微分波形を取得するステップは、前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行することによって取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、所定の第２微分区間による前記２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含む、請求項１に記載のワイヤロープ検査方法。
前記２回微分波形を取得するステップは、前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行することによって取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、所定の第２微分区間による前記２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含む、請求項１に記載のワイヤロープ検査方法。
【請求項3】
前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップは、予め取得された前記ワイヤロープの前記異常部分を示す信号波形である異常波形に基づいて設定された前記第１微分区間による前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含み、
前記２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップは、前記異常波形に基づいて設定された前記第２微分区間による前記２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含む、請求項２に記載のワイヤロープ検査方法。
前記２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップは、前記異常波形に基づいて設定された前記第２微分区間による前記２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含む、請求項２に記載のワイヤロープ検査方法。
【請求項4】
前記加算波形を生成するステップよりも前に、予め取得された前記ワイヤロープの前記異常部分を示す信号波形である異常波形に基づいて、前記加算波形を生成するためのシフト量を予め設定するステップをさらに備え、
前記加算波形を生成するステップは、前記２回微分波形の正の成分と、前記２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方を、予め設定された前記シフト量に基づいて時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方に加算することによって、前記加算波形を生成するステップを含む、請求項１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
前記加算波形を生成するステップは、前記２回微分波形の正の成分と、前記２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方を、予め設定された前記シフト量に基づいて時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方に加算することによって、前記加算波形を生成するステップを含む、請求項１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
【請求項5】
前記加算波形を生成するステップよりも前に、
取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方を、所定のシフト量変更範囲内においてシフト量を変更させながら時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方に加算することによって、複数の予備加算波形を生成するステップを含み、
前記加算波形を生成するステップは、生成された前記複数の予備加算波形の各々に基づく最大値が最も大きい前記予備加算波形の前記シフト量に基づいて、前記２回微分波形の正の成分と、前記２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方を、前記ワイヤロープの前記異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方に加算することによって、前記加算波形を生成するステップを含む、請求項１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方を、所定のシフト量変更範囲内においてシフト量を変更させながら時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方に加算することによって、複数の予備加算波形を生成するステップを含み、
前記加算波形を生成するステップは、生成された前記複数の予備加算波形の各々に基づく最大値が最も大きい前記予備加算波形の前記シフト量に基づいて、前記２回微分波形の正の成分と、前記２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方を、前記ワイヤロープの前記異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方に加算することによって、前記加算波形を生成するステップを含む、請求項１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
【請求項6】
前記１回微分波形を取得するステップよりも前に、検査対象である前記ワイヤロープの磁束の変化を予め検出することによって取得された基準となる基準検出信号と、取得された前記検出信号との差分に基づいて前記磁束波形を生成するステップをさらに備える、請求項１～５のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
【請求項7】
前記２回微分波形を取得するステップよりも前に、前記磁束波形の形状に基づいて前記１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出するステップをさらに備える、請求項１～６のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
【請求項8】
前記２回微分波形を取得するステップよりも前に、前記１回微分波形に基づく値と所定の抽出判定しきい値との比較に基づいて、前記１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出するステップをさらに備える、請求項１～６のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
【請求項9】
検査対象であるワイヤロープの磁束の変化を検出するワイヤロープ検査装置と、
前記ワイヤロープ検査装置による前記ワイヤロープの測定結果に基づいて、前記ワイヤロープの異常部分を判定する処理を実行する処理装置と、を備え、
前記ワイヤロープ検査装置は、前記ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得する検出部と、を含み、
前記処理装置は、
前記検出部により取得された前記検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する１回目微分処理部と、
前記１回目微分処理部により取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する２回目微分処理部と、
前記２回目微分処理部により取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とを、前記ワイヤロープの前記異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成する加算処理部と、
前記加算処理部により生成された前記加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、前記ワイヤロープの前記異常部分を判定する判定処理部と、を含む、ワイヤロープ検査システム。
前記ワイヤロープ検査装置による前記ワイヤロープの測定結果に基づいて、前記ワイヤロープの異常部分を判定する処理を実行する処理装置と、を備え、
前記ワイヤロープ検査装置は、前記ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得する検出部と、を含み、
前記処理装置は、
前記検出部により取得された前記検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する１回目微分処理部と、
前記１回目微分処理部により取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する２回目微分処理部と、
前記２回目微分処理部により取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とを、前記ワイヤロープの前記異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成する加算処理部と、
前記加算処理部により生成された前記加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、前記ワイヤロープの前記異常部分を判定する判定処理部と、を含む、ワイヤロープ検査システム。
【請求項10】
検査対象であるワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、
前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得する検出部と、
前記検出部により取得された前記検出信号に基づいて、前記ワイヤロープの異常部分を判定する処理を実行する処理部と、を備え、
前記処理部は、
前記検出部により取得された前記検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する１回目微分処理部と、
前記１回目微分処理部により取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する２回目微分処理部と、
前記２回目微分処理部により取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とを、前記ワイヤロープの前記異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成する加算処理部と、
前記加算処理部により生成された前記加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、前記ワイヤロープの前記異常部分を判定する判定処理部と、を含む、ワイヤロープ検査装置。
前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得する検出部と、
前記検出部により取得された前記検出信号に基づいて、前記ワイヤロープの異常部分を判定する処理を実行する処理部と、を備え、
前記処理部は、
前記検出部により取得された前記検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する１回目微分処理部と、
前記１回目微分処理部により取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する２回目微分処理部と、
前記２回目微分処理部により取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とを、前記ワイヤロープの前記異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成する加算処理部と、
前記加算処理部により生成された前記加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、前記ワイヤロープの前記異常部分を判定する判定処理部と、を含む、ワイヤロープ検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、ワイヤロープ検査方法、ワイヤロープ検査システム、および、ワイヤロープ検査装置に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、スチールワイヤロープの磁束の変化を検知する検査装置が知られている（たとえば、特許文献１参照）。
【0003】
上記特許文献１に記載されている検査装置は、ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルを備える。この検知コイルは、２つのコイルからなる差動コイルとなっている。差動コイルによる検知信号は、傷などのない部分では略ゼロとなり、傷などのある部分ではゼロよりも大きい値を持つ。上記特許文献１に記載されている検査装置は、検知コイルからの検知信号の大きさに基づいて、ワイヤロープの傷などを判定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】国際公開第２０１８／１３８８５０号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
ここで、上記特許文献１には記載されていないが、検知コイル（検出部）によって検知されたワイヤロープの磁束に基づいてワイヤロープの異常を判定する場合には、ワイヤロープの形状などに起因して検出される磁束（磁気特性）は、一定とならず固有の磁気特性の変化を有する。この固有の磁気特性の変化は、検出部からの検出信号（検知信号）にノイズとして含まれる。このノイズの信号と異常部分の信号との差異が小さいことに起因して、ワイヤロープの異常部分の検出の精度が低下する。そのため、ワイヤロープに固有のノイズとワイヤロープの異常部分とを区別することによって、ワイヤロープの異常部分を精度よく判定することが望まれている。
【0006】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、ワイヤロープに固有のノイズとワイヤロープの異常部分とを区別することにより、ワイヤロープの異常部分を精度よく判定することが可能なワイヤロープ検査方法、ワイヤロープ検査システム、および、ワイヤロープ検査装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
上記目的を達成するために、この発明の第１の局面におけるワイヤロープ検査方法は、検査対象であるワイヤロープに対して磁界を印加するステップと、ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、磁界が印加されたワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得するステップと、取得された検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得するステップと、取得された１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得するステップと、取得された２回微分波形の正の成分と、取得された２回微分波形の負の成分の絶対値とを、ワイヤロープの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成するステップと、生成された加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、ワイヤロープの異常部分を判定するステップと、を備える。なお、ワイヤロープの「異常部分」とは、素線断線、キンク、錆、異物の付着など、ワイヤロープの断面積または組成の変化が発生した部分を含む広い概念である。
【0008】
この発明の第２の局面におけるワイヤロープ検査システムは、検査対象であるワイヤロープの磁束の変化を検出するワイヤロープ検査装置と、ワイヤロープ検査装置によるワイヤロープの測定結果に基づいて、ワイヤロープの異常部分を判定する処理を実行する処理装置と、を備え、ワイヤロープ検査装置は、ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、励磁部により磁界が印加されたワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得する検出部と、を含み、処理装置は、検出部により取得された検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する１回目微分処理部と、１回目微分処理部により取得された１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する２回目微分処理部と、２回目微分処理部により取得された２回微分波形の正の成分と、取得された２回微分波形の負の成分の絶対値とを、ワイヤロープの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成する加算処理部と、加算処理部により生成された加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、ワイヤロープの異常部分を判定する判定処理部と、を含む。
【0009】
この発明の第３の局面におけるワイヤロープ検査装置は、検査対象であるワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、励磁部により磁界が印加されたワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得する検出部と、検出部により取得された検出信号に基づいて、ワイヤロープの異常部分を判定する処理を実行する処理部と、を備え、処理部は、検出部により取得された検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する１回目微分処理部と、１回目微分処理部により取得された１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する２回目微分処理部と、２回目微分処理部により取得された２回微分波形の正の成分と、取得された２回微分波形の負の成分の絶対値とを、ワイヤロープの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成する加算処理部と、加算処理部により生成された加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、ワイヤロープの異常部分を判定する判定処理部と、を含む。
【発明の効果】
【0010】
本発明の第１の局面におけるワイヤロープ検査方法、第２の局面におけるワイヤロープ検査システム、および、第３の局面におけるワイヤロープ検査装置では、上記のように、取得された検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する。そして、取得された１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する。ここで、磁束波形の形状のうちの異常部分に対応する部分の形状は、異常部分の種類（素線断線、キンク、錆、異物の付着など）によって、右上がり、または、右下がりのいずれかの形状を有する。そのため、１回微分波形のうちの異常部分に対応する波形は、異常部分の種類によって、正の成分、または、負の成分のいずれかに含まれる。たとえば、異常部分が断線である場合には、異常部分に対応する波形の形状は右上がりとなる。したがって、異常部分が断線である場合には、１回微分波形のうちの異常部分に対応する部分の波形は、１回微分波形のうちの正の成分のみに含まれる。これに対して、本発明では、取得された１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって２回微分波形を取得するので、異常部分の種類に対応するように抽出された正の成分または負の成分に対してのみ２回目の微分処理を実行することができる。そのため、異常部分が含まれずノイズのみが含まれる成分の波形をキャンセルした状態で２回目の微分処理を実行することができる。そして、本発明では、上記のように、取得された２回微分波形の正の成分と、取得された２回微分波形の負の成分の絶対値とを、ワイヤロープの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成する。これにより、異常部分が含まれずノイズのみが含まれる成分の波形をキャンセルした状態で取得された２回微分波形に基づいて、ワイヤロープの異常部分を示す部分が重なり合うように２回微分波形の正の成分と負の成分の絶対値とを加算することによって加算波形を生成するため、異常部分に対応する部分が異常部分以外のノイズよりもより際立つように大きいピークを有するように加算波形を生成することができる。そのため、加算波形のピークを判定することによってワイヤロープに固有のノイズとワイヤロープの異常部分とを区別することができる。その結果、ワイヤロープに固有のノイズとワイヤロープの異常部分とを区別することにより、ワイヤロープの異常部分を精度よく判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【0011】
【図1】第１実施形態によるワイヤロープ検査システムの全体構成を示した模式図である。
【図2】第１実施形態によるワイヤロープ検査システムの全体構成を示したブロック図である。
【図3】第１実施形態のワイヤロープ検査装置による整磁部、励磁部、および、検出部の配置を示した図である。
【図4】検出部の検知コイルの構成を説明するための模式図である。
【図5】磁束波形の生成を説明するための図である。
【図6】異常部分を示す異常波形を説明するための図であって、（Ａ）は、素線断線の異常波形を示した図であり、（Ｂ）は、キンクの異常波形を示した図である。
【図7】磁束波形を異常部分の種類に応じて区別する例を示した図である。
【図8】処理用パラメータの設定を説明するための図である。
【図9】微分処理を説明するための図である。
【図10】２回微分波形の生成を説明するための図である。
【図11】シフト処理を説明するための図である。
【図12】加算波形と判定しきい値とを説明するための図である。
【図13】第１実施形態によるワイヤロープ検査方法を説明するためのフローチャート図である。
【図14】第２実施形態によるワイヤロープ検査システムの全体構成を示したブロック図である。
【図15】第２実施形態によるシフト量の設定を説明するための図である。
【図16】第３実施形態によるワイヤロープ検査システムの全体構成を示したブロック図である。
【図17】第３実施形態による磁束波形の取得を説明するための図である。
【図18】第４実施形態によるワイヤロープ検査システムの全体構成を示したブロック図である。
【図19】第４実施形態による１回微分波形と抽出判定しきい値を説明するための図である。
【図20】本発明の第１～第４実施形態の変形例によるワイヤロープ検査装置の全体構成を示したブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【0012】
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
【0013】
［第１実施形態］
まず、図１～図１２を参照して、本発明の第１実施形態によるワイヤロープ検査システム１００の構成について説明する。なお、以下の説明において、「直交」とは、９０度および９０度近傍の角度をなして交差することを意味する。また、「平行」とは、平行および略平行を含む。
まず、図１～図１２を参照して、本発明の第１実施形態によるワイヤロープ検査システム１００の構成について説明する。なお、以下の説明において、「直交」とは、９０度および９０度近傍の角度をなして交差することを意味する。また、「平行」とは、平行および略平行を含む。
【0014】
（ワイヤロープ検査システムの構成）
図１に示すように、ワイヤロープ検査システム１００は、ワイヤロープ検査装置１０１と、処理装置１０２とを備える。ワイヤロープ検査装置１０１は、検査対象であるワイヤロープＷの磁束の変化を検出する。そして、ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの磁束の変化を検出することによって測定された測定結果を処理装置１０２に送信するように構成されている。処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行する。また、処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果および異常部分の判定結果の表示などを行う。
図１に示すように、ワイヤロープ検査システム１００は、ワイヤロープ検査装置１０１と、処理装置１０２とを備える。ワイヤロープ検査装置１０１は、検査対象であるワイヤロープＷの磁束の変化を検出する。そして、ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの磁束の変化を検出することによって測定された測定結果を処理装置１０２に送信するように構成されている。処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行する。また、処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果および異常部分の判定結果の表示などを行う。
【0015】
ワイヤロープ検査システム１００は、エレベータ１０３に設けられたワイヤロープＷの検査を行う。具体的には、ワイヤロープ検査システム１００は、検査対象であるエレベータ１０３のワイヤロープＷの異常部分（素線断線など）を検査するためのシステムである。また、ワイヤロープ検査システム１００は、ワイヤロープＷの内部の磁束を測定する全磁束法により、目視により確認しにくいワイヤロープＷの異常を確認可能なシステムである。ワイヤロープＷに異常部分が含まれる場合には、異常部分における磁束が正常部分とは異なる。全磁束法は、ワイヤロープＷの表面の異常部分などからの漏洩磁束のみを測定する方法と異なり、ワイヤロープＷの内部の異常部分をも測定可能な方法である。
【0016】
（エレベータの構成）
図１に示すように、エレベータ１０３は、かご室１０３ａ、シーブ１０３ｂ、シーブ１０３ｃ、制御装置１０３ｄ、および、ワイヤロープＷを備える。エレベータ１０３は、巻上機に設けられたシーブ１０３ｂ（滑車）が回転してワイヤロープＷを巻き上げることによって、人および積み荷などを積載するかご室１０３ａを鉛直方向に移動させるように構成されている。また、エレベータ１０３は、たとえば、２つのシーブ１０３ｂおよびシーブ１０３ｃを備えるダブルラップ方式（フルラップ方式）のロープ式エレベータである。ダブルラップ方式とは、巻上機のシーブ１０３ｂから、そらせ車であるシーブ１０３ｃへと導かれたワイヤロープＷを再度巻き上げ機のシーブ１０３ｂに戻すことによって、シーブ１０３ｂに２回ワイヤロープＷを掛ける構造である。制御装置１０３ｄは、エレベータ１０３の各部の動作を制御する制御盤を含む。また、制御装置１０３ｄは、無線通信モジュールなどを含み、処理装置１０２と通信可能に構成されている。
図１に示すように、エレベータ１０３は、かご室１０３ａ、シーブ１０３ｂ、シーブ１０３ｃ、制御装置１０３ｄ、および、ワイヤロープＷを備える。エレベータ１０３は、巻上機に設けられたシーブ１０３ｂ（滑車）が回転してワイヤロープＷを巻き上げることによって、人および積み荷などを積載するかご室１０３ａを鉛直方向に移動させるように構成されている。また、エレベータ１０３は、たとえば、２つのシーブ１０３ｂおよびシーブ１０３ｃを備えるダブルラップ方式（フルラップ方式）のロープ式エレベータである。ダブルラップ方式とは、巻上機のシーブ１０３ｂから、そらせ車であるシーブ１０３ｃへと導かれたワイヤロープＷを再度巻き上げ機のシーブ１０３ｂに戻すことによって、シーブ１０３ｂに２回ワイヤロープＷを掛ける構造である。制御装置１０３ｄは、エレベータ１０３の各部の動作を制御する制御盤を含む。また、制御装置１０３ｄは、無線通信モジュールなどを含み、処理装置１０２と通信可能に構成されている。
【0017】
ワイヤロープＷは、磁性を有する素線材料が編みこまれる（たとえば、ストランド編みされる）ことにより形成されており、長尺材からなる磁性体である。ワイヤロープＷは、劣化による切断が生じることを未然に防ぐために、ワイヤロープ検査装置１０１により状態（異常部分の有無）を検査される。ワイヤロープＷの磁束の計測の結果、劣化の程度が決められた基準を超えたと判断されるワイヤロープＷは、検査作業者により交換される。なお、図１に示す例では、便宜上、ワイヤロープＷを１本しか図示していないが、エレベータ１０３は、複数本のワイヤロープＷを備えている。たとえば、エレベータ１０３は、４本のワイヤロープＷを備える。
【0018】
ワイヤロープＷは、ワイヤロープ検査装置１０１の位置において、Ｘ方向（図３参照）に延びるように配置されている。ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの表面に沿って、ワイヤロープＷに対して相対的にワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に移動しながら、ワイヤロープＷの磁束を計測する。エレベータ１０３に使用されるワイヤロープＷのように、ワイヤロープＷ自体が移動する場合には、ワイヤロープＷをＸ２方向に移動させながら、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の計測が行われる。これにより、ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷのＸ方向の各位置における磁束を計測することによって、ワイヤロープＷのＸ方向の各位置における傷みを検査する。
【0019】
（ワイヤロープ検査装置の構成）
図２および図３に示すように、ワイヤロープ検査装置１０１は、整磁部１０、励磁部２０、検出部３０、および、制御基板４０を備える。ワイヤロープ検査装置１０１は、エレベータ１０３のシーブ１０３ｂおよびシーブ１０３ｃの間において、ワイヤロープＷの検査を行うように配置されている。
図２および図３に示すように、ワイヤロープ検査装置１０１は、整磁部１０、励磁部２０、検出部３０、および、制御基板４０を備える。ワイヤロープ検査装置１０１は、エレベータ１０３のシーブ１０３ｂおよびシーブ１０３ｃの間において、ワイヤロープＷの検査を行うように配置されている。
【0020】
整磁部１０は、ワイヤロープＷに対して、予め磁界を印加することによって、ワイヤロープＷの磁化の方向を整える。たとえば、整磁部１０は、永久磁石である。また、整磁部１０は、１対の整磁部１０ａおよび整磁部１０ｂを含む。１対の整磁部１０ａおよび１０ｂは、ワイヤロープＷを挟み込むようにワイヤロープＷの短手方向（ワイヤロープＷの延びる方向と直交する方向、Ｚ方向）の両側に配置される。具体的には、整磁部１０ａは、ワイヤロープＷのＺ１方向側に配置される。そして、整磁部１０ｂは、ワイヤロープＷのＺ２方向側に配置される。そして、整磁部１０は、整磁部１０ａのＺ２方向に向けられたＮ極（斜線あり）と整磁部１０ｂのＺ１方向に向けられたＮ極（斜線あり）とがワイヤロープＷを挟んで対向するように設けられている。整磁部１０ａおよび１０ｂは、ワイヤロープＷの磁化の方向を略均一に整えるために、比較的強い磁界を印加することが可能に構成されている。
【0021】
励磁部２０は、ワイヤロープＷの磁化の状態を励振する（振動させる）ように、ワイヤロープＷに対して磁界（磁束）を印加するように構成されている。具体的には、励磁部２０は、励振コイル２１を含む。励振コイル２１は、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿って、複数（４本）のワイヤロープＷの全てをまとめて巻回するように設けられる。また、励振コイル２１は、ワイヤロープＷに対して後述する検出部３０の検知コイル３１ａおよび３１ｂの外側を巻回するように設けられている。
【0022】
励振コイル２１は、励振交流電流が流れることにより、ワイヤロープＷが延びる方向（Ｘ方向）に沿った磁束（磁界）をコイル内部（コイルの輪の内側）に発生させる。具体的には、後述する制御基板４０の処理部４１による制御によって励磁部２０（励振コイル２１）に一定の大きさかつ一定の周波数を有する交流電流（励振電流）が流されることにより、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に振動するように磁界が印加される。すなわち、ワイヤロープＷにおいて、整磁部１０によって予め整えられた磁界（磁束）が、励磁部２０によってＸ１方向への磁界とＸ２方向への磁界が周期的に現れるように振動される。
【0023】
検出部３０は、ワイヤロープＷに対して相対的に移動しながら、整磁部１０により予め磁界が印加された後（整磁された後）に、励磁部２０によって振動するように磁界が印加された（磁界が励振された）ワイヤロープＷの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得するように構成されている。第１実施形態のワイヤロープ検査システム１００では、検出部３０は、Ｘ２方向に向かって移動するワイヤロープＷの磁束の変化を検出することによって、ワイヤロープＷに対して相対的に移動しながらワイヤロープＷの磁束の変化を検出する。
【0024】
具体的には、検出部３０は、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に直交する方向（Ｚ方向）の一方側（Ｚ１方向側）に配置される検知コイル３１ａと、他方側（Ｚ２方向側）に配置される検知コイル３１ｂとを含む。また、検知コイル３１ａおよび３１ｂは、２つのコイルによって１つのワイヤロープＷを取り囲んだ状態で挟み込むように配置される。なお、検知コイル３１ａおよび３１ｂは、それぞれ、複数（４本）のワイヤロープＷの各々に１つずつ設けられる。
【0025】
図４に示すように、検知コイル３１ａおよび３１ｂは、ワイヤロープＷの延びる方向に沿って、ワイヤロープＷの周りに巻回されるように設けられている。具体的には、検知コイル３１ａと検知コイル３１ｂとは、それぞれ独立した鞍型コイル（サドル型コイル）である。検知コイル３１ａと検知コイル３１ｂとの各々は、ワイヤロープＷの半周ずつを覆うように配置されている。したがって、検知コイル３１ａおよび３１ｂは、検知コイル３１ａと検知コイル３１ｂとを併せることによって、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿って、２つの鞍型コイルによってワイヤロープＷの全周を巻回するように設けられている。また、検知コイル３１ａおよび３１ｂは、それぞれ、フレキシブル基板に設けられた導体パターンによって構成されている。なお、本明細書では、「巻回する」とは、１周以上に亘って巻き回す（巻き付ける）ことのみならず、１周分以下（たとえば、半周）の回数（角度）分だけ巻き回すことも含む概念として記載している。
【0026】
また、検知コイル３１ａおよび検知コイル３１ｂの各々は、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿って巻回するように設けられていることにより、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿ってコイルの内側を貫く向きの磁束の変化を検出（測定）する。そして、検知コイル３１ａおよび３１ｂは、励磁部２０（励振コイル２１）によって周期的に時間変化させられる磁束（磁界）の変化を検出するように構成されている。また、検知コイル３１ａおよび検知コイル３１ｂは、検出した磁束の変化を示す検出信号を後述する制御基板４０の信号取得部４２（図２参照）に対して出力する。
【0027】
なお、検知コイル３１ａおよび検知コイル３１ｂは差動接続されている。詳細には、検知コイル３１ａおよび検知コイル３１ｂを組み合わせることによって、ワイヤロープＷの周りに互いに逆方向の２つのコイルループがＸ１方向側とＸ２方向側との各々に形成される。そして、検知コイル３１ａによる検出信号と検知コイル３１ｂによる検出信号とが合成されることによって、互いに逆方向の２つのコイルループにより検出された磁束の変化が合成された検出信号が取得される。すなわち、検出部３０は、検知コイル３１ａの検出信号と検知コイル３１ｂの検出信号とを合成することにより、差動コイルによる検出信号を取得するように構成されている。
【0028】
図２に示すように、制御基板４０は、処理部４１、信号取得部４２、および、通信部４３を含む。制御基板４０は、処理部４１による制御処理によって、ワイヤロープ検査装置１０１の各部の制御を行う。処理部４１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）などのプロセッサ、メモリ、および、ＡＤ変換器などを含む。制御基板４０は、処理部４１からの制御信号に基づいて、励磁部２０（励振コイル２１）の動作を制御する。また、信号取得部４２は、検出部３０（検知コイル３１ａおよび３１ｂ）からの検出信号を取得（受信）する。信号取得部４２は、増幅器を含む。そして、信号取得部４２は、取得した検出信号を増幅して処理部４１に出力（送信）する。そして、通信部４３は、処理装置１０２と通信可能に構成されている。通信部４３は、無線ＬＡＮ、および、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）などによる無線通信が可能な無線通信モジュールを含む。通信部４３は、取得された検出信号を処理装置１０２に出力（送信）する。なお、通信部４３を介したワイヤロープ検査装置１０１と処理装置１０２との接続は、有線接続であってもよい。
【0029】
（処理装置の構成）
図２に示すように、処理装置１０２は、制御部５０、記憶部６０、タッチパネル７０、および、通信部８０を備える。処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１とは別個に設けられている。そして、処理装置１０２は、たとえば、ワイヤロープＷの検査を行う検査作業者が用いるタブレットＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）などのタブレット端末である。
図２に示すように、処理装置１０２は、制御部５０、記憶部６０、タッチパネル７０、および、通信部８０を備える。処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１とは別個に設けられている。そして、処理装置１０２は、たとえば、ワイヤロープＷの検査を行う検査作業者が用いるタブレットＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）などのタブレット端末である。
【0030】
制御部５０は、処理装置１０２の各部を制御する。制御部５０は、ＣＰＵなどのプロセッサ、メモリなどを含んでいる。制御部５０は、通信部８０を介して受信したワイヤロープＷの測定結果（検出信号）に基づいて、素線断線などのワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行する。なお、制御部５０による異常部分の判定処理の詳細は後述する。
【0031】
記憶部６０は、たとえば、フラッシュメモリを含む記憶装置である。記憶部６０は、取得されたワイヤロープＷの測定結果、および、制御部５０によるワイヤロープＷの異常部分の判定結果などの情報を記憶（保存）する。また、記憶部６０は、ワイヤロープＷの異常部分を判定するためのプログラム６１および処理用パラメータ６２を記憶している。
【0032】
タッチパネル７０は、ワイヤロープＷの測定結果、制御部５０によるワイヤロープＷの測定結果の解析結果（異常部分の判定結果）などの情報を表示する。また、タッチパネル７０は、検査作業者による入力操作を受け付ける。
【0033】
通信部８０は、ワイヤロープ検査装置１０１、および、エレベータ１０３の制御装置１０３ｄと通信可能に構成されている。通信部８０は、通信用のインターフェースである。具体的には、通信部８０は、無線ＬＡＮ、および、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）などによる無線通信が可能な無線通信モジュールを含む。処理装置１０２は、通信部８０を介して、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果（検出信号）を受信する。また、処理装置１０２は、検査作業者による入力操作に基づいて、ワイヤロープＷの検査を開始する場合に、ワイヤロープ検査装置１０１およびエレベータ１０３（エレベータ１０３の制御装置１０３ｄ）に対して、通信部８０を介して検査を開始することを示す信号を送信する。
【0034】
なお、処理装置１０２は、取得された検出信号（測定結果）と共に、ワイヤロープＷの位置を示す信号を取得するように構成されている。そして、処理装置１０２は、検出信号と、検出信号に対応するワイヤロープＷの位置を示す位置情報とを関連付けて記憶するように構成されている。ワイヤロープＷの位置情報は、エンコーダなどの位置センサによって取得してもよいし、エレベータ１０３の動作速度と、検査を行う検査時間の経過とに基づいて算出するようにしてもよい。
【0035】
（処理装置による異常部分の判定処理）
次に、図２、および、図５～図１２を参照して、処理装置１０２による異常部分の判定の処理について説明する。ワイヤロープ検査システム１００では、異常部分の種類（素線断線、キンク、錆、異物の付着など）ごとに判定を行うように構成されている。第１実施形態では、判定を行う対象である異常部分が素線断線とキンクとの２種類である場合の例について説明する。
次に、図２、および、図５～図１２を参照して、処理装置１０２による異常部分の判定の処理について説明する。ワイヤロープ検査システム１００では、異常部分の種類（素線断線、キンク、錆、異物の付着など）ごとに判定を行うように構成されている。第１実施形態では、判定を行う対象である異常部分が素線断線とキンクとの２種類である場合の例について説明する。
【0036】
図２に示すように、処理装置１０２の制御部５０は、波形生成部５１、抽出処理部５２、パラメータ設定部５３、１回目微分処理部５４、２回目微分処理部５５、加算処理部５６、および、判定処理部５７、を含んでいる。具体的には、ハードウェアとしての制御部５０は、ソフトウェア（プログラム６１）の機能ブロックとして、波形生成部５１、抽出処理部５２、パラメータ設定部５３、１回目微分処理部５４、２回目微分処理部５５、加算処理部５６、および、判定処理部５７を含むように構成されている。制御部５０は、取得された検出信号に基づいて、プログラム６１を実行することによって、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行するように構成されている。
【0037】
図５に示すように、波形生成部５１（制御部５０）は、通信部８０を介してワイヤロープ検査装置１０１（検出部３０）から取得された検出信号に基づく信号波形である磁束波形を生成する。磁束波形のサンプリング周波数は、たとえば、１［ｋＨｚ］である。したがって、生成された磁束波形は、１［ｍｓ］（ミリ秒）ごとに取得された離散的な検出信号の集合（図９参照）である。なお、波形生成部５１は、電気的なノイズを低減するために、所定の区間（たとえば、２０［ｍｓ］）ごとに移動平均処理を行うことによって磁束波形を生成する。すなわち、波形生成部５１は、１［ｍｓ］ごとに取得された検出信号に対して、前後１０［ｍｓ］分を含めた区間の平均値を１［ｍｓ］ごとにサンプリングすることによって、磁束波形を生成するように構成されている。なお、磁束波形は、横軸を時間ｔ［ｍｓ］、縦軸を波形生成部５１によって取得された検出信号に基づく値Ｆ（ｔ）（ｔ：時間）としたグラフによって表される。また、図５の区間ｔ１は、ワイヤロープＷの素線断線の異常部分に対応する部分（異常部分を示す部分）の磁束波形である。生成された磁束波形は、異常部分の波形がノイズに埋もれるような形となる。
【0038】
また、図６に示すように、ワイヤロープＷの異常部分を示す信号波形である異常波形は、異常部分の種類に応じて形状（幅、傾き、曲率など）が略一定となる。具体的には、異常波形は、異常部分の種類によって右上がり、または、右下がりのいずれかの形状を有する。たとえば、異常部分の種類が素線断線である場合には、断線部分から磁束が外に漏れ出すため、異常波形は右上がりとなる。そして、異常部分の種類がキンクである場合には、素線断線とは反対に異常波形は右下がりとなる。詳細には、素線断線の異常波形は、時間軸に沿って、検出される値が一度低下した後に波形が右上がりとなるように所定の割合で増加する。その後、検出される値は、再度減少する。キンクの異常波形は、素線断線とは反対に、検出される値が一度上昇した後に波形が右下がりとなるように所定の割合で減少する。その後、検出される値は、再度上昇する。
【0039】
図７に示すように、第１実施形態では、抽出処理部５２（制御部５０）は、生成された磁束波形の形状に基づいて、生成された磁束波形に含まれる異常部分の種類を判定するように構成されている。すなわち、抽出処理部５２は、生成された磁束波形のうちから、素線断線の異常部分であると推測される部分と、キンクの異常部分であると推測される部分とを、それぞれ区別して抽出するように構成されている。たとえば、抽出処理部５２は、所定の区間ごとに、磁束波形の形状が減少、増加、減少の順に変化している部分を素線断線の異常部分と推測される部分として抽出する。また、同様に、抽出処理部５２は、所定の区間ごとに、磁束波形の形状が増加、減少、増加の順に変化している部分をキンクの異常部分と推測される部分として抽出する。
【0040】
また、図８に示すように、パラメータ設定部５３（制御部５０）は、ワイヤロープＷの異常部分の判定の処理のための処理用パラメータ６２を設定する。ここで、第１実施形態のワイヤロープ検査システム１００では、検査を行うワイヤロープＷの異常部分の種類（素線断線およびキンク）の各々に対応するように複数の処理用パラメータ６２が予め記憶部６０に記憶されている。処理用パラメータ６２は、たとえば、後述する第１微分区間ｄｔ１、第２微分区間ｄｔ２、およびシフト量Ｄを含む。記憶部６０は、ワイヤロープＷの異常部分の種類ごとに、処理用パラメータ６２の組み合わせをテーブルとして記憶している。パラメータ設定部５３は、素線断線の異常部分を判定する場合には、素線断線の異常部分に対応する第１微分区間ｄｔ１、第２微分区間ｄｔ２、およびシフト量Ｄを設定する。そして、パラメータ設定部５３は、キンクの異常部分を判定する場合には、キンクの異常部分に対応する第１微分区間ｄｔ１、第２微分区間ｄｔ２、およびシフト量Ｄを設定する。なお、処理用パラメータ６２は、異常部分の種類に加えて、検査対象であるワイヤロープＷの種類（幅、素材など）に対応するように設定されてもよい。
【0041】
〈微分処理〉
図９および図１０に示すように、第１実施形態では、制御部５０（１回目微分処理部５４および２回目微分処理部５５）は、磁束波形に対して２回の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する。なお、以下の説明では、素線断線とキンクとの２つの種類の異常部分のうち、素線断線の異常部分の判定を行う場合の例について説明する。
図９および図１０に示すように、第１実施形態では、制御部５０（１回目微分処理部５４および２回目微分処理部５５）は、磁束波形に対して２回の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する。なお、以下の説明では、素線断線とキンクとの２つの種類の異常部分のうち、素線断線の異常部分の判定を行う場合の例について説明する。
【0042】
図９に示すように、１回目微分処理部５４（制御部５０）は、素線断線の異常部分の判定を行うために、素線断線であると推測される部分が抽出された磁束波形に対して、所定の第１微分区間ｄｔ１による１回目の微分処理を時間軸（横軸）に沿って順次実行する。たとえば、磁束波形の時点ａにおいて微分処理を実行する場合には、時点ａより所定の第１微分区間ｄｔ１だけ後の時点ｂにおける磁束波形の値Ｆ（ｂ）と、時点ａにおける磁束波形の値Ｆ（ａ）との差を取得することによって、時点ａにおける１回目の微分処理を実行する。すなわち、時点ａにおける１回目の微分処理を実行した結果の値をＦ′（ａ）とすると、Ｆ′（ａ）＝Ｆ（ｂ）－Ｆ（ａ）、ｂ＝ａ＋ｄｔ１の関係が成り立つ。１回目微分処理部５４は、時間軸に沿って、サンプリング周期（１［ｍｓ］）ごとに、１回目の微分処理を順次実行することによって、１回微分波形を取得する。なお、１回微分波形の値をＦ′（ｔ）と表す。
【0043】
なお、図６に示すように、第１実施形態では、第１微分区間ｄｔ１は、予め取得されたワイヤロープＷの異常部分を示す信号波形である異常波形に基づいて設定される。素線断線の異常部分を判定する場合には、第１実施形態のワイヤロープ検査システム１００では、第１微分区間ｄｔ１は、予め取得された素線断線の部分を示す異常波形の右上がりの部分の幅と略等しい区間として設定されて、処理用パラメータ６２として記憶部６０に予め記憶される。たとえば、異常部分が素線断線である場合の第１微分区間ｄｔ１は、１５［ｍｓ］（サンプリング数１５個分）である。キンクの異常部分を判定する場合にも、同様に、第１微分区間ｄｔ１は、予め取得されたキンクの部分を示す異常波形の右下がりの部分の幅と略等しい区間として設定されて、処理用パラメータ６２として記憶部６０に予め記憶される。
【0044】
そして、図１０に示すように、第１実施形態では、２回目微分処理部５５（制御部５０）は、２回目の微分処理を実行する前に、磁束波形の形状に基づいて１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出する。ここで、異常部分の種類が素線断線である場合には、異常部分に対応する部分の波形は右上がりとなるため、磁束波形における右下がりの部分は、異常部分ではなくノイズを示す波形である。したがって、１回微分波形の負の成分には、素線断線の異常部分を示す部分は存在しないこととなる。２回目微分処理部５５は、磁束波形の形状に基づいて素線断線の異常部分を判定する場合には、取得された１回微分波形の負の成分を全て０にする（キャンセルする）ことによって、１回微分波形の正の成分を抽出する。なお、１回微分波形の正の成分の値をＦ′（＋）（ｔ）と表す。なお、異常部分がキンクである場合には、異常波形が右下がりとなるため、２回目微分処理部５５は、磁束波形に基づいて１回微分波形の負の成分を抽出する。
【0045】
そして、２回目微分処理部５５は、１回微分波形に基づいて抽出された１回微分波形の正の成分に対して、第２微分区間ｄｔ２による２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するように構成されている。２回目の微分処理は、１回目の微分処理と同様である。また、第２微分区間ｄｔ２は、第１微分区間ｄｔ１と同様に、素線断線の異常部分を示す異常波形に基づいて予め設定されて、記憶部６０に記憶される。たとえば、第２微分区間ｄｔ２は、素線断線の異常波形の右上がりの部分の幅と略等しい区間である第１微分区間ｄｔ１の約半分の長さ（たとえば７［ｍｓ］）である。このようにして、２回目の微分処理を実行することによって、２回目微分処理部５５は、２回微分波形を生成する。なお、２回微分波形の値を、Ｆ″（ｔ）と表す。
【0046】
〈加算処理〉
図１１および図１２に示すように、第１実施形態では、加算処理部５６（制御部５０）は、取得された２回微分波形の正の成分と、取得された２回微分波形の負の成分の絶対値とを、ワイヤロープＷの異常部分を示す部分（図中の区間ｔ１の部分）が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成するように構成されている。
図１１および図１２に示すように、第１実施形態では、加算処理部５６（制御部５０）は、取得された２回微分波形の正の成分と、取得された２回微分波形の負の成分の絶対値とを、ワイヤロープＷの異常部分を示す部分（図中の区間ｔ１の部分）が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成するように構成されている。
【0047】
具体的には、図１１に示すように、加算処理部５６は、２回微分波形の正の成分と、２回微分波形の負の成分とをそれぞれ取得する。そして、２回微分波形の負の成分の絶対値を取得する。なお、２回微分波形の正の成分の値を、Ｆ″（＋）（ｔ）と表す。また、２回微分波形の負の成分の絶対値を、｜Ｆ″（－）（ｔ）｜と表す。
【0048】
そして、第１実施形態では、加算処理部５６は、２回微分波形の負の成分の絶対値を、ワイヤロープＷの異常部分を示す部分（異常部分に対応する部分）が重なり合うように、予め設定されたシフト量Ｄに基づいて、時間軸に沿ってシフトさせる。具体的には、加算処理部５６は、パラメータ設定部５３によって予め設定されたシフト量Ｄの大きさだけ、２回微分波形の負の成分の絶対値を、時間軸のマイナス方向（横軸の左方向）にシフトさせる。すなわち、シフトされた２回微分波形の負の成分の絶対値は、｜Ｆ″（－）（ｔ＋Ｄ）｜と表される。
【0049】
なお、第１実施形態では、シフト量Ｄは、第１微分区間ｄｔ１および第２微分区間ｄｔ２と同様に、異常部分を示す異常波形に基づいて予め設定されて、記憶部６０に記憶される。シフト量Ｄは、たとえば、異常波形の右上がりまたは右下がりの部分の幅と略等しい区間である第１微分区間ｄｔ１よりも大きい値（たとえば、２０［ｍｓ］）である。
【0050】
そして、図１２に示すように、加算処理部５６は、２回微分波形の正の成分と、シフトされた２回微分波形の負の成分の絶対値とを加算することによって、加算波形を生成する。なお、生成された加算波形の値は、Ｆ″（＋）（ｔ）＋｜Ｆ″（－）（ｔ＋Ｄ）｜と表される。加算波形では、磁束波形に比べて、異常部分とノイズとの差異が大きい。
【0051】
〈判定処理〉
そして、判定処理部５７（制御部５０）は、生成された加算波形に基づく値（Ｆ″（＋）（ｔ）＋｜Ｆ″（－）（ｔ＋Ｄ）｜で表される値）が、所定の判定しきい値Ｓよりも大きい場合にワイヤロープＷの異常部分を判定するように構成されている。判定しきい値Ｓは、たとえば、パラメータ設定部５３によって、設定された異常部分に対応するように予め設定される。また、判定しきい値Ｓは、検査作業者による入力操作に基づいて、複数の候補のうちから選択されることによって設定されてもよい。具体的には、異常部分が素線断線である場合には、素線断線の本数に応じて、複数の判定しきい値Ｓが記憶部６０に処理用パラメータ６２として記憶される。そして、検査作業者による判定を行う素線断線の本数を選択する操作が受け付けられたことに基づいて、パラメータ設定部５３によって、選択された素線断線の本数に対応する判定しきい値Ｓが設定される。
そして、判定処理部５７（制御部５０）は、生成された加算波形に基づく値（Ｆ″（＋）（ｔ）＋｜Ｆ″（－）（ｔ＋Ｄ）｜で表される値）が、所定の判定しきい値Ｓよりも大きい場合にワイヤロープＷの異常部分を判定するように構成されている。判定しきい値Ｓは、たとえば、パラメータ設定部５３によって、設定された異常部分に対応するように予め設定される。また、判定しきい値Ｓは、検査作業者による入力操作に基づいて、複数の候補のうちから選択されることによって設定されてもよい。具体的には、異常部分が素線断線である場合には、素線断線の本数に応じて、複数の判定しきい値Ｓが記憶部６０に処理用パラメータ６２として記憶される。そして、検査作業者による判定を行う素線断線の本数を選択する操作が受け付けられたことに基づいて、パラメータ設定部５３によって、選択された素線断線の本数に対応する判定しきい値Ｓが設定される。
【0052】
そして、判定処理部５７は、加算波形の値が、判定しきい値Ｓよりも大きい部分を、異常部分であるとする判定結果を生成する。生成された判定結果は、ワイヤロープＷのうちの異常部分と判定された位置を識別可能な情報を含む。判定処理部５７は、たとえば、ワイヤロープＷのうちの検査を開始した位置を０とした距離によって、ワイヤロープＷのうちの異常部分の位置を示す位置情報を含む判定結果を生成する。なお、キンクの異常部分を判定する場合にも同様の処理によって異常部分の判定が行われる。
【0053】
〈結果の表示〉
制御部５０は、判定処理部５７による異常部分の判定結果（解析結果）をタッチパネル７０に表示する。たとえば、制御部５０は、異常部分と判定されたワイヤロープＷの位置を示す表示を数値としてタッチパネル７０に表示させる。また、制御部５０は、判定された異常部分の種類（素線断線またはキンク）を識別可能な文字情報を併せて表示する。また、制御部５０は、ワイヤロープＷの位置に加えて異常部分と判定された場合の加算波形の値を併せて表示するようにしてもよい。
制御部５０は、判定処理部５７による異常部分の判定結果（解析結果）をタッチパネル７０に表示する。たとえば、制御部５０は、異常部分と判定されたワイヤロープＷの位置を示す表示を数値としてタッチパネル７０に表示させる。また、制御部５０は、判定された異常部分の種類（素線断線またはキンク）を識別可能な文字情報を併せて表示する。また、制御部５０は、ワイヤロープＷの位置に加えて異常部分と判定された場合の加算波形の値を併せて表示するようにしてもよい。
【0054】
（第１実施形態によるワイヤロープ検査方法）
次に、図１３を参照して、第１実施形態のワイヤロープ検査方法について説明する。このワイヤロープ検査方法は、ワイヤロープ検査システム１００のワイヤロープ検査装置１０１および処理装置１０２によって実行される。すなわち、ステップ６０２およびステップ６０３は、ワイヤロープ検査装置１０１の処理部４１による制御処理を示す。そして、ステップ６０１、および、ステップ６０４～ステップ６１２は、処理装置１０２の制御部５０による制御処理を示す。
次に、図１３を参照して、第１実施形態のワイヤロープ検査方法について説明する。このワイヤロープ検査方法は、ワイヤロープ検査システム１００のワイヤロープ検査装置１０１および処理装置１０２によって実行される。すなわち、ステップ６０２およびステップ６０３は、ワイヤロープ検査装置１０１の処理部４１による制御処理を示す。そして、ステップ６０１、および、ステップ６０４～ステップ６１２は、処理装置１０２の制御部５０による制御処理を示す。
【0055】
まず、ステップ６０１において、ワイヤロープＷの検査開始の入力操作が受け付けられる。具体的には、タッチパネル７０に対する入力操作に基づいて、ワイヤロープＷの検査が開始される。そして、エレベータ１０３の制御装置１０３ｄおよびワイヤロープ検査装置１０１の処理部４１に対して、検査の開始を示す信号が送信される。
【0056】
次に、ステップ６０２において、ワイヤロープＷに対して磁界が印加される。そして、ステップ６０３において、ワイヤロープＷに対して相対的に移動しながら、磁界が印加されたワイヤロープＷの磁束の変化を検出することによって検出信号が取得される。
【0057】
次に、ステップ６０４において、取得された検出信号に基づいて、磁束波形が生成される。
【0058】
次に、ステップ６０５において、生成された磁束波形の形状に基づいて、磁束波形に含まれる異常部分の種類が判定される。具体的には、磁束波形のうちから、素線断線の異常部分であると推測される部分と、キンクの異常部分であると推測される部分とが、それぞれ区別されて抽出される。
【0059】
次に、ステップ６０６において、判定を行う異常部分の種類に対応する処理用パラメータ６２が設定される。具体的には、判定処理を実行するための、第１微分区間ｄｔ１、第２微分区間ｄｔ２、シフト量Ｄ、および、判定しきい値Ｓが、判定処理に先立って異常部分の種類（素線断線およびキンク）の各々に対応するように予め設定される。
【0060】
次に、ステップ６０７において、磁束波形に対して所定の第１微分区間ｄｔ１による１回目の微分処理が時間軸に沿って順次実行される。また、１回目の微分処理を実行することによって、１回微分波形が取得される。そして、ステップ６０８において、磁束波形の形状に基づいて１回微分波形の正の成分または負の成分が抽出される。そして、ステップ６０９において、１回微分波形の正の成分または負の成分に対して所定の第２微分区間ｄｔ２による微分処理が時間軸に沿って順次実行される。また、２回目の微分処理が実行されることによって２回微分波形が生成される。
【0061】
次に、ステップ６１０において、２回微分波形の正の成分と、２回微分波形の負の成分の絶対値とを、ワイヤロープＷの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形が生成される。具体的には、２回微分波形の負の成分の絶対値を、予め設定されたシフト量Ｄに基づいて時間軸に沿ってシフトさせた状態で、２回微分波形の正の成分に加算することによって、加算波形が生成される。
【0062】
次に、ステップ６１１において、生成された加算波形に基づく値（Ｆ″（＋）（ｔ）＋｜Ｆ″（－）（ｔ＋Ｄ）｜で表される値）が所定の判定しきい値Ｓよりも大きい場合に、ワイヤロープＷの異常部分が判定される。そして、ステップ６１２において、判定結果がタッチパネル７０に表示される。
【0063】
なお、ステップ６０７～ステップ６１１の処理は、異常部分の種類（素線断線およびキンク）ごとにそれぞれ実行される。また、ステップ６０４における磁束波形の生成と、ステップ６０５における異常部分の種類の判定と、ステップ６０６における処理用パラメータ６２の設定とは、いずれのステップを先に実行するようにしてもよい。
【0064】
（第１実施形態の効果）
第１実施形態のワイヤロープ検査方法では、以下のような効果を得ることができる。
第１実施形態のワイヤロープ検査方法では、以下のような効果を得ることができる。
【0065】
第１実施形態のワイヤロープ検査方法では、上記のように、取得された検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する。そして、取得された１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する。ここで、磁束波形の形状のうちの異常部分に対応する部分の形状は、異常部分の種類（素線断線、キンク、錆、異物の付着など）によって、右上がり、または、右下がりのいずれかの形状を有する。そのため、１回微分波形のうちの異常部分に対応する波形は、異常部分の種類によって、正の成分、または、負の成分のいずれかに含まれる。たとえば、異常部分が断線である場合には、異常部分に対応する波形の形状は右上がりとなる。したがって、異常部分が断線である場合には、１回微分波形のうちの異常部分に対応する部分の波形は、１回微分波形のうちの正の成分のみに含まれる。これに対して、第１実施形態では、取得された１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって２回微分波形を取得するので、異常部分の種類に対応するように抽出された正の成分または負の成分に対してのみ２回目の微分処理を実行することができる。そのため、異常部分が含まれずノイズのみが含まれる成分の波形をキャンセルした状態で２回目の微分処理を実行することができる。そして、第１実施形態では、上記のように、取得された２回微分波形の正の成分と、取得された２回微分波形の負の成分の絶対値とを、ワイヤロープＷの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成する。これにより、異常部分が含まれずノイズのみが含まれる成分の波形をキャンセルした状態で取得された２回微分波形に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分を示す部分が重なり合うように２回微分波形の正の成分と負の成分の絶対値とを加算することによって加算波形を生成するため、異常部分に対応する部分が異常部分以外のノイズよりもより際立つように大きいピークを有するように加算波形を生成することができる。そのため、加算波形のピークを判定することによってワイヤロープＷに固有のノイズとワイヤロープＷの異常部分とを区別することができる。その結果、ワイヤロープＷに固有のノイズとワイヤロープＷの異常部分とを区別することにより、ワイヤロープＷの異常部分を精度よく判定することができる。
【0066】
また、第１実施形態では、以下のように構成したことによって、下記のような更なる効果が得られる。
【0067】
すなわち、第１実施形態では、磁束波形に対して、所定の第１微分区間ｄｔ１による１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップ６０７を含み、１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行することによって取得された１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、所定の第２微分区間ｄｔ２による２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップ６０９を含む。このように構成すれば、所定の第１微分区間ｄｔ１による１回目の微分処理を順次実行するとともに、所定の第２微分区間ｄｔ２による２回目の微分処理を順次実行することによって、比較的広い範囲に亘って２回微分波形を容易に取得することができる。そのため、取得された２回微分波形に基づいて比較的広い範囲に亘る加算波形を容易に生成することができるので、加算波形のピークを判定することによって比較的広い範囲に亘ってワイヤロープＷの異常部分を容易に、かつ、精度よく判定することができる。
【0068】
また、第１実施形態では、予め取得されたワイヤロープＷの異常部分を示す信号波形である異常波形に基づいて設定された第１微分区間ｄｔ１による１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップ６０７を含み、異常波形に基づいて設定された第２微分区間ｄｔ２による２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップ６０９を含む。このように構成すれば、第１微分区間ｄｔ１および第２微分区間ｄｔ２の各々が、予め取得された異常波形に基づいて設定されているため、第１微分区間ｄｔ１による１回目の微分処理と、第２微分区間ｄｔ２による２回目の微分処理とを実行することによって、異常部分の判定を行うためにより適切な２回微分波形を取得することができる。そのため、２回微分波形に基づいて生成される加算波形における異常部分のピークをより一層際立たせることができるので、ワイヤロープＷの異常部分をより一層精度よく判定することができる。
【0069】
また、第１実施形態では、加算波形を生成するステップ６１０よりも前に、予め取得されたワイヤロープＷの異常部分を示す信号波形である異常波形に基づいて、加算波形を生成するためのシフト量Ｄを予め設定するステップ６０６を備え、加算波形を生成するステップ６１０は、２回微分波形の正の成分と、２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方である２回微分波形の負の成分の絶対値を、予め設定されたシフト量Ｄに基づいて時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方である２回微分波形の正の成分に加算することによって、加算波形を生成する。このように構成すれば、予め取得された異常部分を示す信号波形である異常波形に基づいて加算波形を生成するためのシフト量Ｄが予め設定されているため、生成された加算波形に基づいて適切なシフト量Ｄを算出する場合に比べて、異常部分を判定するための加算波形を容易に生成することができる。
【0070】
また、第１実施形態では、２回微分波形を取得するステップ６０９よりも前に、磁束波形の形状に基づいて１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出するステップ６０８を備える。このように構成すれば、異常部分を示す異常波形の形状は異常部分の種類に応じて右上がりか右下がりかのいずれかであるため、磁束波形の形状が右上がりの部分と右下がりの部分とを区別することによって、磁束波形のうちから異常部分の種類ごとに対応する部分を容易に抽出することができる。そのため、異常部分の種類に対応するように１回微分波形の正の成分または負の成分を容易に抽出することができるので、異常部分が含まれずノイズのみが含まれる成分の波形をキャンセルした状態で２回微分波形を容易に取得することができる。その結果、ワイヤロープＷの異常を判定するための加算波形を容易に取得することができるので、ワイヤロープＷの異常部分を精度よく、かつ、容易に判定することができる。
【0071】
［第２実施形態］
図１４および図１５を参照して、第２実施形態によるワイヤロープ検査システム２００の構成について説明する。この第２実施形態は、予め設定されたシフト量Ｄに基づいて加算波形を生成した第１実施形態と異なり、所定のシフト量変更範囲（Ｄｍｉｎ～Ｄｍａｘ）のうちから適切なシフト量Ｄ２００を設定（算出）する。なお、図中において、上記第１実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付して図示するとともに説明を省略する。
図１４および図１５を参照して、第２実施形態によるワイヤロープ検査システム２００の構成について説明する。この第２実施形態は、予め設定されたシフト量Ｄに基づいて加算波形を生成した第１実施形態と異なり、所定のシフト量変更範囲（Ｄｍｉｎ～Ｄｍａｘ）のうちから適切なシフト量Ｄ２００を設定（算出）する。なお、図中において、上記第１実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付して図示するとともに説明を省略する。
【0072】
（第２実施形態によるワイヤロープ検査システムの構成）
図１４に示すように、第２実施形態によるワイヤロープ検査システム２００は、ワイヤロープ検査装置１０１と処理装置２０２とを備える。ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の変化の検出は、第１実施形態と同様である。
図１４に示すように、第２実施形態によるワイヤロープ検査システム２００は、ワイヤロープ検査装置１０１と処理装置２０２とを備える。ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の変化の検出は、第１実施形態と同様である。
【0073】
処理装置２０２は、制御部２５０、記憶部２６０、タッチパネル７０、および、通信部８０を備える。処理装置２０２は、第１実施形態による処理装置１０２と同様に、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行する。また、記憶部２６０は、第１実施形態の記憶部６０と同様に、ワイヤロープＷの測定結果、および、異常部分の判定結果などの情報を記憶（保存）する。そして、第２実施形態では、記憶部２６０は、ワイヤロープＷの異常部分を判定するためのプログラム２６１および処理用パラメータ２６２を記憶している。
【0074】
（処理装置による異常部分の判定処理）
制御部２５０は、加算処理部２５６を含んでいる。具体的には、ハードウェアとしての制御部２５０は、ソフトウェア（プログラム２６１）の機能ブロックとして、加算処理部２５６を含むように構成されている。制御部２５０は、取得された検出信号に基づいて、プログラム２６１を実行することによって、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行するように構成されている。制御部２５０のその他の構成は、第１実施形態と同様である。
制御部２５０は、加算処理部２５６を含んでいる。具体的には、ハードウェアとしての制御部２５０は、ソフトウェア（プログラム２６１）の機能ブロックとして、加算処理部２５６を含むように構成されている。制御部２５０は、取得された検出信号に基づいて、プログラム２６１を実行することによって、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行するように構成されている。制御部２５０のその他の構成は、第１実施形態と同様である。
【0075】
すなわち、制御部２５０は、第１実施形態と同様の制御処理を実行することによって、取得された検出信号に基づく信号波形である磁束信号に対して、２回の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する。記憶部２６０には、第１実施形態と同様の第１微分区間ｄｔ１および第２微分区間ｄｔ２が処理用パラメータ２６２として記憶されている。一方で、第２実施形態では、予め記憶されている処理用パラメータ２６２には、第１実施形態と異なりシフト量が含まれていない。
【0076】
図１５に示すように、第２実施形態では、加算処理部２５６（制御部２５０）は、判定処理を行うための加算波形を生成するためのシフト量Ｄ２００を、所定のシフト量変更範囲（Ｄｍｉｎ～Ｄｍａｘ）のうちから設定（算出）するように構成されている。具体的には、加算処理部２５６は、取得された２回微分波形の負の成分の絶対値を、所定のシフト量変更範囲（Ｄｍｉｎ～Ｄｍａｘ）内においてシフト量を変更させながら時間軸に沿ってシフトさせた状態で、取得された２回微分波形の正の成分に加算することによって、複数の予備加算波形を生成する。所定のシフト量変更範囲は、たとえば、０［ｍｓ］以上３０［ｍｓ］以下である。すなわち、Ｄｍｉｎは、０［ｍｓ］であって、Ｄｍａｘは、３０［ｍｓ］である。加算処理部２５６は、０［ｍｓ］～３０［ｍｓ］まで、１［ｍｓ］ずつシフト量を変更させながら、複数（３１個）の予備加算波形を生成する。予備加算波形を生成する処理は、第１実施形態の加算処理部５６による加算処理と同様である。なお、図１５では、複数の予備加算波形のうちの５つの予備加算波形を例示している。
【0077】
そして、加算処理部２５６は、生成された複数の予備加算波形の最大値を取得する。そして、加算処理部２５６は、複数の予備加算波形のうちから、取得された最大値が最も大きい予備加算波形を選択する。また、加算処理部２５６は、シフト量変更範囲（Ｄｍｉｎ～Ｄｍａｘ）のうちから、最大値が最も大きい予備加算波形を生成したシフト量を、異常部分の判定を行うためのシフト量Ｄ２００として設定する。そして、第２実施形態では、加算処理部２５６は、設定されたシフト量Ｄ２００に基づいて、取得された２回微分波形の負の成分の絶対値を、ワイヤロープＷの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で、２回微分波形の正の成分に加算することによって、加算波形を生成するように構成されている。
【0078】
すなわち、加算処理部２５６は、シフト量変更範囲（Ｄｍｉｎ～Ｄｍａｘ）のうちから、加算波形におけるワイヤロープＷの異常部分を示す部分が重なり合うように、異常部分の判定を行うためのシフト量Ｄ２００を選択するように構成されている。また、加算処理部２５６は、ワイヤロープＷの長さの所定の区間ごと（たとえば、１［ｍ］ごと）に、シフト量変更範囲（Ｄｍｉｎ～Ｄｍａｘ）のうちからシフト量Ｄ２００を設定する処理を行う。
【0079】
なお、設定されたシフト量Ｄ２００に基づいて生成された加算波形に対する異常部分の判定処理は、第１実施形態の判定処理と同様である。また、第２実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。
【0080】
（第２実施形態の効果）
第２実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第２実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
【0081】
第２実施形態では、加算波形を生成するよりも前に、取得された２回微分波形の正の成分と、取得された２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方である２回微分波形の負の成分の絶対値を、所定のシフト量変更範囲（Ｄｍｉｎ～Ｄｍａｘ）内においてシフト量を変更させながら時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方である２回微分波形の正の成分に加算することによって、複数の予備加算波形を生成する。そして、生成された複数の予備加算波形の各々に基づく最大値が最も大きい予備加算波形のシフト量Ｄ２００に基づいて、２回微分波形の正の成分と、２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方である２回微分波形の負の成分の絶対値を、ワイヤロープＷの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方である２回微分波形の正の成分に加算することによって、加算波形を生成する。このように構成すれば、複数の予備加算波形の各々に基づく最大値が最も大きい予備加算波形のシフト量Ｄ２００に基づいて加算波形を生成するため、ワイヤロープＷの異常を判定するために２回微分波形の正の成分と負の成分の絶対値を加算する場合に、異常部分に対応する部分（異常部分を示す部分）がより大きいピークを有するように、加算波形を生成するためのシフト量Ｄ２００をより適切に設定することができる。そのため、予め設定された１つシフト量に基づいて加算波形を生成する場合に比べて、ワイヤロープＷに固有のノイズとワイヤロープＷの異常部分とをより精度よく区別することができる。その結果、ワイヤロープＷの異常部分をより精度よく判定することができる。
【0082】
なお、第２実施形態のその他の効果は、上記第１実施形態と同様である。
【0083】
［第３実施形態］
図１６および図１７を参照して、第３実施形態によるワイヤロープ検査システム３００の構成について説明する。この第３実施形態は、検出部３０によって検出された検出信号をそのまま（移動平均処理を行って）磁束波形として取得した第１および第２実施形態と異なり、検出信号Ｆ１（ｔ）と予め取得された基準検出信号Ｆ０（ｔ）との差分に基づいて磁束波形を生成する。なお、図中において、上記第１および第２実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付して図示するとともに説明を省略する。
図１６および図１７を参照して、第３実施形態によるワイヤロープ検査システム３００の構成について説明する。この第３実施形態は、検出部３０によって検出された検出信号をそのまま（移動平均処理を行って）磁束波形として取得した第１および第２実施形態と異なり、検出信号Ｆ１（ｔ）と予め取得された基準検出信号Ｆ０（ｔ）との差分に基づいて磁束波形を生成する。なお、図中において、上記第１および第２実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付して図示するとともに説明を省略する。
【0084】
（第３実施形態によるワイヤロープ検査システムの構成）
図１６に示すように、第３実施形態によるワイヤロープ検査システム３００は、ワイヤロープ検査装置１０１と処理装置３０２とを備える。ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の変化の検出は、第１実施形態と同様である。
図１６に示すように、第３実施形態によるワイヤロープ検査システム３００は、ワイヤロープ検査装置１０１と処理装置３０２とを備える。ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の変化の検出は、第１実施形態と同様である。
【0085】
処理装置３０２は、制御部３５０、記憶部３６０、タッチパネル７０、および、通信部８０を備える。処理装置３０２は、第１実施形態による処理装置１０２と同様に、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行する。また、記憶部３６０は、第１実施形態の記憶部６０と同様に、ワイヤロープＷの測定結果、および、異常部分の判定結果などの情報を記憶（保存）する。そして、第３実施形態では、記憶部３６０は、ワイヤロープＷの異常部分を判定するためのプログラム３６１と基準検出信号Ｆ０（ｔ）を記憶している。
【0086】
基準検出信号Ｆ０（ｔ）は、検査対象であるワイヤロープＷの磁束の変化を予め検出することによって取得された基準となる検出信号である。基準検出信号Ｆ０（ｔ）は、たとえば、ワイヤロープＷの設置時などの異常部分が発生する前（異常部分が少ない状態）においてワイヤロープ検査装置１０１によって検出される。また、エレベータ１０３のようにワイヤロープＷが複数（４本）設置されている場合には、複数のワイヤロープＷの各々についての基準検出信号Ｆ０（ｔ）が予め記憶部３６０に記憶される。なお、基準検出信号Ｆ０（ｔ）は、ワイヤロープＷの位置情報と関連付けて記憶されている。
【0087】
（処理装置による異常部分の判定処理）
制御部３５０は、波形生成部３５１を含んでいる。具体的には、ハードウェアとしての制御部３５０は、ソフトウェア（プログラム３６１）の機能ブロックとして、波形生成部３５１を含むように構成されている。制御部３５０は、取得された検出信号に基づいて、プログラム３６１を実行することによって、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行するように構成されている。制御部３５０のその他の構成は、第１実施形態と同様である。
制御部３５０は、波形生成部３５１を含んでいる。具体的には、ハードウェアとしての制御部３５０は、ソフトウェア（プログラム３６１）の機能ブロックとして、波形生成部３５１を含むように構成されている。制御部３５０は、取得された検出信号に基づいて、プログラム３６１を実行することによって、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行するように構成されている。制御部３５０のその他の構成は、第１実施形態と同様である。
【0088】
図１７に示すように、予め記憶部６０に記憶された基準検出信号Ｆ０（ｔ）に対して、異常部分の判定のために検出された検出信号をＦ１（ｔ）と表す。第３実施形態では、波形生成部３５１（制御部３５０）は、ワイヤロープＷに固有のノイズ（固有の磁気特性の変化）を打ち消すように、基準検出信号Ｆ０（ｔ）と、取得された検出信号Ｆ１（ｔ）との差分（Ｆ１（ｔ）－Ｆ０（ｔ））に基づいて磁束波形（差分波形）を生成する。生成された磁束波形では、ワイヤロープＷの異常部分が、抽出されたような波形となる。なお、波形生成部３５１は、ワイヤロープＷの位置情報に基づいて、基準検出信号Ｆ０（ｔ）と検出信号Ｆ１（ｔ）との略同じ位置における差分を取得することによって磁束波形を生成するように構成されている。また、波形生成部３５１は、第１実施形態と同様に、基準検出信号Ｆ０（ｔ）および検出信号Ｆ１（ｔ）に対して移動平均処理を実行した状態で差分を取得することによって、磁束信号を生成する。
【0089】
なお、生成された磁束波形（差分波形）に対する２回の微分処理、加算波形を生成する加算処理、および、異常部分の判定処理は、第１実施形態と同様である。また、第３実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。
【0090】
（第３実施形態の効果）
第３実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第３実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
【0091】
第３実施形態では、１回微分波形を取得するよりも前に、検査対象であるワイヤロープＷの磁束の変化を予め検出することによって取得された基準となる基準検出信号Ｆ０（ｔ）と、取得された検出信号Ｆ１（ｔ）との差分に基づいて磁束波形を生成する。このように構成すれば、予め取得された基準検出信号Ｆ０（ｔ）と、異常部分の判定のために検出された検出信号Ｆ１（ｔ）とにおいて、ワイヤロープＷに固有のノイズは共通するため、基準検出信号Ｆ０（ｔ）と検出信号Ｆ１（ｔ）との差分を取得することによって、検出信号Ｆ１（ｔ）に含まれるワイヤロープＷに固有のノイズを打ち消して抑制（キャンセル）した状態の磁束波形を生成することができる。そのため、ノイズが抑制された状態の磁束波形に対して、２回の微分処理を実行することによって、加算波形を生成することができるので、加算波形におけるノイズをより一層抑制することができる。その結果、ワイヤロープＷの異常部分をより一層精度よく判定することができる。
【0092】
なお、第３実施形態のその他の効果は、上記第１および第２実施形態と同様である。
【0093】
［第４実施形態］
図１８および図１９を参照して、第４実施形態によるワイヤロープ検査システム４００の構成について説明する。この第４実施形態は、磁束波形の形状に基づいて、１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出するように構成された第１実施形態と異なり、１回微分波形に基づく値が所定の抽出判定しきい値Ｓ４００よりも大きいか否かを判定することによって１回微分波形の正の成分または負の成分を抽出するように構成されている。なお、図中において、上記第１～第３実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付して図示するとともに説明を省略する。
図１８および図１９を参照して、第４実施形態によるワイヤロープ検査システム４００の構成について説明する。この第４実施形態は、磁束波形の形状に基づいて、１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出するように構成された第１実施形態と異なり、１回微分波形に基づく値が所定の抽出判定しきい値Ｓ４００よりも大きいか否かを判定することによって１回微分波形の正の成分または負の成分を抽出するように構成されている。なお、図中において、上記第１～第３実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付して図示するとともに説明を省略する。
【0094】
（第４実施形態によるワイヤロープ検査システムの構成）
図１８に示すように、第４実施形態によるワイヤロープ検査システム４００は、ワイヤロープ検査装置１０１と処理装置４０２とを備える。ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の変化の検出は、第１実施形態と同様である。
図１８に示すように、第４実施形態によるワイヤロープ検査システム４００は、ワイヤロープ検査装置１０１と処理装置４０２とを備える。ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の変化の検出は、第１実施形態と同様である。
【0095】
処理装置４０２は、制御部４５０、記憶部４６０、タッチパネル７０、および、通信部８０を備える。処理装置４０２は、第１実施形態による処理装置１０２と同様に、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行する。また、記憶部４６０は、第１実施形態の記憶部６０と同様に、ワイヤロープＷの測定結果、および、異常部分の判定結果などの情報を記憶（保存）する。そして、第４実施形態では、記憶部４６０は、ワイヤロープＷの異常部分を判定するためのプログラム４６１と処理用パラメータ４６２を記憶している。
【0096】
（処理装置による異常部分の判定処理）
制御部４５０は、抽出処理部４５２を含んでいる。具体的には、ハードウェアとしての制御部４５０は、ソフトウェア（プログラム４６１）の機能ブロックとして、抽出処理部４５２を含むように構成されている。制御部４５０は、取得された検出信号に基づいて、プログラム４６１を実行することによって、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行するように構成されている。制御部４５０のその他の構成は、第１実施形態と同様である。
制御部４５０は、抽出処理部４５２を含んでいる。具体的には、ハードウェアとしての制御部４５０は、ソフトウェア（プログラム４６１）の機能ブロックとして、抽出処理部４５２を含むように構成されている。制御部４５０は、取得された検出信号に基づいて、プログラム４６１を実行することによって、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行するように構成されている。制御部４５０のその他の構成は、第１実施形態と同様である。
【0097】
制御部４５０は、第１実施形態と同様の制御処理によって、磁束波形を生成する。そして、第４実施形態では、制御部４５０は、異常部分の種類の判定よりも前に、生成された磁束波形に対して１回目の微分処理を実行するように構成されている。第４実施形態では、記憶部４６０に記憶されている処理用パラメータ４６２は、第１微分区間ｄｔ４０１、第２微分区間ｄｔ２、シフト量Ｄを含んでいる。第４実施形態では、第１微分区間ｄｔ４０１は、異常部分の種類によらず共通の値（たとえば、２０［ｍｓ］）となる。第２微分区間ｄｔ２およびシフト量Ｄは、第１実施形態と同様に、異常部分の種類（素線断線およびキンク）ごとに、予め取得された異常部分を示す異常波形に基づいて設定されて記憶部４６０に記憶される。
【0098】
制御部４５０の１回目微分処理部５４は、第１実施形態と同様の処理を行うことによって、生成された磁性波形の全体に対して、所定の第１微分区間ｄｔ４０１における１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行することによって、１回微分波形を取得する。
【0099】
そして、図１９に示すように、第４実施形態では、抽出処理部４５２（制御部４５０は）、２回微分波形を取得する前に、１回微分波形に基づく値と所定の抽出判定しきい値Ｓ４００との比較に基づいて、１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出するように構成されている。すなわち、抽出処理部４５２は、所定の抽出判定しきい値Ｓ４００との比較に基づいて、１回微分波形のうちから、素線断線の異常部分であると推測される部分と、キンクの異常部分であると推測される部分とを、それぞれ区別して抽出するように構成されている。
【0100】
たとえば、抽出処理部４５２は、１回微分波形の値が所定の抽出判定しきい値Ｓ４００よりも大きい部分を素線断線の異常部分であると推測される部分として抽出する。そして、制御部４５０の２回目微分処理部５５は、１回微分波形のうちの素線断線の異常部分であると推測される部分に対して、正の成分を抽出する処理を実行するとともに２回目の微分処理を実行することによって、素線断線の異常部分を判定するための２回微分波形を取得するように構成されている。また、抽出処理部４５２は、１回微分波形の値が所定の抽出判定しきい値Ｓ４００よりも小さい部分をキンクの異常部分であると推測される部分として抽出する。そして、制御部４５０の２回目微分処理部５５は、１回微分波形のうちのキンクの異常部分であると推測される部分に対して、負の成分を抽出する処理を実行するとともに２回目の微分処理を実行することによって、キンクの異常部分を判定するための２回微分波形を取得するように構成されている。なお、取得された２回微分波形の各々から加算波形を取得する処理と、異常部分の判定を行う処理とは、第１実施形態と同様である。また、第４実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。
【0101】
（第４実施形態の効果）
第４実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第４実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
【0102】
第４実施形態では、２回微分波形を取得する前に、１回微分波形に基づく値と所定の抽出判定しきい値Ｓ４００との比較に基づいて、１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出する。このように構成すれば、所定の抽出判定しきい値Ｓ４００を用いることによって、１回微分波形のうちから異常部分に対応する部分を容易に区別することができる。そのため、抽出判定しきい値Ｓ４００を用いることによって、異常部分の種類に対応するように１回微分波形の正の成分または負の成分を容易に抽出することができるので、異常部分が含まれずノイズのみが含まれる成分の波形をキャンセルした状態で２回微分波形を容易に取得することができる。その結果、ワイヤロープＷの異常を判定するための加算波形を容易に取得することができるので、ワイヤロープＷの異常部分を精度よく、かつ、容易に判定することができる。
【0103】
なお、第４実施形態のその他の効果は、上記第１～第３実施形態と同様である。
【0104】
［変形例］
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。
【0105】
たとえば、上記第１～第４実施形態では、ワイヤロープＷの磁束の変化を検出するワイヤロープ検査装置１０１と異常部分を判定する処理を実行する処理装置１０２（２０２、３０２、４０２）とが別個に構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、図２０に示す変形例によるワイヤロープ検査装置５００のように、ワイヤロープＷの磁束の変化の検出と、異常部分を判定する処理とを１つの（共通の）ワイヤロープ検査装置５００によって実行するように構成してもよい。具体的には、ワイヤロープ検査装置５００は、第１実施形態のワイヤロープ検査装置１０１と同様に整磁部１０、励磁部２０、および、検出部３０を備える。また、ワイヤロープ検査装置５００は、処理部５５０を備える。処理部５５０は、波形生成部５５１、抽出処理部５５２、パラメータ設定部５５３、１回目微分処理部５５４、２回目微分処理部５５５、加算処理部５５６、および、判定処理部５５７、を含んでいる。この波形生成部５５１、抽出処理部５５２、パラメータ設定部５５３、１回目微分処理部５５４、２回目微分処理部５５５、加算処理部５５６、および、判定処理部５５７は、それぞれ、第１実施形態の制御部５０の波形生成部５１、抽出処理部５２、パラメータ設定部５３、１回目微分処理部５４、２回目微分処理部５５、加算処理部５６、および、判定処理部５７と同様である。すなわち、ワイヤロープ検査装置５００は、第１実施形態による処理装置１０２の制御部５０と同様に、検出部３０により取得された検出信号に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行するように構成されている。なお、変形例によるワイヤロープ検査装置５００では、第１～第４実施形態のワイヤロープ検査システム１００（２００、３００、４００）と同様に、ワイヤロープＷに固有のノイズとワイヤロープＷの異常部分とを区別することにより、ワイヤロープＷの異常部分を精度よく判定することができる。
【0106】
また、上記第１～第４実施形態では、処理装置１０２（２０２、３０２、４０２）が、検査作業者が用いるタブレットＰＣである例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、異常部分の判定処理を実行する処理装置は、サーバ装置などの遠隔地に設置された装置であってもよい。すなわち、ワイヤロープ検査装置１０１による測定結果を遠隔地に設置された処理装置によって取得するとともに、エレベータ１０３（ワイヤロープＷ）から離間した位置において、異常部分の判定を実行するように構成してもよい。
【0107】
また、上記第１～第３実施形態では、予め取得されたワイヤロープＷの異常部分を示す信号波形である異常波形に基づいて第１微分区間ｄｔ１を１５［ｍｓ］、第２微分区間ｄｔ２を７［ｍｓ］に設定する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第１微分区間ｄｔ１および第２微分区間ｄｔ２は、検査作業者による入力操作に基づいて設定されるようにしてもよい。また、異常波形に基づいて設定される第１微分区間ｄｔ１は、１５［ｍｓ］に限られず、第２微分区間ｄｔ２は、７［ｍｓ］に限られない。
【0108】
また、上記第１～第３実施形態では、第２微分区間ｄｔ２が第１微分区間ｄｔ１の約半分の長さである例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第２微分区間ｄｔ２を第１微分区間ｄｔ１と略等しい長さとしてもよい。
【0109】
また、上記第１、第３、および、第４実施形態では、シフト量Ｄを予め取得されたワイヤロープＷの異常部分を示す信号波形である異常波形に基づいて２０［ｍｓ］に設定する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、シフト量Ｄを検査作業者による入力操作に基づいて設定するようにしてもよい。また、異常波形に基づいて設定されるシフト量Ｄは、２０［ｍｓ］に限られない。
【0110】
また、上記第１および第３実施形態では、シフト量Ｄが第１微分区間ｄｔ１よりも大きい値である例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、シフト量Ｄを第１微分区間ｄｔ１よりも小さい値としてもよい。
【0111】
また、上記第２実施形態では、所定のシフト量変更範囲（Ｄｍｉｎ～Ｄｍａｘ）が０［ｍｓ］以上３０［ｍｓ］以下である例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、シフト量変更範囲の最小値のＤｍｉｎは、０［ｍｓ］以外の値であってもよいし、最大値のＤｍａｘは３０［ｍｓ］以外の値であってもよい。
【0112】
また、上記第１～第３実施形態では、生成された磁性波形の形状に基づいて異常部分の種類を区別して判定するように構成されており、上記第４実施形態では、１回微分波形に基づく値と所定の抽出判定しきい値Ｓ４００との比較に基づいて、異常部分の種類を区別して判定するように構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、磁束波形または１回微分波形に対して、異常部分の種類の判定の制御を実行しないようにしてもよい。具体的には、検査作業者による入力操作に基づいて、判定を行う異常部分の種類を予め設定するように構成するとともに、予め設定された異常部分の種類に基づいて、１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出するようにしてもよい。
【0113】
また、上記第４実施形態では、１つの抽出判定しきい値Ｓ４００よりも大きいか否かを判定することによって、１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれを抽出するかを判定する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、所定の抽出判定しきい値を、異常部分の種類に対応するように複数設定するようにしてもよい。具体的には、第１のしきい値よりも１回微分波形の値が大きい部分を、素線断線の異常部分と推測される部分として取得するとともに、第１のしきい値とは異なる第２のしきい値よりも１回微分波形の値が小さい部分を、キンクの異常部分と推測される部分として取得するようにしてもよい。また、所定の抽出判定しきい値Ｓ４００は、たとえば、０であってもよい。すなわち、１回微分波形の値が正の部分を素線断線の異常部分を判定するための部分として設定するとともに、１回微分波形が負の部分をキンクの異常部分を判定するための部分として設定するようにしてもよい。
【0114】
また、上記第１～第４実施形態では、判定を行う対象の異常部分の種類を、素線断線とキンクとの２種類とする例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、キンクのかわりに、鉄粉などの異物の付着、または、さびなどを異常部分として判定するようにしてもよい。また、２種類よりも多くの種類の異常部分の判定を行うように構成してもよい。また、１つの種類のみの異常部分の判定を行うようにしてもよい。
【0115】
また、上記第１～第４実施形態では、取得された検出信号に基づく信号波形である磁束波形を、サンプリングごとに前後１０個ずつ（２０［ｍｓ］）の範囲で移動平均処理を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。移動平均処理の範囲は、２０［ｍｓ］以外の範囲であってもよい。また、磁束波形を生成する際に移動平均処理を実行しなくともよい。また、ローパスフィルタ処理など、移動平均処理以外のノイズ除去処理を実行して、磁束波形を生成してもよい。
【0116】
また、上記第１～第４実施形態では、エレベータ１０３のワイヤロープＷを検査する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、クレーンおよびロープウェイなどのエレベータ以外のワイヤロープを検査するように構成してもよい。
【0117】
また、上記第１～第４実施形態では、検出部３０の２つの検知コイル３１ａおよび３１ｂが、それぞれ独立した鞍型コイル（サドル型コイル）である例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、検出部３０を、ワイヤロープＷの周りに巻回されるように配置され、差動接続された１組のソレノイドコイルであってもよい。
【0118】
また、上記第１～第４実施形態では、励振コイル２１がワイヤロープＷに対して検知コイル３１ａおよび３１ｂの外側を巻回するように設けられている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、励磁部２０と検出部３０とを、ワイヤロープＷの延びる方向に沿って並べて配置してもよい。
【0119】
また、上記第１～第４実施形態では、ワイヤロープＷを挟んで互いに対向するように設けられた整磁部１０ａおよび整磁部１０ｂが、それぞれＮ極をワイヤロープＷ側に向けるように配置されている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、２つの整磁部が、Ｎ極とＳ極とをそれぞれワイヤロープＷに向けるように配置されていてもよい。また、２つの整磁部は、互いに対向する方向ではなく、ワイヤロープＷの延びる方向に沿ってＮ極とＳ極とを配置するようにしてもよい。その場合、２つの整磁部は同じ向きでもよいし異なる向きでもよい。また、整磁部は、ワイヤロープＷの延びる方向に沿って平行な向きから、斜めにずれた向きに磁界を印加するように配置されていてもよい。また、１つの整磁部を、ワイヤロープＷの延びる方向と交わる方向の片側に配置してよい。また、整磁部を設けずに、磁界を整えないで磁束を検知するようにしてもよい。
【0120】
また、上記第１～第４実施形態では、整磁部１０を永久磁石によって構成する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、整磁部を、電磁石によって構成してもよい。
【0121】
また、上記第１～第４実施形態では、検知コイル３１ａおよび３１ｂを４本のワイヤロープＷの各々に設ける例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、検知コイルを、１以上３以下のワイヤロープＷの磁束を検知するように構成してもよいし、５以上のワイヤロープＷの磁束を検知するように構成してもよい。また、複数のワイヤロープＷの磁束を１つの検知コイルによって検知するように構成してもよい。
【0122】
［態様］
上記した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
上記した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
【0123】
（項目１）
検査対象であるワイヤロープに対して磁界を印加するステップと、
前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得するステップと、
取得された前記検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得するステップと、
取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得するステップと、
取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とを、前記ワイヤロープの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成するステップと、
生成された前記加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、前記ワイヤロープの前記異常部分を判定するステップと、を備える、ワイヤロープ検査方法。
検査対象であるワイヤロープに対して磁界を印加するステップと、
前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得するステップと、
取得された前記検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得するステップと、
取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得するステップと、
取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とを、前記ワイヤロープの異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成するステップと、
生成された前記加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、前記ワイヤロープの前記異常部分を判定するステップと、を備える、ワイヤロープ検査方法。
【0124】
（項目２）
前記１回微分波形を取得するステップは、前記磁束波形に対して、所定の第１微分区間による前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含み、
前記２回微分波形を取得するステップは、前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行することによって取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、所定の第２微分区間による前記２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含む、項目１に記載のワイヤロープ検査方法。
前記１回微分波形を取得するステップは、前記磁束波形に対して、所定の第１微分区間による前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含み、
前記２回微分波形を取得するステップは、前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行することによって取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、所定の第２微分区間による前記２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含む、項目１に記載のワイヤロープ検査方法。
【0125】
（項目３）
前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップは、予め取得された前記ワイヤロープの前記異常部分を示す信号波形である異常波形に基づいて設定された前記第１微分区間による前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含み、
前記２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップは、前記異常波形に基づいて設定された前記第２微分区間による前記２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含む、項目２に記載のワイヤロープ検査方法。
前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップは、予め取得された前記ワイヤロープの前記異常部分を示す信号波形である異常波形に基づいて設定された前記第１微分区間による前記１回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含み、
前記２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップは、前記異常波形に基づいて設定された前記第２微分区間による前記２回目の微分処理を時間軸に沿って順次実行するステップを含む、項目２に記載のワイヤロープ検査方法。
【0126】
（項目４）
前記加算波形を生成するステップよりも前に、予め取得された前記ワイヤロープの前記異常部分を示す信号波形である異常波形に基づいて、前記加算波形を生成するためのシフト量を予め設定するステップをさらに備え、
前記加算波形を生成するステップは、前記２回微分波形の正の成分と、前記２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方を、予め設定された前記シフト量に基づいて時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方に加算することによって、前記加算波形を生成するステップを含む、項目１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
前記加算波形を生成するステップよりも前に、予め取得された前記ワイヤロープの前記異常部分を示す信号波形である異常波形に基づいて、前記加算波形を生成するためのシフト量を予め設定するステップをさらに備え、
前記加算波形を生成するステップは、前記２回微分波形の正の成分と、前記２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方を、予め設定された前記シフト量に基づいて時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方に加算することによって、前記加算波形を生成するステップを含む、項目１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
【0127】
（項目５）
前記加算波形を生成するステップよりも前に、
取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方を、所定のシフト量変更範囲内においてシフト量を変更させながら時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方に加算することによって、複数の予備加算波形を生成するステップを含み、
前記加算波形を生成するステップは、生成された前記複数の予備加算波形の各々に基づく最大値が最も大きい前記予備加算波形の前記シフト量に基づいて、前記２回微分波形の正の成分と、前記２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方を、前記ワイヤロープの前記異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方に加算することによって、前記加算波形を生成するステップを含む、項目１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
前記加算波形を生成するステップよりも前に、
取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方を、所定のシフト量変更範囲内においてシフト量を変更させながら時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方に加算することによって、複数の予備加算波形を生成するステップを含み、
前記加算波形を生成するステップは、生成された前記複数の予備加算波形の各々に基づく最大値が最も大きい前記予備加算波形の前記シフト量に基づいて、前記２回微分波形の正の成分と、前記２回微分波形の負の成分の絶対値とのいずれか一方を、前記ワイヤロープの前記異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で、いずれか他方に加算することによって、前記加算波形を生成するステップを含む、項目１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
【0128】
（項目６）
前記１回微分波形を取得するステップよりも前に、検査対象である前記ワイヤロープの磁束の変化を予め検出することによって取得された基準となる基準検出信号と、取得された前記検出信号との差分に基づいて前記磁束波形を生成するステップをさらに備える、項目１～５のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
前記１回微分波形を取得するステップよりも前に、検査対象である前記ワイヤロープの磁束の変化を予め検出することによって取得された基準となる基準検出信号と、取得された前記検出信号との差分に基づいて前記磁束波形を生成するステップをさらに備える、項目１～５のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
【0129】
（項目７）
前記２回微分波形を取得するステップよりも前に、前記磁束波形の形状に基づいて前記１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出するステップをさらに備える、項目１～６のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
前記２回微分波形を取得するステップよりも前に、前記磁束波形の形状に基づいて前記１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出するステップをさらに備える、項目１～６のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
【0130】
（項目８）
前記２回微分波形を取得するステップよりも前に、前記１回微分波形に基づく値と所定の抽出判定しきい値との比較に基づいて、前記１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出するステップをさらに備える、項目１～６のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
前記２回微分波形を取得するステップよりも前に、前記１回微分波形に基づく値と所定の抽出判定しきい値との比較に基づいて、前記１回微分波形の正の成分または負の成分のいずれかを抽出するステップをさらに備える、項目１～６のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査方法。
【0131】
（項目９）
検査対象であるワイヤロープの磁束の変化を検出するワイヤロープ検査装置と、
前記ワイヤロープ検査装置による前記ワイヤロープの測定結果に基づいて、前記ワイヤロープの異常部分を判定する処理を実行する処理装置と、を備え、
前記ワイヤロープ検査装置は、前記ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得する検出部と、を含み、
前記処理装置は、
前記検出部により取得された前記検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する１回目微分処理部と、
前記１回目微分処理部により取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する２回目微分処理部と、
前記２回目微分処理部により取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とを、前記ワイヤロープの前記異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成する加算処理部と、
前記加算処理部により生成された前記加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、前記ワイヤロープの前記異常部分を判定する判定処理部と、を含む、ワイヤロープ検査システム。
検査対象であるワイヤロープの磁束の変化を検出するワイヤロープ検査装置と、
前記ワイヤロープ検査装置による前記ワイヤロープの測定結果に基づいて、前記ワイヤロープの異常部分を判定する処理を実行する処理装置と、を備え、
前記ワイヤロープ検査装置は、前記ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得する検出部と、を含み、
前記処理装置は、
前記検出部により取得された前記検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する１回目微分処理部と、
前記１回目微分処理部により取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する２回目微分処理部と、
前記２回目微分処理部により取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とを、前記ワイヤロープの前記異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成する加算処理部と、
前記加算処理部により生成された前記加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、前記ワイヤロープの前記異常部分を判定する判定処理部と、を含む、ワイヤロープ検査システム。
【0132】
（項目１０）
検査対象であるワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、
前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得する検出部と、
前記検出部により取得された前記検出信号に基づいて、前記ワイヤロープの異常部分を判定する処理を実行する処理部と、を備え、
前記処理部は、
前記検出部により取得された前記検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する１回目微分処理部と、
前記１回目微分処理部により取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する２回目微分処理部と、
前記２回目微分処理部により取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とを、前記ワイヤロープの前記異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成する加算処理部と、
前記加算処理部により生成された前記加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、前記ワイヤロープの前記異常部分を判定する判定処理部と、を含む、ワイヤロープ検査装置。
検査対象であるワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、
前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得する検出部と、
前記検出部により取得された前記検出信号に基づいて、前記ワイヤロープの異常部分を判定する処理を実行する処理部と、を備え、
前記処理部は、
前記検出部により取得された前記検出信号に基づく信号波形である磁束波形に対して、１回目の微分処理を実行することによって１回微分波形を取得する１回目微分処理部と、
前記１回目微分処理部により取得された前記１回微分波形の正の成分または負の成分に対して、２回目の微分処理を実行することによって、２回微分波形を取得する２回目微分処理部と、
前記２回目微分処理部により取得された前記２回微分波形の正の成分と、取得された前記２回微分波形の負の成分の絶対値とを、前記ワイヤロープの前記異常部分を示す部分が重なり合うように時間軸に沿ってシフトさせた状態で加算することによって、加算波形を生成する加算処理部と、
前記加算処理部により生成された前記加算波形に基づく値が所定の判定しきい値よりも大きい場合に、前記ワイヤロープの前記異常部分を判定する判定処理部と、を含む、ワイヤロープ検査装置。
【符号の説明】
【0133】
２０ 励磁部
３０ 検出部
５４、５５４ １回目微分処理部
５５、５５５ ２回目微分処理部
５６、２５６、５５６ 加算処理部
５７、５５７ 判定処理部
１００、２００、３００、４００ ワイヤロープ検査システム
１０１、５００ ワイヤロープ検査装置
１０２、２０２、３０２、４０２ 処理装置
５５０ 処理部
３０ 検出部
５４、５５４ １回目微分処理部
５５、５５５ ２回目微分処理部
５６、２５６、５５６ 加算処理部
５７、５５７ 判定処理部
１００、２００、３００、４００ ワイヤロープ検査システム
１０１、５００ ワイヤロープ検査装置
１０２、２０２、３０２、４０２ 処理装置
５５０ 処理部
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】