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特許7667250質量分析法における荷電状態割り当てのためのシステムおよび方法
発明の名称 質量分析法における荷電状態割り当てのためのシステムおよび方法
出願人 ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド （識別番号 510075457）
特許公開件数ランキング 5132 位（3件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 1351 位（13件）（共同出願を含む）
出願人 ブルームフィールド， ニック （識別番号 523037392）
特許公開件数ランキング 31340 位（0件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 25341 位（1件）（共同出願を含む）
出願人 イボセフ， ゴルダナ （識別番号 523037406）
特許公開件数ランキング 31340 位（0件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 25341 位（1件）（共同出願を含む）
出願人 リューミン， パヴェル （識別番号 523037417）
特許公開件数ランキング 31340 位（0件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 25341 位（1件）（共同出願を含む）
公報番号 特許-7667250
公報発行日 2025年4月22
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7667250
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