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2015年 104位(6件) 前年 102位(6件)
| 総区分数 | 31区分 | 1商標あたりの平均区分数 | 5.17区分 |
|---|---|---|---|
| 類似群コード最頻出 | 10D01... (出現率133%) | 区分組み合わせ最頻出 | 35類 & 10類 他... (出現率67%) |
| 指定商品・指定役務 | 総数 | 190 | 1商標あたりの平均数 | 32 |
|---|
| 称呼パターン |
先頭2音 組み合わせ
|
1位サイ (出現率33%)
|
2位アク (出現率17%)
他 |
|---|---|---|---|
|
先頭末尾音 組み合せ
|
1位アド (出現率17%)
1位アム (出現率17%) 1位アン (出現率17%) 1位ウト (出現率17%) 1位ゲイ (出現率17%) 他 |
－ |
企業TOP/商標一覧
商標取得件数推移
商品役務 区分マップ
商品役務 区分組み合せマップ
称呼傾向マップ 先頭2音商標登録第5744786号
| 登録番号 | 5744786 |
|---|---|
| 商標タイプ | |
| 称呼 | シエス サイエス シイアイイイエス |
| 区分 指定商品 指定役務 |
第16類
印刷物
第41類
紙類 文房具 写真 大学における半導体・集積回路・集積回路装置及びその応用の分野における知識の教授
第42類
その他の大学における知識の教授 新聞・雑誌・書籍の貸与 図書及び記録の供覧 半導体製品・技術及びその応用に関するセミナー・講習会の企画・運営又は開催 電子計算機・半導体ウェーハ処理機械器具の用途に応じて的確な操作をするためには高度の専門的な知識・技術又は経験を必要とする機械の性能・操作方法等に関する紹介及び説明
半導体基板の設計 半導体製造装置の試験・検査・研究 メモリ等に使用されるデバイス・ＬＳＩの開発・試験・研究及びこれらに関する助言 ソフトウェアの設計・開発・研究 メモリ等に使用されるデバイス・ＬＳＩの品質保証及び品質管理 |
| 類似群コード |
第16類 25A01 25B01 26A01 26D01第41類 41A01 41A03 41C02第42類 42N03 42P02 42P03 42Q02 42Q99 |
| 権利者 |
識別番号504157024 国立大学法人東北大学 ＴＯＨＯＫＵ ＵＮＩＶＥＲＳＩＴＹ |
| 出願日 | 2014年10月8日 |
| 登録日 | 2015年2月27日 |
| 代理人 | 特許業務法人 英知国際特許事務所 |
