技術分野
プロセス監視装置、プロセス監視方法及びプログラム
要約特許出願時に添付された[要約書]
【課題】バッチプロセスの異常を高い精度で検知する。 【解決手段】予め蓄積された機器又は設備の複数のバッチの運転データに基づき、該運転データに含まれる複数の状態データのそれぞれについて前記複数のバッチにおける平均と、前記複数のバッチにおける標準偏差とを算出する算出手段102、103と、前記算出手段により算出された前記平均及び前記標準偏差に基づき、前記複数のバッチの運転データを正規化する第1の正規化手段104と、前記第1の正規化手段により正規化された前記複数のバッチの運転データに基づき、前記機器又は設備の異常を検出するための正常モデルを作成するモデル作成手段106と、前記モデル作成手段により作成された前記正常モデルと前記機器又は設備から出力された運転データとに基づき、該機器又は設備の異常を検出する異常検出手段109とを有することにより、課題を解決する。 【選択図】図3
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
しかし、の従来技術においては、オフラインにおいて作成される正常モデルのモデル化の精度が高くない場合があった。すなわち、例えば主成分分析(PCA:Principal Component Analysis)により正常モデルを作成する場合において、モデル化に用いられるデータのサンプリング周期と1つのバッチに要する時間との関係によってはモデル化の精度が高くない場合があった。したがって、オンラインにおいて、高い精度でバッチプロセスの異常を検知できない場合があった。
本発明の実施の形態は、の点に鑑みてなされたものであり、バッチプロセスの異常を高い精度で検知することを目的とする。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
目的を達成するため、本発明の実施の形態は、バッチプロセスにより処理を行う機器又は設備の時系列の運転状態を示す運転データに基づき該機器又は設備の異常を検出するプロセス監視装置であって、予め蓄積された前記機器又は設備の複数のバッチの運転データに基づき、該運転データに含まれる複数の状態データのそれぞれについて前記複数のバッチにおける平均と、前記複数のバッチにおける標準偏差とを算出する算出手段と・・・ 続きを
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【発明の効果】
本発明の実施の形態によれば、バッチプロセスの異常を高い精度で検知することができる。
この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】 第一のプロセス監視システムの一例のシステム構成図である。
【図2】 第一のプロセス監視装置の一例のハードウェア構成図である。
【図3】 第一のプロセス監視システムの一例の機能構成図である。
【図4】 バッチデータの一例を説明するための図である。
【図5】 第一のモデル作成処理の一例のフローチャートである。
【図6】 データの変換処理の一例を説明するための図である。
【図7】 第一の異常検知処理の一例のフローチャートである。
【図8】 オンラインにおけるQ統計量及びT2 統計量の推移を示すグラフの一例のイメージ図である。
【図9】 第二のプロセス監視システムの一例の機能構成図である。
【図10】 第二の異常検知処理の一例のフローチャートである。
【図11】 Q統計量の1バッチ分の積算及びT2 統計量の1バッチ分の積算を示す一例のイメージ図である。
【図12】 第三のプロセス監視システムの一例の機能構成図である。
【図13】 第三のモデル作成処理の一例のフローチャートである。
【図14】 第1の中間系列の一例を説明するための図である。
【図15】 第三の異常検知処理の一例のフローチャートである。
1 プロセス監視システム
10 プロセス監視装置
20 機器制御装置
30 機器
101 データ取得部
102 平均プロファイル算出部
103 標準偏差プロファイル算出部
104 第1の正規化部
105 データ変換部
106 モデル作成部
107 第2の正規化部
108 指標値算出部
109 異常検知部
110 結果出力部
121 バッチデータ記憶部
122 モデル記憶部
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