【図1】図１は、検出装置１０の構成を示す図である。

【図2】図２は、訓練データおよび分類器を示す図である。

【図3】図３は、検出装置１０の処理フローを示す図である。

【図4】図４は、訓練データを機械学習して生成した分類器のテスト結果の一例を示す図である。

【図5】図５は、縮小訓練データを機械学習して生成したテスト用分類器のテスト結果の一例を示す図である。

【図6】図６は、変形例に係る検出装置１０の処理フローを示す図である。

【図7】図７は、修正システム５０の構成を示す図である。

【図8】図８は、クローズドテストの処理内容を説明するための図である。

【図9】図９は、クロスバリデーションテストの処理内容を説明するための図である。

【図10】図１０は、修正システム５０の処理フローを示す図である。

【図11】図１１は、ポテンシャルテスト部６４によるテストの結果の表示例を示す図である。

【図12】図１２は、クローズドテストおよびクロスバリデーションテストのテスト結果の表示例を示す図である。

【図13】図１３は、訓練データを修正するための操作例を示す図である。

【図14】図１４は、訓練データの修正例を示す図である。

【図15】図１５は、検出装置１０および修正システム５０のハードウェア構成を示す図である。