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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024137169
(43)【公開日】2024-10-07
(54)【発明の名称】磁気ディスク装置及びライト保証回数の調整方法
(51)【国際特許分類】
G11B 20/10 20060101AFI20240927BHJP
G11B 5/09 20060101ALI20240927BHJP
G11B 20/12 20060101ALI20240927BHJP
【ＦＩ】
G11B20/10 301Z
G11B5/09 301Z
G11B20/12
【審査請求】未請求
【請求項の数】10
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023048580
(22)【出願日】2023-03-24
(71)【出願人】
【識別番号】000003078
【氏名又は名称】株式会社東芝
(71)【出願人】
【識別番号】317011920
【氏名又は名称】東芝デバイス＆ストレージ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110001737
【氏名又は名称】弁理士法人スズエ国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】浦田 幸雄
【テーマコード（参考）】
5D044
【Ｆターム（参考）】
5D044BC01
5D044CC04
5D044DE49
5D044DE57
5D044GK18
5D044GK19
(57)【要約】
【課題】 ライト保証回数を調整することのできる磁気ディスク装置及びライト保証回数の調整方法を提供する。
【解決手段】 磁気ディスク装置１は、ディスクＤＫ、ヘッドＨＤ、記憶部、及び制御部を備える。基準テーブルが持つ複数の基準回数はｍ個あり、調整テーブルが持つ複数の調整値はｎ個ある。上記制御部は、検出部６２と、異常情報を検出した場合に対応する基準回数を上記基準回数と異なる数値を持つライト保証回数に調整する調整部６３と、カウンタ６４と、判断部６５と、リフレッシュ処理部６６と、を備える。
【選択図】図１
【解決手段】 磁気ディスク装置１は、ディスクＤＫ、ヘッドＨＤ、記憶部、及び制御部を備える。基準テーブルが持つ複数の基準回数はｍ個あり、調整テーブルが持つ複数の調整値はｎ個ある。上記制御部は、検出部６２と、異常情報を検出した場合に対応する基準回数を上記基準回数と異なる数値を持つライト保証回数に調整する調整部６３と、カウンタ６４と、判断部６５と、リフレッシュ処理部６６と、を備える。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
記録層を有するディスクであって、前記記録層は、半径方向及び円周方向の少なくとも一方の方向にｍ個に区分された場合に前記ｍ個の領域である複数の区分領域を含み、前記少なくとも一方の方向に前記ｍ個より多いｎ個に区分された場合に前記ｎ個の領域である複数の調整領域を含む、前記ディスクと、
前記記録層に対してデータをライトし、前記記録層からデータをリードするヘッドと、
前記記録層に対応する複数の基準回数を持つ基準テーブルと、前記記録層に対応する複数の調整値を持つ調整テーブルと、を記憶する記憶部であって、前記複数の基準回数は、前記ｍ個あり、前記複数の区分領域に一対一で対応し、前記複数の調整値は、前記ｎ個あり、前記複数の調整領域に一対一で対応している、前記記憶部と、
制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記記録層の状態及び前記ヘッドの特性を検出する検出部と、
前記検出部で前記状態及び前記特性が正常であることを示す正常情報を検出した場合に各々の前記調整値を更新せず各々の前記基準回数を前記基準回数と同一の数値を持つライト保証回数に調整し、前記検出部で前記状態及び前記特性の一方が異常であることを示す異常情報を検出した場合に前記複数の調整値のうち対応する調整値を更新して前記対応する調整値に基づいて前記複数の基準回数のうち対応する基準回数を前記基準回数と異なる数値を持つ前記ライト保証回数に調整する調整部と、
前記記録層の対象セクタに前記半径方向にて隣接する隣接セクタにデータがライトされる毎に前記対象セクタのライト回数をカウントし、前記ライト回数を前記記憶部に記録するカウンタと、
前記記憶部に記録された前記ライト回数の合計が前記ライト保証回数を超えたかどうか判断する判断部と、
前記合計が前記ライト保証回数を超えた際に、前記対象セクタの対象データをリードし、前記対象データを前記対象セクタにリライトし、前記記憶部に記録した前記対象セクタのライト回数をリセットするリフレッシュ処理部と、を備える、
磁気ディスク装置。
前記記録層に対してデータをライトし、前記記録層からデータをリードするヘッドと、
前記記録層に対応する複数の基準回数を持つ基準テーブルと、前記記録層に対応する複数の調整値を持つ調整テーブルと、を記憶する記憶部であって、前記複数の基準回数は、前記ｍ個あり、前記複数の区分領域に一対一で対応し、前記複数の調整値は、前記ｎ個あり、前記複数の調整領域に一対一で対応している、前記記憶部と、
制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記記録層の状態及び前記ヘッドの特性を検出する検出部と、
前記検出部で前記状態及び前記特性が正常であることを示す正常情報を検出した場合に各々の前記調整値を更新せず各々の前記基準回数を前記基準回数と同一の数値を持つライト保証回数に調整し、前記検出部で前記状態及び前記特性の一方が異常であることを示す異常情報を検出した場合に前記複数の調整値のうち対応する調整値を更新して前記対応する調整値に基づいて前記複数の基準回数のうち対応する基準回数を前記基準回数と異なる数値を持つ前記ライト保証回数に調整する調整部と、
前記記録層の対象セクタに前記半径方向にて隣接する隣接セクタにデータがライトされる毎に前記対象セクタのライト回数をカウントし、前記ライト回数を前記記憶部に記録するカウンタと、
前記記憶部に記録された前記ライト回数の合計が前記ライト保証回数を超えたかどうか判断する判断部と、
前記合計が前記ライト保証回数を超えた際に、前記対象セクタの対象データをリードし、前記対象データを前記対象セクタにリライトし、前記記憶部に記録した前記対象セクタのライト回数をリセットするリフレッシュ処理部と、を備える、
磁気ディスク装置。
【請求項2】
前記記憶部は、第１重み係数をさらに記憶し、
前記検出部は、前記記録層のデータが復旧不可能になった場合に第１異常情報を検出し、
前記記録層のうち、前記半径方向に第１長さを持ち、前記円周方向に第１幅を持つ範囲を第１範囲とすると、
前記検出部が、前記対象セクタの前記対象データが復旧不可能になったことを示す前記第１異常情報を検出した場合、
前記調整部は、前記第１範囲の重心が前記対象セクタに位置するように前記第１範囲を位置決めし、前記複数の調整領域のうち前記第１範囲に重なった全ての調整領域に対応する全ての調整値に前記第１重み係数を掛け、前記第１重み係数を掛けた各々の前記調整値を第１調整値に更新する、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
前記検出部は、前記記録層のデータが復旧不可能になった場合に第１異常情報を検出し、
前記記録層のうち、前記半径方向に第１長さを持ち、前記円周方向に第１幅を持つ範囲を第１範囲とすると、
前記検出部が、前記対象セクタの前記対象データが復旧不可能になったことを示す前記第１異常情報を検出した場合、
前記調整部は、前記第１範囲の重心が前記対象セクタに位置するように前記第１範囲を位置決めし、前記複数の調整領域のうち前記第１範囲に重なった全ての調整領域に対応する全ての調整値に前記第１重み係数を掛け、前記第１重み係数を掛けた各々の前記調整値を第１調整値に更新する、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項3】
前記制御部は、
前記記録層のデータをリードするリード処理部をさらに有し、
前記記憶部は、第２重み係数と、リードリトライ閾値を持つリードリトライテーブルと、をさらに記憶し、
前記検出部は、前記リード処理部によって前記記録層の同一のデータをリードする回数が前記リードリトライ閾値を超えた場合に第２異常情報を検出し、
前記記録層のうち、前記半径方向に第２長さを持ち、前記円周方向に第２幅を持つ範囲を第２範囲とすると、
前記検出部が、前記対象セクタの前記対象データをリードする回数が前記リードリトライ閾値を超えたことを示す前記第２異常情報を検出した場合、
前記調整部は、前記第２範囲の重心が前記対象セクタに位置するように前記第２範囲を位置決めし、前記複数の調整領域のうち前記第２範囲に重なった全ての調整領域に対応する全ての調整値に前記第２重み係数を掛け、前記第２重み係数を掛けた各々の前記調整値を第２調整値に更新する、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
前記記録層のデータをリードするリード処理部をさらに有し、
前記記憶部は、第２重み係数と、リードリトライ閾値を持つリードリトライテーブルと、をさらに記憶し、
前記検出部は、前記リード処理部によって前記記録層の同一のデータをリードする回数が前記リードリトライ閾値を超えた場合に第２異常情報を検出し、
前記記録層のうち、前記半径方向に第２長さを持ち、前記円周方向に第２幅を持つ範囲を第２範囲とすると、
前記検出部が、前記対象セクタの前記対象データをリードする回数が前記リードリトライ閾値を超えたことを示す前記第２異常情報を検出した場合、
前記調整部は、前記第２範囲の重心が前記対象セクタに位置するように前記第２範囲を位置決めし、前記複数の調整領域のうち前記第２範囲に重なった全ての調整領域に対応する全ての調整値に前記第２重み係数を掛け、前記第２重み係数を掛けた各々の前記調整値を第２調整値に更新する、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項4】
前記記憶部は、第３重み係数をさらに記憶し、
前記検出部は、前記リフレッシュ処理部によって前記記録層のデータのリードをリトライした場合に第３異常情報を検出し、
前記記録層のうち、前記半径方向に第３長さを持ち、前記円周方向に第３幅を持つ範囲を第３範囲とすると、
前記検出部が、前記対象セクタの前記対象データのリードをリトライしたことを示す前記第３異常情報を検出した場合、
前記調整部は、前記第３範囲の重心が前記対象セクタに位置するように前記第３範囲を位置決めし、前記複数の調整領域のうち前記第３範囲に重なった全ての調整領域に対応する全ての調整値に前記第３重み係数を掛け、前記第３重み係数を掛けた各々の前記調整値を第３調整値に更新する、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
前記検出部は、前記リフレッシュ処理部によって前記記録層のデータのリードをリトライした場合に第３異常情報を検出し、
前記記録層のうち、前記半径方向に第３長さを持ち、前記円周方向に第３幅を持つ範囲を第３範囲とすると、
前記検出部が、前記対象セクタの前記対象データのリードをリトライしたことを示す前記第３異常情報を検出した場合、
前記調整部は、前記第３範囲の重心が前記対象セクタに位置するように前記第３範囲を位置決めし、前記複数の調整領域のうち前記第３範囲に重なった全ての調整領域に対応する全ての調整値に前記第３重み係数を掛け、前記第３重み係数を掛けた各々の前記調整値を第３調整値に更新する、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項5】
前記記憶部は、第１重み係数をさらに記憶し、
前記検出部は、前記記録層のデータが復旧不可能になった場合に第１異常情報を検出し、
前記記録層のうち、前記半径方向に第１長さを持ち、前記円周方向に第１幅を持つ範囲を第１範囲とすると、
前記検出部が、前記対象セクタの前記対象データが復旧不可能になったことを示す前記第１異常情報を検出した場合、
前記調整部は、前記第１範囲の重心が前記対象セクタに位置するように前記第１範囲を位置決めし、前記複数の調整領域のうち前記第１範囲に重なった全ての調整領域に対応する全ての調整値に前記第１重み係数を掛け、前記第１重み係数を掛けた各々の前記調整値を第１調整値に更新し、
前記ライト保証回数は、前記基準回数を前記調整値で割った数値であり、
前記第１重み係数をａとし、前記第３重み係数をｃとし、前記第１調整値に基づいて調整された前記ライト保証回数を第１ライト保証回数とし、前記第３調整値に基づいて調整された前記ライト保証回数を第３ライト保証回数とすると、
ａ＞ｃ＞＋１であり、
前記第１ライト保証回数は、前記第３ライト保証回数より少ない、
請求項４に記載の磁気ディスク装置。
前記検出部は、前記記録層のデータが復旧不可能になった場合に第１異常情報を検出し、
前記記録層のうち、前記半径方向に第１長さを持ち、前記円周方向に第１幅を持つ範囲を第１範囲とすると、
前記検出部が、前記対象セクタの前記対象データが復旧不可能になったことを示す前記第１異常情報を検出した場合、
前記調整部は、前記第１範囲の重心が前記対象セクタに位置するように前記第１範囲を位置決めし、前記複数の調整領域のうち前記第１範囲に重なった全ての調整領域に対応する全ての調整値に前記第１重み係数を掛け、前記第１重み係数を掛けた各々の前記調整値を第１調整値に更新し、
前記ライト保証回数は、前記基準回数を前記調整値で割った数値であり、
前記第１重み係数をａとし、前記第３重み係数をｃとし、前記第１調整値に基づいて調整された前記ライト保証回数を第１ライト保証回数とし、前記第３調整値に基づいて調整された前記ライト保証回数を第３ライト保証回数とすると、
ａ＞ｃ＞＋１であり、
前記第１ライト保証回数は、前記第３ライト保証回数より少ない、
請求項４に記載の磁気ディスク装置。
【請求項6】
前記記憶部は、第４重み係数と、ヘッド特性閾値を持つヘッド特性テーブルと、をさらに記憶し、
前記検出部は、前記ヘッドの特性の悪化量が前記ヘッド特性閾値を超えた場合に第４異常情報を検出し、
前記記録層のうち、前記半径方向に第４長さを持ち、前記円周方向に第４幅を持つ範囲を第４範囲とすると、
前記検出部が、前記ヘッドの特性の悪化量が前記ヘッド特性閾値を超えたことを示す前記第４異常情報を検出した場合、
前記調整部は、前記第４範囲の重心が特定のセクタに位置するように前記第４範囲を位置決めし、前記複数の調整領域のうち前記第４範囲に重なった全ての調整領域に対応する全ての調整値に前記第４重み係数を掛け、前記第４重み係数を掛けた各々の前記調整値を第４調整値に更新する、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
前記検出部は、前記ヘッドの特性の悪化量が前記ヘッド特性閾値を超えた場合に第４異常情報を検出し、
前記記録層のうち、前記半径方向に第４長さを持ち、前記円周方向に第４幅を持つ範囲を第４範囲とすると、
前記検出部が、前記ヘッドの特性の悪化量が前記ヘッド特性閾値を超えたことを示す前記第４異常情報を検出した場合、
前記調整部は、前記第４範囲の重心が特定のセクタに位置するように前記第４範囲を位置決めし、前記複数の調整領域のうち前記第４範囲に重なった全ての調整領域に対応する全ての調整値に前記第４重み係数を掛け、前記第４重み係数を掛けた各々の前記調整値を第４調整値に更新する、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項7】
前記第４範囲は、前記記録層の全ての調整領域に重ねられ、
前記検出部が、前記第４異常情報を検出した場合、
前記調整部は、前記調整テーブルの全ての調整値を前記第４調整値に更新する、
請求項６に記載の磁気ディスク装置。
前記検出部が、前記第４異常情報を検出した場合、
前記調整部は、前記調整テーブルの全ての調整値を前記第４調整値に更新する、
請求項６に記載の磁気ディスク装置。
【請求項8】
前記第４重み係数をｄとし、前記ヘッドの特性の悪化量をαとし、前記第４調整値に基づいて調整された前記ライト保証回数を第４ライト保証回数とすると、
前記第４ライト保証回数は、前記基準回数を、前記第４調整値と前記αとの積で割った数値である、
請求項６に記載の磁気ディスク装置。
前記第４ライト保証回数は、前記基準回数を、前記第４調整値と前記αとの積で割った数値である、
請求項６に記載の磁気ディスク装置。
【請求項9】
前記検出部で異常情報を検出した場合、更新された前記調整値に基づいて調整された前記ライト保証回数は、対応する前記基準回数より小さい数値である、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項10】
記録層を有するディスクであって、前記記録層は、半径方向及び円周方向の少なくとも一方の方向にｍ個に区分された場合に前記ｍ個の領域である複数の区分領域を含み、前記少なくとも一方の方向に前記ｍ個より多いｎ個に区分された場合に前記ｎ個の領域である複数の調整領域を含む、前記ディスクと、前記記録層に対してデータをライトし、前記記録層からデータをリードするヘッドと、前記記録層に対応する複数の基準回数を持つ基準テーブルと、前記記録層に対応する複数の調整値を持つ調整テーブルと、を記憶する記憶部であって、前記複数の基準回数は、前記ｍ個あり、前記複数の区分領域に一対一で対応し、前記複数の調整値は、前記ｎ個あり、前記複数の調整領域に一対一で対応している、前記記憶部と、制御部と、を備える磁気ディスク装置に適用されるライト保証回数の調整方法であって、
前記記録層の状態及び前記ヘッドの特性を検出し、
前記状態及び前記特性が正常であることを示す正常情報を検出した場合に各々の前記調整値を更新せず各々の前記基準回数を前記基準回数と同一の数値を持つライト保証回数に調整し、前記状態及び前記特性の一方が異常であることを示す異常情報を検出した場合に前記複数の調整値のうち対応する調整値を更新して前記対応する調整値に基づいて前記複数の基準回数のうち対応する基準回数を前記基準回数と異なる数値を持つ前記ライト保証回数に調整し、
前記記録層の対象セクタに前記半径方向にて隣接する隣接セクタにデータがライトされる毎に前記対象セクタのライト回数をカウントし、前記ライト回数を前記記憶部に記録し、
前記記憶部に記録された前記ライト回数の合計が前記ライト保証回数を超えたかどうか判断し、
前記合計が前記ライト保証回数を超えた際に、前記対象セクタの対象データをリードし、前記対象データを前記対象セクタにリライトし、前記記憶部に記録した前記対象セクタのライト回数をリセットする、
ライト保証回数の調整方法。
前記記録層の状態及び前記ヘッドの特性を検出し、
前記状態及び前記特性が正常であることを示す正常情報を検出した場合に各々の前記調整値を更新せず各々の前記基準回数を前記基準回数と同一の数値を持つライト保証回数に調整し、前記状態及び前記特性の一方が異常であることを示す異常情報を検出した場合に前記複数の調整値のうち対応する調整値を更新して前記対応する調整値に基づいて前記複数の基準回数のうち対応する基準回数を前記基準回数と異なる数値を持つ前記ライト保証回数に調整し、
前記記録層の対象セクタに前記半径方向にて隣接する隣接セクタにデータがライトされる毎に前記対象セクタのライト回数をカウントし、前記ライト回数を前記記憶部に記録し、
前記記憶部に記録された前記ライト回数の合計が前記ライト保証回数を超えたかどうか判断し、
前記合計が前記ライト保証回数を超えた際に、前記対象セクタの対象データをリードし、前記対象データを前記対象セクタにリライトし、前記記憶部に記録した前記対象セクタのライト回数をリセットする、
ライト保証回数の調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、磁気ディスク装置及びライト保証回数の調整方法に関する。
【背景技術】
【0002】
磁気ディスク装置として、ディスクの半径方向に間隔に置いて複数のトラックをライトする通常記録（Conventional Magnetic Recording:ＣＭＲ）型式（又は、従来記録型式）の磁気ディスク装置、ディスクの半径方向に複数のトラックを重ね書きする瓦記録（Shingled write Magnetic Recording：ＳＭＲ、又はShingled Write Recording：ＳＷＲ）型式の磁気ディスク装置、及び通常記録型式及び瓦記録型式を選択して実行するハイブリッド記録型式の磁気ディスク装置が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】米国特許出願公開第２０２２／００７６６９５号明細書
【特許文献2】米国特許第１０５４６６０１号明細書
【特許文献3】米国特許出願公開第２０１０／０１８８７６７号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本実施形態は、ライト保証回数を調整することのできる磁気ディスク装置及びライト保証回数の調整方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【0005】
一実施形態に係る磁気ディスク装置は、
記録層を有するディスクであって、前記記録層は、半径方向及び円周方向の少なくとも一方の方向にｍ個に区分された場合に前記ｍ個の領域である複数の区分領域を含み、前記少なくとも一方の方向に前記ｍ個より多いｎ個に区分された場合に前記ｎ個の領域である複数の調整領域を含む、前記ディスクと、
前記記録層に対してデータをライトし、前記記録層からデータをリードするヘッドと、
前記記録層に対応する複数の基準回数を持つ基準テーブルと、前記記録層に対応する複数の調整値を持つ調整テーブルと、を記憶する記憶部であって、前記複数の基準回数は、前記ｍ個あり、前記複数の区分領域に一対一で対応し、前記複数の調整値は、前記ｎ個あり、前記複数の調整領域に一対一で対応している、前記記憶部と、
制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記記録層の状態及び前記ヘッドの特性を検出する検出部と、
前記検出部で前記状態及び前記特性が正常であることを示す正常情報を検出した場合に各々の前記調整値を更新せず各々の前記基準回数を前記基準回数と同一の数値を持つライト保証回数に調整し、前記検出部で前記状態及び前記特性の一方が異常であることを示す異常情報を検出した場合に前記複数の調整値のうち対応する調整値を更新して前記対応する調整値に基づいて前記複数の基準回数のうち対応する基準回数を前記基準回数と異なる数値を持つ前記ライト保証回数に調整する調整部と、
前記記録層の対象セクタに前記半径方向にて隣接する隣接セクタにデータがライトされる毎に前記対象セクタのライト回数をカウントし、前記ライト回数を前記記憶部に記録するカウンタと、
前記記憶部に記録された前記ライト回数の合計が前記ライト保証回数を超えたかどうか判断する判断部と、
前記合計が前記ライト保証回数を超えた際に、前記対象セクタの対象データをリードし、前記対象データを前記対象セクタにリライトし、前記記憶部に記録した前記対象セクタのライト回数をリセットするリフレッシュ処理部と、を備える。
記録層を有するディスクであって、前記記録層は、半径方向及び円周方向の少なくとも一方の方向にｍ個に区分された場合に前記ｍ個の領域である複数の区分領域を含み、前記少なくとも一方の方向に前記ｍ個より多いｎ個に区分された場合に前記ｎ個の領域である複数の調整領域を含む、前記ディスクと、
前記記録層に対してデータをライトし、前記記録層からデータをリードするヘッドと、
前記記録層に対応する複数の基準回数を持つ基準テーブルと、前記記録層に対応する複数の調整値を持つ調整テーブルと、を記憶する記憶部であって、前記複数の基準回数は、前記ｍ個あり、前記複数の区分領域に一対一で対応し、前記複数の調整値は、前記ｎ個あり、前記複数の調整領域に一対一で対応している、前記記憶部と、
制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記記録層の状態及び前記ヘッドの特性を検出する検出部と、
前記検出部で前記状態及び前記特性が正常であることを示す正常情報を検出した場合に各々の前記調整値を更新せず各々の前記基準回数を前記基準回数と同一の数値を持つライト保証回数に調整し、前記検出部で前記状態及び前記特性の一方が異常であることを示す異常情報を検出した場合に前記複数の調整値のうち対応する調整値を更新して前記対応する調整値に基づいて前記複数の基準回数のうち対応する基準回数を前記基準回数と異なる数値を持つ前記ライト保証回数に調整する調整部と、
前記記録層の対象セクタに前記半径方向にて隣接する隣接セクタにデータがライトされる毎に前記対象セクタのライト回数をカウントし、前記ライト回数を前記記憶部に記録するカウンタと、
前記記憶部に記録された前記ライト回数の合計が前記ライト保証回数を超えたかどうか判断する判断部と、
前記合計が前記ライト保証回数を超えた際に、前記対象セクタの対象データをリードし、前記対象データを前記対象セクタにリライトし、前記記憶部に記録した前記対象セクタのライト回数をリセットするリフレッシュ処理部と、を備える。
【0006】
また、一実施形態に係るライト保証回数の調整方法は、
記録層を有するディスクであって、前記記録層は、半径方向及び円周方向の少なくとも一方の方向にｍ個に区分された場合に前記ｍ個の領域である複数の区分領域を含み、前記少なくとも一方の方向に前記ｍ個より多いｎ個に区分された場合に前記ｎ個の領域である複数の調整領域を含む、前記ディスクと、前記記録層に対してデータをライトし、前記記録層からデータをリードするヘッドと、前記記録層に対応する複数の基準回数を持つ基準テーブルと、前記記録層に対応する複数の調整値を持つ調整テーブルと、を記憶する記憶部であって、前記複数の基準回数は、前記ｍ個あり、前記複数の区分領域に一対一で対応し、前記複数の調整値は、前記ｎ個あり、前記複数の調整領域に一対一で対応している、前記記憶部と、制御部と、を備える磁気ディスク装置に適用されるライト保証回数の調整方法であって、
前記記録層の状態及び前記ヘッドの特性を検出し、
前記状態及び前記特性が正常であることを示す正常情報を検出した場合に各々の前記調整値を更新せず各々の前記基準回数を前記基準回数と同一の数値を持つライト保証回数に調整し、前記状態及び前記特性の一方が異常であることを示す異常情報を検出した場合に前記複数の調整値のうち対応する調整値を更新して前記対応する調整値に基づいて前記複数の基準回数のうち対応する基準回数を前記基準回数と異なる数値を持つ前記ライト保証回数に調整し、
前記記録層の対象セクタに前記半径方向にて隣接する隣接セクタにデータがライトされる毎に前記対象セクタのライト回数をカウントし、前記ライト回数を前記記憶部に記録し、
前記記憶部に記録された前記ライト回数の合計が前記ライト保証回数を超えたかどうか判断し、
前記合計が前記ライト保証回数を超えた際に、前記対象セクタの対象データをリードし、前記対象データを前記対象セクタにリライトし、前記記憶部に記録した前記対象セクタのライト回数をリセットする。
記録層を有するディスクであって、前記記録層は、半径方向及び円周方向の少なくとも一方の方向にｍ個に区分された場合に前記ｍ個の領域である複数の区分領域を含み、前記少なくとも一方の方向に前記ｍ個より多いｎ個に区分された場合に前記ｎ個の領域である複数の調整領域を含む、前記ディスクと、前記記録層に対してデータをライトし、前記記録層からデータをリードするヘッドと、前記記録層に対応する複数の基準回数を持つ基準テーブルと、前記記録層に対応する複数の調整値を持つ調整テーブルと、を記憶する記憶部であって、前記複数の基準回数は、前記ｍ個あり、前記複数の区分領域に一対一で対応し、前記複数の調整値は、前記ｎ個あり、前記複数の調整領域に一対一で対応している、前記記憶部と、制御部と、を備える磁気ディスク装置に適用されるライト保証回数の調整方法であって、
前記記録層の状態及び前記ヘッドの特性を検出し、
前記状態及び前記特性が正常であることを示す正常情報を検出した場合に各々の前記調整値を更新せず各々の前記基準回数を前記基準回数と同一の数値を持つライト保証回数に調整し、前記状態及び前記特性の一方が異常であることを示す異常情報を検出した場合に前記複数の調整値のうち対応する調整値を更新して前記対応する調整値に基づいて前記複数の基準回数のうち対応する基準回数を前記基準回数と異なる数値を持つ前記ライト保証回数に調整し、
前記記録層の対象セクタに前記半径方向にて隣接する隣接セクタにデータがライトされる毎に前記対象セクタのライト回数をカウントし、前記ライト回数を前記記憶部に記録し、
前記記憶部に記録された前記ライト回数の合計が前記ライト保証回数を超えたかどうか判断し、
前記合計が前記ライト保証回数を超えた際に、前記対象セクタの対象データをリードし、前記対象データを前記対象セクタにリライトし、前記記憶部に記録した前記対象セクタのライト回数をリセットする。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【発明を実施するための形態】
【0008】
以下、図面を参照しながら一実施形態に係る磁気ディスク装置１及びライト保証回数の調整方法について詳細に説明する。まず、磁気ディスク装置１の構成について説明する。図１は、本実施形態に係る磁気ディスク装置１の構成を示すブロック図である。本実施形態において、磁気ディスク装置１は、通常記録型式の磁気ディスク装置である。但し、後述する技術は、瓦記録型式の磁気ディスク装置と、通常記録型式及び瓦記録型式を選択して実行するハイブリッド記録型式の磁気ディスク装置とに適用してもよい。
【0009】
図１に示すように、磁気ディスク装置１は、記録媒体としての複数、例えば、１～６枚のディスク（磁気ディスク）ＤＫと、駆動モータとしてのスピンドルモータ（ＳＰＭ）２０と、ヘッドスタックアッセンブリ２２と、ドライバＩＣ１２０と、ヘッドアンプ集積回路（以下、ヘッドアンプＩＣ、又はプリアンプ）１３０と、揮発性メモリ７０と、バッファメモリ（バッファ）８０と、不揮発性メモリ９０と、１チップの集積回路であるシステムコントローラ１１０とを備えている。また、磁気ディスク装置１は、ホストシステム（以下、単に、ホストと称する）１００と接続される。
【0010】
各ディスクＤＫは、例えば、直径９５ｍｍ（３．５インチ）に形成され、その両面に記録層（磁気記録層）Ｙを有している。なお、本実施形態において、磁気ディスク装置１は、１～６枚のディスクＤＫを備えているが、ディスクＤＫの枚数はこれに限られない。また、磁気ディスク装置１は、単一のディスクＤＫを備えてもよい。
【0011】
ヘッドスタックアッセンブリ２２は、ボイスコイルモータ（以下ＶＣＭと称する）２４の駆動により、アーム３０に搭載されているヘッドＨＤをディスクＤＫ上の目標位置まで移動制御する。
【0012】
ディスクＤＫは、そのデータをライト可能な領域に、ユーザから利用可能なユーザデータ領域Ｕと、システム管理に必要な情報をライトするシステム領域Ｓとが割り当てられている。ここで、ディスクＤＫの複数のトラックのうち、任意のトラックを対象トラックとし、ディスクＤＫの半径方向に対象トラックに隣接するトラックを隣接トラックとする。対象トラックにおいて、ディスクＤＫの円周方向に並んだ複数のセクタのうち任意のセクタを対象セクタとする。隣接トラックにおいて、ディスクＤＫの円周方向に並んだ複数のセクタのうちディスクＤＫの半径方向に対象セクタに隣接するセクタを隣接セクタとする。
【0013】
ヘッドＨＤは、ディスクＤＫに対して情報の記録、再生を行なう。ヘッドＨＤは、スライダを本体として、スライダに実装されているライトヘッドＷＨＤとリードヘッドＲＨＤとを備えている。ライトヘッドＷＨＤは、ディスクＤＫの記録層Ｙに対してデータをライトする。リードヘッドＲＨＤは、ディスクＤＫの記録層Ｙのデータトラックからデータをリードする。
【0014】
ドライバＩＣ１２０は、システムコントローラ１１０（詳細には、後述するＭＰＵ６０）の制御に従って、ＳＰＭ２０およびＶＣＭ２４の駆動を制御する。ＳＰＭ２０は、複数枚のディスクＤＫを支持及び回転させる。
【0015】
ヘッドアンプＩＣ１３０は、リードアンプ及びライトドライバを備えている。リードアンプは、ディスクＤＫからリードしたリード信号を増幅して、システムコントローラ１１０（詳細には、後述するリード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル１４０）に出力する。ライトドライバは、Ｒ／Ｗチャネル１４０から出力される信号に応じたライト電流をヘッドＨＤに出力する。
【0016】
揮発性メモリ７０は、電力供給が断たれると保存しているデータが失われる半導体メモリである。揮発性メモリ７０は、磁気ディスク装置１の各部での処理に必要なデータ等を格納する。揮発性メモリ７０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、又はＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）である。
【0017】
バッファメモリ８０は、磁気ディスク装置１とホスト１００との間で送受信されるデータ等を一時的に記録する半導体メモリである。なお、バッファメモリ８０は、揮発性メモリ７０と一体に構成されていてもよい。バッファメモリ８０は、例えば、ＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＳＤＲＡＭ、ＦｅＲＡＭ（Ferroelectric Random Access memory）、又はＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）等である。
【0018】
不揮発性メモリ９０は、電力供給が断たれても保存しているデータを記録する半導体メモリである。不揮発性メモリ９０は、例えば、ＮＯＲ型またはＮＡＮＤ型のフラッシュＲＯＭ（Flash Read Only Memory :ＦＲＯＭ）である。
【0019】
本実施形態において、不揮発性メモリ９０は、各種のテーブル等を記憶する記憶部として機能している。例えば、不揮発性メモリ９０は、複数の基準回数を持つ基準テーブルＴＬ１と、複数の調整値を持つ調整テーブルＴＬ２と、リードリトライ閾値を持つリードリトライテーブルＴＬ３と、ヘッド特性閾値を持つヘッド特性テーブルＴＬ４と、を記憶している。
【0020】
なお、各種のテーブル等を記憶する記憶部は、不揮発性メモリ９０に限定されるものではなく、磁気ディスク装置１内の記録部であればよく、例えばシステム領域Ｓであってもよい。
【0021】
システムコントローラ（コントローラ）１１０は、例えば、複数の素子が単一チップに集積されたSystem-on-a-Chip(ＳｏＣ)と称される大規模集積回路（ＬＳＩ）を用いて実現される。システムコントローラ１１０は、リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル１４０と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）１５０と、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）６０とを含んでいる。システムコントローラ１１０は、ドライバＩＣ１２０、ヘッドアンプＩＣ１３０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、不揮発性メモリ９０、及びホスト１００に電気的に接続されている。
【0022】
Ｒ／Ｗチャネル１４０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ディスクＤＫからホスト１００に転送されるリードデータ及びホスト１００から転送されるライトデータの信号処理を実行する。Ｒ／Ｗチャネル１４０は、ライトデータを変調する回路、又は機能を有している。また、Ｒ／Ｗチャネル１４０は、リードデータの信号品質を測定する回路、又は機能を有している。Ｒ／Ｗチャネル１４０は、例えば、ヘッドアンプＩＣ１３０、ＨＤＣ１５０、ＭＰＵ６０等に電気的に接続されている。
【0023】
ＨＤＣ１５０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ホスト１００とＲ／Ｗチャネル１４０との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ１５０は、例えば、Ｒ／Ｗチャネル１４０、ＭＰＵ６０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、不揮発性メモリ９０等に電気的に接続されている。
【0024】
ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部を制御する制御部であり、メインコントローラである。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ１２０を介してＶＣＭ２４を制御し、ヘッドＨＤの位置決めを行なうサーボ制御を実行する。ＭＰＵ６０は、ディスクＤＫへのデータのライト動作を制御すると共に、ホスト１００から転送されるライトデータの保存先を選択する。また、ＭＰＵ６０は、ディスクＤＫからのデータのリード動作を制御すると共に、ディスクＤＫからホスト１００に転送されるリードデータの処理を制御する。ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部に接続されている。ＭＰＵ６０は、例えば、ドライバＩＣ１２０、Ｒ／Ｗチャネル１４０、ＨＤＣ１５０等に電気的に接続されている。
【0025】
ＭＰＵ６０は、リード／ライト処理部６１と、検出部６２と、調整部６３と、カウンタ６４と、判断部６５と、リフレッシュ処理部６６と、を備えている。ＭＰＵ６０は、これら各部、例えば、リード／ライト処理部６１、検出部６２、調整部６３、カウンタ６４、判断部６５、リフレッシュ処理部６６等の処理をファームウェア上で実行する。なお、ＭＰＵ６０は、これら各部を回路として備えてもよい。
【0026】
リード／ライト処理部６１は、ライト処理部６１ａ及びリード処理部６１ｂを有している。ホスト１００からのコマンドに従って、ライト処理部６１ａはディスクＤＫの記録層Ｙに対するデータのライト処理を制御し、リード処理部６１ｂはディスクＤＫの記録層Ｙからのデータのリード処理を制御する。リード／ライト処理部６１は、ドライバＩＣ１２０を介してＶＣＭ２４を制御し、ヘッドＨＤをディスクＤＫ上の目標位置（所定の半径位置）に位置決めし、リード処理又はライト処理を実行する。
【0027】
検出部６２は、ディスクＤＫの記録層Ｙの状態及びヘッドＨＤの特性を検出することができる。例えば、検出部６２は、記録層Ｙの状態及びヘッドＨＤの特性が正常であることを示す正常情報を検出することができる。検出部６２は、記録層Ｙの状態及びヘッドＨＤの特性の一方が異常であることを示す異常情報を検出する場合がある。
【0028】
ディスクＤＫの記録層Ｙの状態とは、記録層Ｙの物理的及び磁気的な状態と、ヘッドＨＤの特性との両方に基づく、記録層Ｙのデータの読み取り易さである。
例えば、検出部６２は、記録層Ｙのデータが復旧可能であるかどうかを検出することができる。記録層Ｙのデータを復旧可能であるとは、リフレッシュ処理を良好に行うことができる（記録層Ｙの本来のデータをリードすることができ、上記本来のデータを記録層Ｙにリライトすることができる）状態にあることである。記録層Ｙのデータを復旧不可能であるとは、リフレッシュ処理を良好に行うことができない（記録層Ｙの本来のデータをリードすることができない）状態にあることである。
また、検出部６２は、リードする際にリードのリトライが必要であるデータであるかどうかを検出することができる。
さらに、検出部６２は、リフレッシュ処理の際にリードのリトライが必要であるデータであるかどうかを検出することができる。
例えば、検出部６２は、記録層Ｙのデータが復旧可能であるかどうかを検出することができる。記録層Ｙのデータを復旧可能であるとは、リフレッシュ処理を良好に行うことができる（記録層Ｙの本来のデータをリードすることができ、上記本来のデータを記録層Ｙにリライトすることができる）状態にあることである。記録層Ｙのデータを復旧不可能であるとは、リフレッシュ処理を良好に行うことができない（記録層Ｙの本来のデータをリードすることができない）状態にあることである。
また、検出部６２は、リードする際にリードのリトライが必要であるデータであるかどうかを検出することができる。
さらに、検出部６２は、リフレッシュ処理の際にリードのリトライが必要であるデータであるかどうかを検出することができる。
【0029】
検出部６２がヘッドＨＤの特性を検出するとは、ヘッドＨＤのリード特性値及びライト特性値を検出することである。リード特性値はヘッドＨＤのリード処理の特性を示す値であり、ライト特性値はヘッドＨＤのライト処理の特性を示す値である。例えば、リード処理の誤り率を測定することでリード特性値を求めることができ、ライト処理の誤り率を測定することでライト特性値を求めることができる。
ヘッドＨＤがディスクＤＫに接触することでヘッドＨＤが損傷したり、ヘッドＨＤが経年劣化したりすることで、ヘッドＨＤの特性は変化する。そこで、検出部６２は、ヘッドＨＤの特性（例えば、誤り率）を検出することができる。磁気ディスク装置１の使用を開始した直後（初期）にて、検出部６２は、ヘッドＨＤの特性を検出することができる。また、磁気ディスク装置１の使用を開始した後に、検出部６２は、ヘッドＨＤの特性を定期的に検出することができる。これにより、検出部６２は、ヘッドＨＤの特性の悪化量を定期的に検出することができる。
ヘッドＨＤがディスクＤＫに接触することでヘッドＨＤが損傷したり、ヘッドＨＤが経年劣化したりすることで、ヘッドＨＤの特性は変化する。そこで、検出部６２は、ヘッドＨＤの特性（例えば、誤り率）を検出することができる。磁気ディスク装置１の使用を開始した直後（初期）にて、検出部６２は、ヘッドＨＤの特性を検出することができる。また、磁気ディスク装置１の使用を開始した後に、検出部６２は、ヘッドＨＤの特性を定期的に検出することができる。これにより、検出部６２は、ヘッドＨＤの特性の悪化量を定期的に検出することができる。
【0030】
検出部６２は、記録層Ｙのデータが復旧不可能になった場合に第１異常情報を検出することができる。
検出部６２は、リード処理部６１ｂによって記録層Ｙの同一のデータをリードする回数がリードリトライテーブルＴＬ３のリードリトライ閾値を超えた場合に第２異常情報を検出することができる。例えば、リードのリトライ１回目は同じ条件でリードしたり、リードのリトライ２回目はオフセットしてリードしたりすることができる。
検出部６２は、リフレッシュ処理部６６によって記録層Ｙのデータのリードをリトライした場合に第３異常情報を検出することができる。
検出部６２は、ヘッドＨＤの特性の悪化量αがヘッド特性テーブルＴＬ４のヘッド特性閾値を超えた場合に第４異常情報を検出することができる。
検出部６２は、リード処理部６１ｂによって記録層Ｙの同一のデータをリードする回数がリードリトライテーブルＴＬ３のリードリトライ閾値を超えた場合に第２異常情報を検出することができる。例えば、リードのリトライ１回目は同じ条件でリードしたり、リードのリトライ２回目はオフセットしてリードしたりすることができる。
検出部６２は、リフレッシュ処理部６６によって記録層Ｙのデータのリードをリトライした場合に第３異常情報を検出することができる。
検出部６２は、ヘッドＨＤの特性の悪化量αがヘッド特性テーブルＴＬ４のヘッド特性閾値を超えた場合に第４異常情報を検出することができる。
【0031】
調整部６３は、正常情報を検出した場合に、調整テーブルＴＬ２の各々の調整値を更新せず基準テーブルＴＬ１の各々の基準回数をライト保証回数に調整する。その場合、ライト保証回数は、基準回数と同一の数値を持っている。
調整部６３は、異常情報を検出した場合に、調整テーブルＴＬ２の複数の調整値のうち対応する調整値を更新して、対応する調整値に基づいて基準テーブルＴＬ１の複数の基準回数のうち対応する基準回数をライト保証回数に調整する。その場合、ライト保証回数は、基準回数と異なる数値を持っている。
調整部６３は、異常情報を検出した場合に、調整テーブルＴＬ２の複数の調整値のうち対応する調整値を更新して、対応する調整値に基づいて基準テーブルＴＬ１の複数の基準回数のうち対応する基準回数をライト保証回数に調整する。その場合、ライト保証回数は、基準回数と異なる数値を持っている。
【0032】
例えば、検出部６２で異常情報を検出した場合、更新された調整値に基づいて調整されたライト保証回数は、対応する基準回数より小さい数値である。ＭＰＵ６０は、異常情報を検出することでリードエラーが発生し易くなる記録層Ｙの領域を予想することができる。ここで、リードエラーが発生するとは、アンリカバリー状態になることである。ＭＰＵ６０は、複数のライト保証回数のうち、リードエラーが発生し易くなると予想される領域に対応するライト保証回数のみ、小さい数値に調整することができる。これにより、ＭＰＵ６０は、記録層Ｙのデータのリードエラーを回避しつつ、リフレッシュの発動による性能悪化を最小限にとどめることができる。
【0033】
図１及び図４に示すように、カウンタ６４は、記録層Ｙの対象セクタ（セクタＳＣａｖ）に半径方向ｄｒ１にて隣接する隣接セクタ（セクタＳＣａ（ｖ－１）及びセクタＳＣａ（ｖ＋１））にデータがライトされる毎に、対象セクタ（セクタＳＣａｖ）のライト回数をカウントし、上記ライト回数を不揮発性メモリ９０（記憶部）に記録する。言い換えると、カウンタ６４は、対象セクタ（セクタＳＣａｖ）のライト回数の合計を更新することができる。
【0034】
例えば、不揮発性メモリ９０（記憶部）は、複数のカウント加算係数をさらに記憶してもよい。その場合、カウンタ６４は、複数のカウント加算係数に基づいてライト回数をカウントすることができる。例えば、隣接セクタ（セクタＳＣａ（ｖ－１））にデータをライトした際に対象セクタ（セクタＳＣａｖ）へのＡＴＩ（Adjacent Track Interference：隣接トラック干渉）の影響が小さい場合、カウンタ６４は、不揮発性メモリ９０から「１」であるカウント加算係数を選択し、対象セクタ（セクタＳＣａｖ）のライト回数を「１」回とカウントすることができる。
【0035】
図１及び図５に示すように、一方、隣接セクタ（セクタＳＣａ（ｖ－１））にデータをライトした際に対象セクタ（セクタＳＣａｖ）へのＡＴＩの影響が大きい場合、カウンタ６４は、不揮発性メモリ９０から「１．５」であるカウント加算係数を選択し、対象セクタ（セクタＳＣａｖ）のライト回数を「１．５」回とカウントすることができる。
なお、セクタＳＣａ（ｖ－１）にデータをライトした際に、カウンタ６４は、セクタＳＣａｖのライト回数の合計を例えば「１」足した値に増加させるが、セクタＳＣａ（ｖ－１）のライト回数の合計に関しては「１」回に更新する。
なお、セクタＳＣａ（ｖ－１）にデータをライトした際に、カウンタ６４は、セクタＳＣａｖのライト回数の合計を例えば「１」足した値に増加させるが、セクタＳＣａ（ｖ－１）のライト回数の合計に関しては「１」回に更新する。
【0036】
図１に示すように、判断部６５は、不揮発性メモリ９０（記憶部）に記録されたライト回数の合計が上記ライト保証回数を超えたかどうか判断することができる。
図１及び図４に示すように、リフレッシュ処理部６６は、対象セクタ（セクタＳＣａｖ）のライト回数の合計が上記ライト保証回数を超えた際に、リフレッシュ処理を行うことができる。すなわち、リフレッシュ処理部６６は、対象セクタ（セクタＳＣａｖ）の対象データをリードし、上記対象データを対象セクタにリライトし、不揮発性メモリ９０（記憶部）に記録した対象セクタのライト回数を「０」回にリセットすることができる。
図１及び図４に示すように、リフレッシュ処理部６６は、対象セクタ（セクタＳＣａｖ）のライト回数の合計が上記ライト保証回数を超えた際に、リフレッシュ処理を行うことができる。すなわち、リフレッシュ処理部６６は、対象セクタ（セクタＳＣａｖ）の対象データをリードし、上記対象データを対象セクタにリライトし、不揮発性メモリ９０（記憶部）に記録した対象セクタのライト回数を「０」回にリセットすることができる。
【0037】
図２は、磁気ディスク装置１の一部を示す斜視図であり、複数枚のディスクＤＫ及び複数のヘッドＨＤを示す図である。
図２に示すように、円周方向において、ディスクＤＫの回転する方向を回転方向ｄｒ３と称する。なお、図２に示した例では、回転方向は、反時計回りで示しているが、逆向き（時計回り）であってもよい。また、ディスクＤＫに対するヘッドＨＤの進行方向ｄｒ２は、回転方向ｄｒ３と逆向きである。進行方向ｄｒ２は、円周方向においてディスクＤＫに対してヘッドＨＤがデータをシーケンシャルにライト及びリードする方向、つまり、円周方向においてディスクＤＫに対してヘッドＨＤが進行する方向である。また、ディスクＤＫの半径方向ｄｒ１において、ディスクＤＫの外周に向かう方向を外方向（外側）と称し、外方向と反対方向を内方向（内側）と称する。
図２に示すように、円周方向において、ディスクＤＫの回転する方向を回転方向ｄｒ３と称する。なお、図２に示した例では、回転方向は、反時計回りで示しているが、逆向き（時計回り）であってもよい。また、ディスクＤＫに対するヘッドＨＤの進行方向ｄｒ２は、回転方向ｄｒ３と逆向きである。進行方向ｄｒ２は、円周方向においてディスクＤＫに対してヘッドＨＤがデータをシーケンシャルにライト及びリードする方向、つまり、円周方向においてディスクＤＫに対してヘッドＨＤが進行する方向である。また、ディスクＤＫの半径方向ｄｒ１において、ディスクＤＫの外周に向かう方向を外方向（外側）と称し、外方向と反対方向を内方向（内側）と称する。
【0038】
磁気ディスク装置１は、ディスクＤＫ１乃至ディスクＤＫｉのｉ枚のディスクと、ヘッドＨＤ１乃至ヘッドＨＤｊのｊ個のヘッドと、を備えている。本実施形態において、ヘッドＨＤの個数は、ディスクＤＫの枚数の２倍である（ｊ＝２・ｉ）。
ディスクＤＫ１乃至ＤＫｉは、同軸に設けられ、互いに間隔を置いて重ねられている。ディスクＤＫ１乃至ＤＫｉの直径は、同じである。ここで、“同じ”、“同一”、“一致”、“同等”などの用語は、全く同じという意味はもちろん、実質的に同じであると見做せる程度に異なるという意味を含んでいる。なお、ディスクＤＫ１乃至ＤＫｉの直径は、互いに異なってもよい。
ディスクＤＫ１乃至ＤＫｉは、同軸に設けられ、互いに間隔を置いて重ねられている。ディスクＤＫ１乃至ＤＫｉの直径は、同じである。ここで、“同じ”、“同一”、“一致”、“同等”などの用語は、全く同じという意味はもちろん、実質的に同じであると見做せる程度に異なるという意味を含んでいる。なお、ディスクＤＫ１乃至ＤＫｉの直径は、互いに異なってもよい。
【0039】
各々のディスクＤＫは、両側に記録層Ｙを有している。例えば、ディスクＤＫ１は、第１記録層Ｙａ１と、第１記録層Ｙａ１の反対側の第２記録層Ｙｂ１と、を有している。ディスクＤＫ２は、第１記録層Ｙａ２と、第１記録層Ｙａ２の反対側の第２記録層Ｙｂ２と、を有している。ディスクＤＫｉは、第１記録層Ｙａｉと、第１記録層Ｙａｉの反対側の第２記録層Ｙｂｉと、を有している。各々の第１記録層Ｙａは、表面又は記録面と称される場合もある。各々の第２記録層Ｙｂは、裏面又は記録面と称される場合もある。
【0040】
上述したように、本実施形態の磁気ディスク装置１は、通常記録型式の磁気ディスク装置である。そのため、各々の記録層Ｙのユーザデータ領域Ｕは、通常記録領域である。通常記録型式の磁気ディスク装置において、ユーザデータ領域Ｕ内でランダムにデータをライトすることが許可されている、つまり、通常記録が許可されている。
【0041】
各々の記録層Ｙは、ユーザデータ領域Ｕ及びシステム領域Ｓを有している。
第１記録層Ｙａ１は、ユーザデータ領域Ｕａ１及びシステム領域Ｓａ１を有している。
第２記録層Ｙｂ１は、ユーザデータ領域Ｕｂ１及びシステム領域Ｓｂ１を有している。
第１記録層Ｙａ２は、ユーザデータ領域Ｕａ２及びシステム領域Ｓａ２を有している。
第２記録層Ｙｂ２は、ユーザデータ領域Ｕｂ２及びシステム領域Ｓｂ２を有している。
第１記録層Ｙａｉは、ユーザデータ領域Ｕａｉ及びシステム領域Ｓａｉを有している。
第２記録層Ｙｂｉは、ユーザデータ領域Ｕｂｉ及びシステム領域Ｓｂｉを有している。
第１記録層Ｙａ１は、ユーザデータ領域Ｕａ１及びシステム領域Ｓａ１を有している。
第２記録層Ｙｂ１は、ユーザデータ領域Ｕｂ１及びシステム領域Ｓｂ１を有している。
第１記録層Ｙａ２は、ユーザデータ領域Ｕａ２及びシステム領域Ｓａ２を有している。
第２記録層Ｙｂ２は、ユーザデータ領域Ｕｂ２及びシステム領域Ｓｂ２を有している。
第１記録層Ｙａｉは、ユーザデータ領域Ｕａｉ及びシステム領域Ｓａｉを有している。
第２記録層Ｙｂｉは、ユーザデータ領域Ｕｂｉ及びシステム領域Ｓｂｉを有している。
【0042】
ユーザデータ領域Ｕａ１（第１記録層Ｙａ１）のうち、図中二重の破線で挟まれたトラックをトラックＴａ１とする。ユーザデータ領域Ｕｂ１（第２記録層Ｙｂ１）のうち、トラックＴａ１の反対側に位置するトラックをトラックＴｂ１とする。
ユーザデータ領域Ｕａ２（第１記録層Ｙａ２）のうち、図中二重の破線で挟まれたトラックをトラックＴｃ１とする。ユーザデータ領域Ｕｂ２（第２記録層Ｙｂ２）のうち、トラックＴｃ１の反対側に位置するトラックをトラックＴｄ１とする。
ユーザデータ領域Ｕａｉ（第１記録層Ｙａｉ）のうち、図中二重の破線で挟まれたトラックをトラックＴｅ１とする。ユーザデータ領域Ｕｂｉ（第２記録層Ｙｂｉ）のうち、トラックＴｅ１の反対側に位置するトラックをトラックＴｆ１とする。
本実施形態において、トラックＴａ１，Ｔｂ１，Ｔｃ１，Ｔｄ１，Ｔｅ１，Ｔｆ１は、同一のシリンダに位置している。
ユーザデータ領域Ｕａ２（第１記録層Ｙａ２）のうち、図中二重の破線で挟まれたトラックをトラックＴｃ１とする。ユーザデータ領域Ｕｂ２（第２記録層Ｙｂ２）のうち、トラックＴｃ１の反対側に位置するトラックをトラックＴｄ１とする。
ユーザデータ領域Ｕａｉ（第１記録層Ｙａｉ）のうち、図中二重の破線で挟まれたトラックをトラックＴｅ１とする。ユーザデータ領域Ｕｂｉ（第２記録層Ｙｂｉ）のうち、トラックＴｅ１の反対側に位置するトラックをトラックＴｆ１とする。
本実施形態において、トラックＴａ１，Ｔｂ１，Ｔｃ１，Ｔｄ１，Ｔｅ１，Ｔｆ１は、同一のシリンダに位置している。
【0043】
ヘッドＨＤは、ディスクＤＫに対向している。本実施形態において、ディスクＤＫの各記録層Ｙには、１個のヘッドＨＤが対向している。例えば、ヘッドＨＤ１は、ディスクＤＫ１の第１記録層Ｙａ１に対向し、第１記録層Ｙａ１にデータをライトし、第１記録層Ｙａ１からデータをリードする。ヘッドＨＤ２は、ディスクＤＫ１の第２記録層Ｙｂ１に対向し、第２記録層Ｙｂ１にデータをライトし、第２記録層Ｙｂ１からデータをリードする。ヘッドＨＤ３は、ディスクＤＫ２の第１記録層Ｙａ２に対向し、第１記録層Ｙａ２にデータをライトし、第１記録層Ｙａ２からデータをリードする。ヘッドＨＤ４は、ディスクＤＫ２の第２記録層Ｙｂ２に対向し、第２記録層Ｙｂ２にデータをライトし、第２記録層Ｙｂ２からデータをリードする。ヘッドＨＤｊ－１は、ディスクＤＫｉの第１記録層Ｙａｉに対向し、第１記録層Ｙａｉにデータをライトし、第１記録層Ｙａｉからデータをリードする。ヘッドＨＤｊは、ディスクＤＫｉの第２記録層Ｙｂｉに対向し、第２記録層Ｙｂｉにデータをライトし、第２記録層Ｙｂｉからデータをリードする。
【0044】
図３は、通常記録処理が行われる複数のトラックの一部を示す模式図である。
図３に示すように、ディスクＤＫ１の第１記録層Ｙａ１は、半径方向ｄｒ１に並んだトラックＴａ１、トラックＴａ２、トラックＴａ３、…、トラックＴａ（ｖ－１）、トラックＴａｖ、トラックＴａ（ｖ＋１）等を有している。図中、トラックＴａ１はディスクＤＫ１の最も外周ＯＤ側に位置し、トラックＴａ（ｖ＋１）はディスクＤＫ１の最も内周ＩＤ側に位置している。
図３に示すように、ディスクＤＫ１の第１記録層Ｙａ１は、半径方向ｄｒ１に並んだトラックＴａ１、トラックＴａ２、トラックＴａ３、…、トラックＴａ（ｖ－１）、トラックＴａｖ、トラックＴａ（ｖ＋１）等を有している。図中、トラックＴａ１はディスクＤＫ１の最も外周ＯＤ側に位置し、トラックＴａ（ｖ＋１）はディスクＤＫ１の最も内周ＩＤ側に位置している。
【0045】
トラックＴａ１は、半径方向ｄｒ１にトラック幅Ｗ１を有し、半径方向ｄｒ１の中心にトラックセンタＣ１を有している。トラックＴａ１と同様に、トラックＴａ２はトラック幅Ｗ２及びトラックセンタＣ２を有し、トラックＴａ３はトラック幅Ｗ３及びトラックセンタＣ３を有し、トラックＴａ（ｖ－１）はトラック幅Ｗ（ｖ－１）及びトラックセンタＣ（ｖ－１）を有し、トラックＴａｖはトラック幅Ｗｖ及びトラックセンタＣｖを有し、トラックＴａ（ｖ＋１）はトラック幅Ｗ（ｖ＋１）及びトラックセンタＣ（ｖ＋１）を有している。トラック幅Ｗ１乃至Ｗ（ｖ＋１）は、同一である。但し、トラック幅Ｗ１乃至Ｗ（ｖ＋１）は、互いに異なってもよい。
【0046】
トラックＴａ１乃至Ｔａ（ｖ＋１）は、半径方向ｄｒ１にピッチ（通常記録トラックピッチ）Ｐｔで配置されている。例えば、トラックセンタＣ１とトラックセンタＣ２とは半径方向ｄｒ１にピッチＰｔで離れ、トラックセンタＣ２とトラックセンタＣ３とは半径方向ｄｒ１にピッチＰｔで離れている。また、トラックセンタＣ（ｖ－１）とトラックセンタＣｖとは半径方向ｄｒ１にピッチＰｔで離れ、トラックセンタＣｖとトラックセンタＣ（ｖ＋１）とは半径方向ｄｒ１にピッチＰｔで離れている。なお、トラックＴａ１乃至Ｔａ（ｖ＋１）は、それぞれ、半径方向ｄｒ１に異なるピッチで配置されてもよい。
【0047】
通常記録型式の磁気ディスク装置において、記憶容量を増大させるためにピッチＰｔを狭く設計することで高密度化を図ることができる。
【0048】
また、図３に示した例では、トラックＴａ１乃至Ｔａ（ｖ＋１）は、それぞれ、半径方向ｄｒ１にギャップｇを置いて配置されている。例えば、トラックＴａ１及びトラックＴａ２は半径方向ｄｒ１にギャップｇで離れ、トラックＴａ２及びトラックＴａ３は、半径方向ｄｒ１にギャップｇで離れている。また、トラックＴａ（ｖ－１）及びトラックＴａｖは半径方向ｄｒ１にギャップｇで離れ、トラックＴａｖ及びトラックＴａ（ｖ＋１）は半径方向ｄｒ１にギャップｇで離れている。なお、トラックＴａ１乃至Ｔａ（ｖ＋１）は、互いに異なるギャップを置いて配置されてもよい。
【0049】
図３では、説明の便宜上、各トラックＴａを長方形状に示しているが、実際には、各トラックＴａは円周方向に沿って湾曲している。また、各トラックは、半径方向ｄｒ１に変動しながら円周方向に延出している波状であってもよい。
【0050】
通常のライト処理を実行する際、ライト処理部６１ａは、ヘッドＨＤ１をトラックセンタＣ１に位置決めしてデータをトラックＴａ１にライトし、ヘッドＨＤ１をトラックセンタＣ２に位置決めしてデータをトラックＴａ２にライトし、ヘッドＨＤ１をトラックセンタＣ３に位置決めしてデータをトラックＴａ３にライトし、ヘッドＨＤ１をトラックセンタＣ（ｖ－１）に位置決めしてデータをトラックＴａ（ｖ－１）にライトし、ヘッドＨＤ１をトラックセンタＣｖに位置決めしてデータをトラックＴａｖにライトし、ヘッドＨＤ１をトラックセンタＣ（ｖ＋１）に位置決めしてデータをトラックＴａ（ｖ＋１）にライトする。
【0051】
図３に示した例では、ライト処理部６１ａは、トラックＴａ１乃至Ｔａ（ｖ＋１）にシーケンシャルにライト処理を実行してもよく、トラックＴａ１乃至Ｔａ（ｖ＋１）のそれぞれの所定のセクタにランダムにライト処理を実行してもよい。
【0052】
図４は、磁気ディスク装置１のうち半径方向ｄｒ１に並んだ３つのセクタＳＣａ（ｖ－１），ＳＣａｖ，ＳＣａ（ｖ＋１）を示す概略図であり、セクタＳＣａｖへのＡＴＩ影響が小さい場合を説明するための図である。図５は、上記３つのセクタＳＣａ（ｖ－１），ＳＣａｖ，ＳＣａ（ｖ＋１）を示す概略図であり、セクタＳＣａｖへのＡＴＩ影響が大きい場合を説明するための図である。
【0053】
図４及び図５において、セクタＳＣａｖを対象とするデータのライト処理が行われた領域に斜線を付し、セクタＳＣａ（ｖ－１）を対象とするデータのライト処理が行われた領域及びセクタＳＣａ（ｖ＋１）を対象とするデータのライト処理が行われた領域にドットパターンを付している。
【0054】
図４及び図５に示すように、トラックＴａｖは、セクタＳＣａｖを有している。トラックＴａ（ｖ－１）は、半径方向ｄｒ１にセクタＳＣａｖに隣接したセクタＳＣａ（ｖ－１）を有している。トラックＴａ（ｖ＋１）は、半径方向ｄｒ１にセクタＳＣａｖに隣接したセクタＳＣａ（ｖ＋１）を有している。
【0055】
以下、トラックＴａｖを対象トラックＴａｖと称し、トラックＴａ（ｖ－１）を隣接トラックＴａ（ｖ－１）と称し、トラックＴａ（ｖ＋１）を隣接トラックＴａ（ｖ＋１）と称する。隣接トラックＴａ（ｖ＋１）は、対象トラックＴａｖより内側に位置した内側隣接トラックである。隣接トラックＴａ（ｖ－１）は、対象トラックＴａｖより外側に位置した外側隣接トラックである。
【0056】
また、セクタＳＣａｖを対象セクタＳＣａｖと称し、セクタＳＣａ（ｖ－１）を隣接セクタＳＣａ（ｖ－１）と称し、セクタＳＣａ（ｖ＋１）を隣接セクタＳＣａ（ｖ＋１）と称する。隣接セクタＳＣａ（ｖ＋１）は、半径方向ｄｒ１に対象セクタＳＣａｖに隣接する内側隣接セクタである。隣接セクタＳＣａ（ｖ－１）は、半径方向ｄｒ１に対象セクタＳＣａｖに隣接する外側隣接セクタである。
【0057】
図４に示すように、隣接セクタＳＣａ（ｖ－１）にデータのライト処理が行われたり、隣接セクタＳＣａ（ｖ＋１）にデータのライト処理が行われたりしても、対象セクタＳＣａｖのデータへのＡＴＩ影響が小さい場合がある。
【0058】
図５に示すように、しかしながら、隣接セクタＳＣａ（ｖ－１）を対象とするデータのライト処理が行われたり、隣接セクタＳＣａ（ｖ＋１）を対象とするデータのライト処理が行われたりすると、対象セクタＳＣａｖのデータ又はその近傍の領域へのＡＴＩ影響が大きくなる場合もある。
【0059】
さらに、隣接セクタＳＣａ（ｖ－１），ＳＣａ（ｖ＋１）にデータのライトが何回も行われる場合、都度、対象セクタＳＣａｖのうち隣接セクタＳＣａ（ｖ－１），ＳＣａ（ｖ＋１）との境界近傍にもデータがライト（オーバーライト）される。隣接セクタＳＣａ（ｖ－１），ＳＣａ（ｖ＋１）へのライトの回数が多くなると、対象セクタＳＣａｖの本来の対象データをリードできなくなる恐れがある。
【0060】
上述したことから、磁気ディスク装置１は、ＡＴＩ影響を考慮し、隣接セクタＳＣａ（ｖ－１），ＳＣａ（ｖ＋１）へのライト回数の合計がライト保証回数を超えた場合にＡＴＩリフレッシュ動作と呼ばれるリフレッシュ処理を実施している。対象セクタＳＣａｖをリフレッシュする処理は、対象セクタＳＣａｖのデータをリードし、リードしたデータを対象セクタＳＣａｖにリライトする処理である。これにより、ＡＴＩ影響による対象セクタＳＣａｖの本来の対象データをリードできなくなる事態を事前に回避することができる。
【0061】
図６は、磁気ディスク装置１のディスクＤＫの記録層Ｙを示す平面図であり、記録層Ｙに傷ＳＲがついている状態を示す図である。
図６に示すように、記録層Ｙは、全体的に同一の特性を持っている状態が理想である。しかしながら、実際は、記録層Ｙに傷ＳＲがついていたり、記録層Ｙを構成する各層が全体的に均一な厚みになるように形成されていなかったりし、記録層Ｙにて物理的な状態にばらつき（面ムラ）が生じていることが分かる。
図６に示すように、記録層Ｙは、全体的に同一の特性を持っている状態が理想である。しかしながら、実際は、記録層Ｙに傷ＳＲがついていたり、記録層Ｙを構成する各層が全体的に均一な厚みになるように形成されていなかったりし、記録層Ｙにて物理的な状態にばらつき（面ムラ）が生じていることが分かる。
【0062】
図７は、図１に示した基準テーブルＴＬ１の一部を示す図であり、第１記録層Ｙａ１に対応する複数の基準回数等を示す図である。
図７に示すように、第１記録層Ｙａ１は、半径方向ｄｒ１及び円周方向（トラック方向）の少なくとも一方の方向にｍ個に区分されている。第１記録層Ｙａ１は、ｍ個の領域である複数の区分領域Ａｄを含んでいる。本実施形態において、第１記録層Ｙａ１は、半径方向ｄｒ１及び円周方向（トラック方向）にｍ個に区分されている。
図７に示すように、第１記録層Ｙａ１は、半径方向ｄｒ１及び円周方向（トラック方向）の少なくとも一方の方向にｍ個に区分されている。第１記録層Ｙａ１は、ｍ個の領域である複数の区分領域Ａｄを含んでいる。本実施形態において、第１記録層Ｙａ１は、半径方向ｄｒ１及び円周方向（トラック方向）にｍ個に区分されている。
【0063】
第１記録層Ｙａ１は、半径方向ｄｒ１にて、ゾーン０からゾーンｘまでのｘ＋１個のゾーンに分割されている。第１記録層Ｙａ１は、トラック方向（円周方向）にて、分割１から分割ｐまでのｐ個の領域に分割されている。そのため、ｍ＝（ｘ＋１）×ｐである。なお、上記ｐは自然数であればよい（ｐ≧１）。
【0064】
基準テーブルＴＬ１が持つ第１記録層Ｙａ１に対応する複数の基準回数は、ｍ個あり、複数の区分領域Ａｄに一対一で対応している。例えば、第１記録層Ｙａ１のゾーン０のうち分割１に属する区分領域Ａｄに対応する基準回数は、「１５０３」回である。
【0065】
第１記録層Ｙａ１に対応する複数の基準回数の値は、同一ではない。何故なら、磁気ディスク装置１の製造時において、第１記録層Ｙａ１の面内にて物理的な状態にばらつきが生じているためである。複数の基準回数の値は、製造時に第１記録層Ｙａ１のうち一部のゾーンのＡＴＩ耐力を測定した結果を反映したものである。基準テーブルＴＬ１は、製造時に設定されたテーブルである。複数の基準回数の値は、全てのゾーンのＡＴＩ耐力を測定した結果を反映したものではない。上述した例において、ゾーン３乃至ゾーンｘ－１のＡＴＩ耐力は測定していない。
【0066】
例えば、第１記録層Ｙａ１のゾーン０の複数のトラック全体（一部のトラックの全周）のＡＴＩ耐力を測定することで、ゾーン０のｐ個の区分領域Ａｄに基準回数を独立して設定することができる。同様に、第１記録層Ｙａ１のゾーン１の複数のトラック全体（一部のトラックの全周）のＡＴＩ耐力を測定することで、ゾーン１のｐ個の区分領域Ａｄに基準回数を独立して設定することができ、第１記録層Ｙａ１のゾーン２の複数のトラック全体（一部のトラックの全周）のＡＴＩ耐力を測定することで、ゾーン２のｐ個の区分領域Ａｄに基準回数を独立して設定することができ、第１記録層Ｙａ１のゾーンｘの複数のトラック全体（一部のトラックの全周）のＡＴＩ耐力を測定することで、ゾーンｘのｐ個の区分領域Ａｄに基準回数を独立して設定することができる。
ゾーン３乃至ゾーン（ｘ－１）の基準回数については、基準回数を半径方向ｄｒ１に直線的に変化させることで設定することができる。例えば、第１記録層Ｙａ１の分割１に注目した場合、ゾーン２の分割１の基準回数「１４８８」から、ゾーンｘの分割１の基準回数「１２０２」まで半径方向ｄｒ１に基準回数を次第に減少させることで、ゾーン３の分割１の基準回数からゾーン（ｘ－１）の分割１までの基準回数を設定することができる。
ゾーン３乃至ゾーン（ｘ－１）の基準回数については、基準回数を半径方向ｄｒ１に直線的に変化させることで設定することができる。例えば、第１記録層Ｙａ１の分割１に注目した場合、ゾーン２の分割１の基準回数「１４８８」から、ゾーンｘの分割１の基準回数「１２０２」まで半径方向ｄｒ１に基準回数を次第に減少させることで、ゾーン３の分割１の基準回数からゾーン（ｘ－１）の分割１までの基準回数を設定することができる。
【0067】
ＡＴＩ耐力とは、ＡＴＩに対する耐久力である。トラックのＡＴＩ耐力を測定することで、上記トラックにリードエラーが発生する可能性のあるライト回数を求めることができる。磁気ディスク装置１のＭＰＵ６０に最初に電源が投入されるタイミングにおいて、図７の基準回数はライト保証回数と同値であり、図７の基準回数をライト保証回数としてそのまま使用することになる。図７の基準回数をライト保証回数として使用し続ける場合を仮定すると、リードエラーが発生する可能性がある。何故なら、図７の基準回数は、（１）第１記録層Ｙａ１の面ムラ、（２）不良セクタとして登録されない軽微な傷や突起、（３）磁気ディスク装置１の製造終了後に第１記録層Ｙａ１につく傷、（４）経年劣化、（５）第１記録層Ｙａ１のうちマージナルな領域の集中的な使用等をカバーすることが困難なためである。ここで、マージナルな領域とは、ライト保証回数に到達する寸前の領域であり、リフレッシュ処理が間に合う寸前の領域であり、不良になり易い領域である。マージナルな領域のセクタは、ダメージを受けることで不良セクタになり易い。例えば、マージナルな領域に集中的にリード処理を行った場合、上記領域は物理的にダメージを受ける。マージナルな領域に集中的にライト処理を行った場合、上記領域は磁気的及び物理的にダメージを受ける。
【0068】
図８は、図１に示した調整テーブルＴＬ２の一部を示す図であり、第１記録層Ｙａ１に対応する複数の調整値等を示す図である。
図８に示すように、第１記録層Ｙａ１は、半径方向ｄｒ１及び円周方向（トラック方向）の少なくとも一方の方向にｎ個に区分されている。第１記録層Ｙａ１は、ｎ個の領域である複数の調整領域Ａａを含んでいる。本実施形態において、第１記録層Ｙａ１は、半径方向ｄｒ１及び円周方向（トラック方向）にｎ個に区分されている。上記ｎは、上記ｍより大きい数値である（ｎ＞ｍ）。
図８に示すように、第１記録層Ｙａ１は、半径方向ｄｒ１及び円周方向（トラック方向）の少なくとも一方の方向にｎ個に区分されている。第１記録層Ｙａ１は、ｎ個の領域である複数の調整領域Ａａを含んでいる。本実施形態において、第１記録層Ｙａ１は、半径方向ｄｒ１及び円周方向（トラック方向）にｎ個に区分されている。上記ｎは、上記ｍより大きい数値である（ｎ＞ｍ）。
【0069】
第１記録層Ｙａ１は、半径方向ｄｒ１にて、ゾーン０からゾーンｘまでのｘ＋１個のゾーンに分割されている。各々のゾーンは、さらに、半径方向ｄｒ１にて、分割Ｄｉｖ０から分割Ｄｉｖｋまでのｋ＋１個の領域に分割されている。第１記録層Ｙａ１は、トラック方向（円周方向）にて、分割１から分割ｑまでのｑ個の領域に分割されている。そのため、ｎ＝｛（ｘ＋１）×（ｋ＋１）｝×ｑである。なお、上記ｑは整数であり、上記ｐ以上の数値である（ｑ≧ｐ）。
【0070】
調整テーブルＴＬ２が持つ第１記録層Ｙａ１に対応する複数の調整値は、ｎ個あり、複数の調整領域Ａａに一対一で対応している。磁気ディスク装置１のＭＰＵ６０に最初に電源が投入されるタイミングにおいて、調整テーブルＴＬ２が持つ全ての調整値は、同一であり、「１．００」である。そのため、図８の例において、調整値は、一律「１．００」に初期設定されている。
【0071】
上述したように、磁気ディスク装置１は調整テーブルＴＬ２を有し、調整テーブルＴＬ２は、基準テーブルＴＬ１より分解能が高い。言い換えると、調整テーブルＴＬ２は、第１記録層Ｙａ１を基準テーブルＴＬ１より細かく分けている。
【0072】
ＭＰＵ６０に最初に電源が投入されるタイミング以降において、調整部６３は、調整テーブルＴＬ２の複数の調整値を更新することができる。検出部６２が上記第１異常情報、上記第２異常情報、上記第３異常情報、及び上記第４異常情報を検出した際、調整部６３は、調整テーブルＴＬ２のうち対応する一以上の調整値を更新することができる。そのため、基準テーブルＴＬ１の基準回数が調整される場合と比較し、第１記録層Ｙａ１のライト保証回数を細かく調整することができ、リフレッシュが必要以上に発動する事態を低減することができる。また、各種の異常情報に基づいてライト保証回数を調整することができるため、記録層Ｙのデータのリードエラーを抑制することができる。
【0073】
次に、検出部６２が、第１乃至第４異常情報を検出した場合について説明する。図９は、磁気ディスク装置１のディスクＤＫ１の第１記録層Ｙａ１の一部を示す図であり、一以上の調整領域Ａａに特定の範囲ＲＡが重なっている状態を示す図である。
【0074】
まず、検出部６２が、第２異常情報を検出した場合について説明する。
図９及び図１に示すように、不揮発性メモリ９０（記憶部）は、重み係数、長さｒ、及び幅ｌをさらに記憶している。例えば、重み係数は第２重み係数ｂであり、長さｒは第２長さｒ２であり、幅ｌは第２幅ｌ２である。範囲ＲＡは、重心ＣＥを持っている。範囲ＲＡは、例えば第２範囲ＲＡ２である。第２範囲ＲＡ２は、第１記録層Ｙａ１のうち、半径方向ｄｒ１に第２長さｒ２を持ち、円周方向（トラック方向）に第２幅ｌ２を持つ範囲である。
図９及び図１に示すように、不揮発性メモリ９０（記憶部）は、重み係数、長さｒ、及び幅ｌをさらに記憶している。例えば、重み係数は第２重み係数ｂであり、長さｒは第２長さｒ２であり、幅ｌは第２幅ｌ２である。範囲ＲＡは、重心ＣＥを持っている。範囲ＲＡは、例えば第２範囲ＲＡ２である。第２範囲ＲＡ２は、第１記録層Ｙａ１のうち、半径方向ｄｒ１に第２長さｒ２を持ち、円周方向（トラック方向）に第２幅ｌ２を持つ範囲である。
【0075】
検出部６２は、重度リードリトライを検出することができる。重度リードリトライとは、リード処理のリトライ回数が閾値（リードリトライ閾値）を超えることである。リードリトライは、トラックにライトされたデータが、トラックセンタを中心にライトされていなかった場合に起こる。初回のリード処理に失敗した場合、まず、ヘッドＨＤをオフセットせずに１回目のリードリトライが行われる。１回目のリードリトライでもリード処理に失敗した場合、ヘッドＨＤをオフセットしヘッドＨＤの位置を変えながら２回目以降のリードリトライが行われる。そのように、リード処理の条件を変えたりしてリードリトライが試される。特定回数、リードリトライを試してもリード処理に失敗した場合、特殊な復旧リードが試される。特殊な復旧リードを試してもリード処理に失敗した場合、すなわち、リード処理のリトライ回数がリードリトライ閾値を超えた場合、記録層Ｙのデータは復旧不可能になる。
【0076】
例えば、検出部６２は、対象セクタＳＣａｖの対象データをリードする回数がリードリトライテーブルＴＬ３のリードリトライ閾値を超えたことを示す第２異常情報を検出する。その場合、調整部６３は、第２範囲ＲＡ２の重心ＣＥが対象セクタＳＣａｖに位置するように第２範囲ＲＡ２を位置決めする。そして、調整部６３は、複数の調整領域Ａａのうち第２範囲ＲＡ２に重なった全ての調整領域Ａａに対応する全ての調整値に第２重み係数ｂを掛け、第２重み係数ｂを掛けた各々の調整値を第２調整値に更新する。
【0077】
本実施形態において、対象セクタＳＣａｖの位置は、「ＨＤ１」のヘッド番号と、「１０００」のトラック番号（シリンダ番号）と、「２００」のトラック分割（セクタ番号）と、の組合せで表されるアドレスに位置している。
【0078】
対象セクタＳＣａｖにて重度リードリトライが発生した場合、調整部６３は、対象セクタＳＣａｖを中心に半径方向ｄｒ１及び円周方向に拡張した第２範囲ＲＡ２に重なった全ての調整領域Ａａの各々の調整値を第２調整値に更新することができる。
【0079】
図９に示す例では、範囲ＲＡ（第２範囲ＲＡ２）は、第１記録層Ｙａ１のゾーン０のうち、分割Ｄｉｖ０の分割１、分割２、及び分割３に属する３つの調整領域Ａａと、分割Ｄｉｖ１の分割１、分割２、及び分割３に属する３つの調整領域Ａａと、の計６つの調整領域Ａａに重なっている。図中、６つの調整領域Ａａにはドットパターンを付している。
【0080】
調整部６３は、６つの調整領域Ａａに対応する調整値を第２調整値に更新する。初期状態において調整値は「１．００」であるため、第２調整値は、初期状態の調整値をｂ倍して更新された値である。すなわち、第２調整値＝（初期状態の調整値である１．００）×第２重み係数であるｂ＝ｂである。調整部６３は、６つの調整領域Ａａに対応する第２調整値のみｂに更新することができる。なお、調整部６３は、残りの調整領域Ａａに対応する調整値を更新せず、上記調整値を「１．００」のままとする。
【0081】
例えば、対象セクタＳＣａｖにて重度リードリトライが発生した場合、調整部６３は、調整値を第２調整値に更新することができる。これにより、対象セクタＳＣａｖの周辺領域にて重度リードリトライの発生を抑制することができる。
【0082】
次に、検出部６２が、第１異常情報を検出した場合について説明する。
図９及び図１に示すように、例えば、不揮発性メモリ９０（記憶部）は、第１重み係数ａ、第１長さｒ１、及び第１幅ｌ１をさらに記憶している。例えば、重み係数は第１重み係数ａであり、長さｒは第１長さｒ１であり、幅ｌは第１幅ｌ１であり、範囲ＲＡは第１範囲ＲＡ１である。第１範囲ＲＡ１は、第１記録層Ｙａ１のうち、半径方向ｄｒ１に第１長さｒ１を持ち、円周方向（トラック方向）に第１幅ｌ１を持つ範囲である。
図９及び図１に示すように、例えば、不揮発性メモリ９０（記憶部）は、第１重み係数ａ、第１長さｒ１、及び第１幅ｌ１をさらに記憶している。例えば、重み係数は第１重み係数ａであり、長さｒは第１長さｒ１であり、幅ｌは第１幅ｌ１であり、範囲ＲＡは第１範囲ＲＡ１である。第１範囲ＲＡ１は、第１記録層Ｙａ１のうち、半径方向ｄｒ１に第１長さｒ１を持ち、円周方向（トラック方向）に第１幅ｌ１を持つ範囲である。
【0083】
検出部６２は、アンリカバリー状態になったセクタを検出することができる。ここで、アンリカバリー状態とは、記録層Ｙのデータが復旧不可能になった状態を言う。記録層Ｙのデータを復旧不可能であるとは、リフレッシュ処理を良好に行うことができない（記録層Ｙの本来のデータをリードすることができない）状態にあることである。
例えば、検出部６２は、対象セクタＳＣａｖの対象データが復旧不可能になったことを示す第１異常情報を検出する。その場合、調整部６３は、第１範囲ＲＡ１の重心ＣＥが対象セクタＳＣａｖに位置するように第１範囲ＲＡ１を位置決めする。そして、調整部６３は、複数の調整領域Ａａのうち第１範囲ＲＡ１に重なった全ての調整領域Ａａに対応する全ての調整値に第１重み係数ａを掛け、第１重み係数ａを掛けた各々の調整値を第１調整値に更新する。
例えば、検出部６２は、対象セクタＳＣａｖの対象データが復旧不可能になったことを示す第１異常情報を検出する。その場合、調整部６３は、第１範囲ＲＡ１の重心ＣＥが対象セクタＳＣａｖに位置するように第１範囲ＲＡ１を位置決めする。そして、調整部６３は、複数の調整領域Ａａのうち第１範囲ＲＡ１に重なった全ての調整領域Ａａに対応する全ての調整値に第１重み係数ａを掛け、第１重み係数ａを掛けた各々の調整値を第１調整値に更新する。
【0084】
対象セクタＳＣａｖにてリードエラーが発生した場合、調整部６３は、対象セクタＳＣａｖを中心に半径方向ｄｒ１及び円周方向に拡張した第１範囲ＲＡ１に重なった全ての調整領域Ａａの各々の調整値を第１調整値に更新することができる。
【0085】
調整部６３は、第１範囲ＲＡ１に重なった調整領域Ａａに対応する調整値を第１調整値に更新する。初期状態において調整値は「１．００」であるため、第１調整値は、初期状態の調整値をａ倍して更新された値である。すなわち、第１調整値＝（初期状態の調整値である１．００）×第１重み係数であるａ＝ａである。調整部６３は、第１範囲ＲＡ１に重なった調整領域Ａａに対応する調整値のみａに更新することができる。なお、調整部６３は、残りの調整領域Ａａに対応する調整値を更新せず、上記調整値を「１．００」のままとする。
【0086】
例えば、対象セクタＳＣａｖがアンリカバリー状態になった場合、以降、対象セクタＳＣａｖをリード処理及びライト処理の対象から除外し、対象セクタＳＣａｖはスペア領域の代替セクタに交替される。対象セクタＳＣａｖを復旧することはできないが、調整部６３は、調整値を第１調整値に更新することができる。これにより、対象セクタＳＣａｖの周辺領域にてアンリカバリー状態になるセクタの発生を抑制することができる。例えば、対象セクタＳＣａｖが図６の傷ＳＲが付いている領域にある場合、傷ＳＲが付いている領域の他のセクタがアンリカバリー状態になることを抑制することができる。ディスクＤＫの傷は、磁気ディスク装置１の使用初期に既に付いている傷ＳＲや、磁気ディスク装置１の使用を開始した後に付く傷を挙げることができる。
対象セクタＳＣａｖの周辺領域がアンリカバリー状態になり易い原因は傷以外も考えられる。例えば、ヘッドＨＤの特性が劣化し、記録層Ｙのデータのリードが全体的に難くなる場合が考えられる。その場合、記録層Ｙのうち元々の特性が良好ではなかった領域は、アンリカバリー状態になり易くなる。
又は、ライト処理が記録層Ｙの特定の領域に集中する場合が考えられる。
対象セクタＳＣａｖの周辺領域がアンリカバリー状態になり易い原因は傷以外も考えられる。例えば、ヘッドＨＤの特性が劣化し、記録層Ｙのデータのリードが全体的に難くなる場合が考えられる。その場合、記録層Ｙのうち元々の特性が良好ではなかった領域は、アンリカバリー状態になり易くなる。
又は、ライト処理が記録層Ｙの特定の領域に集中する場合が考えられる。
【0087】
次に、検出部６２が、第３異常情報を検出した場合について説明する。
図９及び図１に示すように、例えば、不揮発性メモリ９０（記憶部）は、第３重み係数ｃ、第３長さｒ３、及び第３幅ｌ３をさらに記憶している。例えば、重み係数は第３重み係数ｃであり、長さｒは第３長さｒ３であり、幅ｌは第３幅ｌ３であり、範囲ＲＡは第３範囲ＲＡ３である。第３範囲ＲＡ３は、第１記録層Ｙａ１のうち、半径方向ｄｒ１に第３長さｒ３を持ち、円周方向（トラック方向）に第３幅ｌ３を持つ範囲である。
図９及び図１に示すように、例えば、不揮発性メモリ９０（記憶部）は、第３重み係数ｃ、第３長さｒ３、及び第３幅ｌ３をさらに記憶している。例えば、重み係数は第３重み係数ｃであり、長さｒは第３長さｒ３であり、幅ｌは第３幅ｌ３であり、範囲ＲＡは第３範囲ＲＡ３である。第３範囲ＲＡ３は、第１記録層Ｙａ１のうち、半径方向ｄｒ１に第３長さｒ３を持ち、円周方向（トラック方向）に第３幅ｌ３を持つ範囲である。
【0088】
検出部６２は、リフレッシュ処理中にリードリトライが発生したことを検出することができる。例えば、検出部６２が、対象セクタＳＣａｖの対象データのリードをリトライしたことを示す第３異常情報を検出する。その場合、調整部６３は、第３範囲ＲＡ３の重心ＣＥが対象セクタＳＣａｖに位置するように第３範囲ＲＡ３を位置決めする。そして、調整部６３は、複数の調整領域Ａａのうち第３範囲ＲＡ３に重なった全ての調整領域Ａａに対応する全ての調整値に第３重み係数ｃを掛け、第３重み係数ｃを掛けた各々の調整値を第３調整値に更新する。
【0089】
対象セクタＳＣａｖのリフレッシュ処理中にリードリトライが発生した場合、調整部６３は、対象セクタＳＣａｖを中心に半径方向ｄｒ１及び円周方向に拡張した第３範囲ＲＡ３に重なった全ての調整領域Ａａの各々の調整値を第３調整値に更新することができる。
【0090】
調整部６３は、第３範囲ＲＡ３に重なった調整領域Ａａに対応する調整値を第３調整値に更新する。初期状態において調整値は「１．００」であるため、第３調整値は、初期状態の調整値をｃ倍して更新された値である。すなわち、第３調整値＝（初期状態の調整値である１．００）×第３重み係数であるｃ＝ｃである。調整部６３は、第３範囲ＲＡ３に重なった調整領域Ａａに対応する調整値のみｃに更新することができる。なお、調整部６３は、残りの調整領域Ａａに対応する調整値を更新せず、上記調整値を「１．００」のままとする。
【0091】
例えば、対象セクタＳＣａｖのリフレッシュ処理中にリードリトライが発生した場合、調整部６３は、調整値を第３調整値に更新することができる。これにより、対象セクタＳＣａｖの周辺領域にてリフレッシュ処理中のリードリトライの発生を抑制することができる。例えば、対象セクタＳＣａｖが図６の傷ＳＲが付いている領域にある場合、傷ＳＲが付いている領域の他のセクタにてリフレッシュ処理中のリードリトライの発生を抑制することができる。
【0092】
ライト保証回数は、基準テーブルＴＬ１の基準回数を調整テーブルＴＬ２の調整値で割った数値である。上記第１調整値に基づいて調整されたライト保証回数を第１ライト保証回数とする。上記第３調整値に基づいて調整されたライト保証回数を第３ライト保証回数とする。すると、例えば、第１ライト保証回数は、第３ライト保証回数より少なくともよい。その場合、第１重み係数ａと第３重み係数ｃとの関係は、ａ＞ｃ＞＋１．００となる。
但し、第１重み係数ａと第３重み係数ｃとの大小関係や、第１ライト保証回数と第３ライト保証回数との大小関係は、上記の例に限定されるものではなく、種々変形可能である。
但し、第１重み係数ａと第３重み係数ｃとの大小関係や、第１ライト保証回数と第３ライト保証回数との大小関係は、上記の例に限定されるものではなく、種々変形可能である。
【0093】
次に、検出部６２が、第４異常情報を検出した場合について説明する。
図９及び図１に示すように、例えば、不揮発性メモリ９０（記憶部）は、第４重み係数ｄ、第４長さｒ４、及び第４幅ｌ４をさらに記憶している。例えば、重み係数は第４重み係数ｄであり、長さｒは第４長さｒ４であり、幅ｌは第４幅ｌ４であり、範囲ＲＡは第４範囲ＲＡ４である。第４範囲ＲＡ４は、第１記録層Ｙａ１のうち、半径方向ｄｒ１に第４長さｒ４を持ち、円周方向（トラック方向）に第４幅ｌ４を持つ範囲である。
図９及び図１に示すように、例えば、不揮発性メモリ９０（記憶部）は、第４重み係数ｄ、第４長さｒ４、及び第４幅ｌ４をさらに記憶している。例えば、重み係数は第４重み係数ｄであり、長さｒは第４長さｒ４であり、幅ｌは第４幅ｌ４であり、範囲ＲＡは第４範囲ＲＡ４である。第４範囲ＲＡ４は、第１記録層Ｙａ１のうち、半径方向ｄｒ１に第４長さｒ４を持ち、円周方向（トラック方向）に第４幅ｌ４を持つ範囲である。
【0094】
検出部６２は、ヘッドＨＤでのエラーを検出することができる。例えば、検出部６２が、ヘッドＨＤ１の特性の悪化量がヘッド特性テーブルＴＬ４のヘッド特性閾値を超えたことを示す第４異常情報を検出する。その場合、調整部６３は、第４範囲ＲＡ４の重心ＣＥが特定のセクタＳＣａに位置するように第４範囲ＲＡ４を位置決めする。そして、調整部６３は、複数の調整領域Ａａのうち第４範囲ＲＡ４に重なった全ての調整領域Ａａに対応する全ての調整値に第４重み係数ｄを掛け、第４重み係数ｄを掛けた各々の調整値を第４調整値に更新する。
【0095】
検出部６２は、一定期間毎にヘッドＨＤの特性を知るための測定からヘッドＨＤでのエラーを検出することができる。
【0096】
ヘッドＨＤ１でエラーが発生した場合、調整部６３は、特定のセクタＳＣａを中心に半径方向ｄｒ１及び円周方向に拡張した第４範囲ＲＡ４に重なった全ての調整領域Ａａの各々の調整値を第４調整値に更新することができる。
【0097】
調整部６３は、第４範囲ＲＡ４に重なった調整領域Ａａに対応する調整値を第４調整値に更新する。初期状態において調整値は「１．００」であるため、第４調整値は、初期状態の調整値をｄ倍して更新された値である。すなわち、第４調整値＝（初期状態の調整値である１．００）×第４重み係数であるｄ＝ｄである。調整部６３は、第４範囲ＲＡ４に重なった調整領域Ａａに対応する調整値のみｄに更新することができる。なお、調整部６３は、残りの調整領域Ａａに対応する調整値を更新せず、上記調整値を「１．００」のままとする。
【0098】
本実施形態において、第４範囲ＲＡ４は、第１記録層Ｙａ１の全ての調整領域Ａａに重ねられている。そのため、検出部６２が、第４異常情報を検出した場合、調整部６３は、調整テーブルＴＬ２の全ての調整値を第４調整値に更新することができる。上述したことから、ヘッドエラーの発生を抑制することができる。なお、本実施形態において、第１範囲ＲＡ１乃至第４範囲ＲＡ４のうち、第４範囲ＲＡ４が最も大きい。
【0099】
ここで、ヘッドＨＤの特性の悪化量をαとする。上記第４調整値に基づいて調整されたライト保証回数を第４ライト保証回数とする。第４ライト保証回数は、基準テーブルＴＬ１の基準回数を、第４調整値（例えば、ｄ）と上記αとの積で割った数値である。
【0100】
上述したように、検出部６２が第１乃至第４異常情報を検出する毎に、調整部６３は、調整値を更新することができる。例えば、調整値を第１調整値である「ａ」に更新済みである調整領域Ａａにて再び検出部６２が第１異常情報を検出した場合、調整部６３は、第１調整値である「ａ」に第１重み係数ａを掛け、第１調整値を「ａ２」にさらに更新することができる。
そして、異常が発生した領域の周辺にてリフレッシュを発動させる時期を早めることができるため、第１記録層Ｙａ１のデータのリードエラーを回避することができる。
本実施形態の磁気ディスク装置１は上述したように構成されている。
そして、異常が発生した領域の周辺にてリフレッシュを発動させる時期を早めることができるため、第１記録層Ｙａ１のデータのリードエラーを回避することができる。
本実施形態の磁気ディスク装置１は上述したように構成されている。
【0101】
次に、リフレッシュ処理方法について説明する。図１０及び図１１は、磁気ディスク装置１に適用されるリフレッシュ処理方法を説明するためのフローチャートである。
図１０、図１、及び図４に示すように、リフレッシュ処理方法を開始すると、まず、ステップＳｔ１において、ライト処理部６１ａはセクタＳＣａ（ｖ－１）にライト処理を行い、ステップＳｔ２において、検出部６２はライト処理を行ったセクタＳＣａ（ｖ－１）の情報を取得する。続いて、ステップＳｔ３において、カウンタ６４はライトカウンタ値を取得し、ステップＳｔ４において、調整部６３は調整テーブルＴＬ２から調整値（ＡＴＩ加算値）を取得する。
図１０、図１、及び図４に示すように、リフレッシュ処理方法を開始すると、まず、ステップＳｔ１において、ライト処理部６１ａはセクタＳＣａ（ｖ－１）にライト処理を行い、ステップＳｔ２において、検出部６２はライト処理を行ったセクタＳＣａ（ｖ－１）の情報を取得する。続いて、ステップＳｔ３において、カウンタ６４はライトカウンタ値を取得し、ステップＳｔ４において、調整部６３は調整テーブルＴＬ２から調整値（ＡＴＩ加算値）を取得する。
【0102】
次いで、ステップＳｔ５において、カウンタ６４は、基準テーブルＴＬ１から基準回数を取得し、不揮発性メモリ９０（記憶部）からカウント加算係数を取得する。これにより、ステップＳｔ６において、カウンタ６４は、セクタＳＣａｖのライト回数を上述したように「１．０」回、「１．５」回等とカウントし、セクタＳＣａｖのライト回数の合計（ライトカウント値）を更新する。
【0103】
図１１、図１、及び図４に示すように、その後、ステップＳｔ７において、セクタＳＣａｖのライト回数の合計がライト保証回数（基準回数を調整値で割った数値）を超えたかどうか判断する。ライト回数の合計がライト保証回数を超えていない場合（ステップＳｔ７）、リフレッシュを発動せずにリフレッシュ処理方法を終了する。
【0104】
一方、ライト回数の合計がライト保証回数を超えている場合（ステップＳｔ７）、ステップＳｔ８に移行し、ステップＳｔ８において、リフレッシュ処理部６６はライト回数をカウントしたセクタＳＣａの情報を取得する。続いて、ステップＳｔ９において、リフレッシュ処理部６６は、リードベリファイを実施し、セクタＳＣａにリライトするためのデータを取得する。そして、ステップＳｔ１０において、リフレッシュ処理部６６は、セクタＳＣａにセクタＳＣａの本来のデータをリライトする。
【0105】
その後、ステップＳｔ１０において、リフレッシュ処理部６６は、不揮発性メモリ９０（記憶部）に記録したセクタＳＣａのライト回数を「０」回にリセットし、リフレッシュ処理方法を終了する。セクタＳＣａのライト回数の合計も「０」回となる。上述したように、ライト回数の合計がライト保証回数を超えている場合、リフレッシュを発動してリフレッシュ処理方法を終了することができる。
【0106】
次に、ライト保証回数の調整方法について説明する。図１２は、磁気ディスク装置１に適用されるライト保証回数の調整方法を説明するためのフローチャートである。
図１２及び図１に示すように、イベントが発生し、ライト保証回数の調整方法を開始すると、まず、ステップＳｐ１において、調整テーブルＴＬ２の調整値は「１．００」であり、範囲ＲＡは設定されていない。続いて、ステップＳｐ２において、検出部６２が第１異常情報を検出したかどうか判断する。
図１２及び図１に示すように、イベントが発生し、ライト保証回数の調整方法を開始すると、まず、ステップＳｐ１において、調整テーブルＴＬ２の調整値は「１．００」であり、範囲ＲＡは設定されていない。続いて、ステップＳｐ２において、検出部６２が第１異常情報を検出したかどうか判断する。
【0107】
検出部６２が第１異常情報を検出した場合（ステップＳｐ２）、ステップＳｐ３に移行し、ステップＳｐ３において、調整部６３は、重み係数を第１重み係数ａに更新し、長さｒを第１長さｒ１に更新し、幅ｌを第１幅ｌ１に更新し、ステップＳｐ１０に移行する。
一方、検出部６２が第１異常情報を検出しなかった場合（ステップＳｐ２）、ステップＳｐ４に移行し、ステップＳｐ４において、検出部６２が第２異常情報を検出したかどうか判断する。
一方、検出部６２が第１異常情報を検出しなかった場合（ステップＳｐ２）、ステップＳｐ４に移行し、ステップＳｐ４において、検出部６２が第２異常情報を検出したかどうか判断する。
【0108】
検出部６２が第２異常情報を検出した場合（ステップＳｐ４）、ステップＳｐ５に移行し、ステップＳｐ５において、調整部６３は、重み係数を第２重み係数ｂに更新し、長さｒを第２長さｒ２に更新し、幅ｌを第２幅ｌ２に更新し、ステップＳｐ１０に移行する。
一方、検出部６２が第２異常情報を検出しなかった場合（ステップＳｐ４）、ステップＳｐ６に移行し、ステップＳｐ６において、検出部６２が第３異常情報を検出したかどうか判断する。
一方、検出部６２が第２異常情報を検出しなかった場合（ステップＳｐ４）、ステップＳｐ６に移行し、ステップＳｐ６において、検出部６２が第３異常情報を検出したかどうか判断する。
【0109】
検出部６２が第３異常情報を検出した場合（ステップＳｐ６）、ステップＳｐ７に移行し、ステップＳｐ７において、調整部６３は、重み係数を第３重み係数ｃに更新し、長さｒを第３長さｒ３に更新し、幅ｌを第３幅ｌ３に更新し、ステップＳｐ１０に移行する。
一方、検出部６２が第３異常情報を検出しなかった場合（ステップＳｐ６）、ステップＳｐ８に移行し、ステップＳｐ８において、検出部６２が第４異常情報を検出したかどうか判断する。
一方、検出部６２が第３異常情報を検出しなかった場合（ステップＳｐ６）、ステップＳｐ８に移行し、ステップＳｐ８において、検出部６２が第４異常情報を検出したかどうか判断する。
【0110】
検出部６２が第４異常情報を検出した場合（ステップＳｐ８）、ステップＳｐ９に移行し、ステップＳｐ９において、調整部６３は、重み係数を第４重み係数ｄに更新し、長さｒを第４長さｒ４に更新し、幅ｌを第４幅ｌ４に更新し、ステップＳｐ１０に移行する。
一方、検出部６２が第４異常情報を検出しなかった場合（ステップＳｐ８）、ステップＳｐ１０に移行する。
一方、検出部６２が第４異常情報を検出しなかった場合（ステップＳｐ８）、ステップＳｐ１０に移行する。
【0111】
次いで、ステップＳｐ１０において、調整部６３は、イベントが発生した個所周辺の範囲ＲＡ内の全ての調整値を抽出する。その後、ステップＳｐ１１において、調整部６３は、抽出した全ての調整値を「ａ」、「ｂ」、「ｃ」、又は「ｄ」に更新する。これにより、ライト保証回数の調整方法を終了する。なお、検出部６２が第１乃至第４異常情報の何れも検出しなかった場合（ステップＳｐ８）、ステップＳｐ１０に移行せず、ライト保証回数の調整方法をそのまま終了してもよい。
【0112】
上記のように構成された磁気ディスク装置１及びライト保証回数の調整方法によれば、磁気ディスク装置１は、複数の基準回数を持つ基準テーブルＴＬ１を備えている。基準回数をライト保証回数として使用し続けた場合、ＡＴＩリフレッシュ動作が間に合わなくなる恐れがある。
【0113】
そこで、磁気ディスク装置１は、複数の調整値を持つ調整テーブルＴＬ２をさらに備えている。調整テーブルＴＬ２は、基準テーブルＴＬ１より分解能が高い。磁気ディスク装置１の製造が終了した後であり、ユーザが磁気ディスク装置１を使用中である期間に、検出部６２が検出した第１乃至第４異常情報に基づいて、調整部６３は、調整テーブルＴＬ２を更新し、ライト保証回数を調整することができる。調整部６３は、記録層Ｙの細分化された領域（調整領域Ａａ）毎にライト保証回数を独立して調整することができる。第１乃至第４異常情報の何れか一が検出された際、調整部６３は、複数の調整領域Ａａのうち範囲ＲＡに重なった全ての調整領域Ａａのライト保証回数を調整することができる。
調整部６３は、リードエラーが発生し易い領域（調整領域Ａａ）のみ、リフレッシュ処理の頻度を高めることができる。これにより、記録層Ｙのデータのリードエラーを回避することができる。また、ライト保証回数を調整する際、調整部６３は、複数の調整領域Ａａのうち最小限の調整領域Ａａについてのみライト保証回数を調整している。必要以上にライト保証回数を調整していないため、コマンド処理が遅延する原因となるリフレッシュ処理の発動を最小限に抑えることができ、磁気ディスク装置１の性能悪化を最小限にとどめることができる。
上述したことから、ライト保証回数を調整することのできる磁気ディスク装置１及びライト保証回数の調整方法を得ることができる。
調整部６３は、リードエラーが発生し易い領域（調整領域Ａａ）のみ、リフレッシュ処理の頻度を高めることができる。これにより、記録層Ｙのデータのリードエラーを回避することができる。また、ライト保証回数を調整する際、調整部６３は、複数の調整領域Ａａのうち最小限の調整領域Ａａについてのみライト保証回数を調整している。必要以上にライト保証回数を調整していないため、コマンド処理が遅延する原因となるリフレッシュ処理の発動を最小限に抑えることができ、磁気ディスク装置１の性能悪化を最小限にとどめることができる。
上述したことから、ライト保証回数を調整することのできる磁気ディスク装置１及びライト保証回数の調整方法を得ることができる。
【0114】
本発明の上記実施形態を説明したが、上記実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。上記の新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。上記実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【0115】
例えば、上述した技術は、瓦記録型式の磁気ディスク装置と、通常記録型式及び瓦記録型式を選択して実行するハイブリッド記録型式の磁気ディスク装置とに適用してもよい。例えば、ハイブリッド記録型式において、記録層Ｙのユーザデータ領域Ｕは、内周側に瓦記録領域を有し、瓦記録領域より外周側に通常記録領域を有している。この通常記録領域は、コンベンショナルゾーン（Conventional Zone）と称される場合もあり、システムファイル、メタデータ等の頻繁に書き換えを行うデータが記録される領域になり得る。
【符号の説明】
【0116】
１…磁気ディスク装置、６０…ＭＰＵ、６１…リード／ライト処理部、６２…検出部、６３…調整部、６４…カウンタ、６５…判断部、６６…リフレッシュ処理部、７０…揮発性メモリ、８０…バッファメモリ、９０…不揮発性メモリ、１００…ホスト、１１０…システムコントローラ、１２０…ドライバＩＣ、１３０…ヘッドアンプＩＣ、１４０…Ｒ／Ｗチャネル、１５０…ＨＤＣ、ＤＫ…ディスク、Ｙ…記録層、ＳＣａ…セクタ、Ａａ…調整領域、Ａｄ…区分領域、ＨＤ…ヘッド、ＲＡ…範囲、ｌ…幅、ｒ…長さ、ＣＥ…重心、ＴＬ１…基準テーブル、ＴＬ２…調整テーブル、ＴＬ３…リードリトライテーブル、ＴＬ４…ヘッド特性テーブル、ａ，ｂ，ｃ，ｄ…重み係数、ｄｒ１…半径方向、ｄｒ２…進行方向、ｄｒ３…回転方向。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】