特開 2017-225535出願番号 特願 2016-122391
Ｘ線ＣＴ画像再構成装置、Ｘ線ＣＴ画像再構成方法およびＸ線ＣＴ装置
出願人 株式会社日立製作所（識別番号 5108）
2026年 特許公開件数ランキング 12位 786件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 15位 825件（※）
公報発行日 2017年12月28
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※ 共同出願を含む
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技術分野
要約特許出願時に添付された[要約書]
【課題】高画質のＸ線ＣＴ撮像画像を得る。【解決手段】厚さ誤差推定型投影処理部１００は、被検体撮像装置２０によって取得された被検体のＮ個のエネルギー窓の実測カウント投影値１２１に基づき、Ｍ個（Ｍ≦Ｎ）の基底物質それぞれの基底物質厚さ投影推定値１２４を推定するとともに、基底物質誤差モデル部１０４を用いて基底物質厚さ投影推定誤差値１２５を推定する。厚さ推定誤差利用画像再構成処理部１１０は、基底物質厚さ投影推定誤差値１２５に基づき得られる全Ｘ線投影経路での同時確率密度に基づき得られる尤度が増加するように、基底物質厚さ投影推定値１２４を更新して、基底物質厚さ投影第２仮定値１２７を得るとともに、基底物質厚さ投影第２仮定値１２７に逆投影処理を施して、基底物質濃度画像推定値１２８を得る。
【選択図】図１
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
投影ベース法は、計測系の複雑なスペクトル応答を取り扱える利点を持つが、尤度は各投影経路で個別に考慮される。従って、その推定値は、投影経路ごとに確定されるので、単純なＦＢＰ（Filtered Back Projection：フィルタ補正逆投影）で画像再構成を行えば、低カウント条件の投影経路における高統計ノイズの影響が強く残った低画質の撮像画像となる（非特許文献１）。 そこで、本発明は、高画質のＸ線ＣＴ撮像画像を得ることが可能なＸ線ＣＴ画像再構成装置、Ｘ線ＣＴ画像再構成方法およびＸ線ＣＴ装置を提供することにある。課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】本発明のＸ線ＣＴ画像再構成装置の構成の例を示した図。
【図2】基底物質の厚さ投影誤差推定モデル曲線の例を示した図。
【図3】厚さ誤差推定型投影処理部の処理で得られたＸ線投影経路ごとの複数の基底物質の厚さの散布図の例を示した図。
【図4】図３の散布図で表された基底物質Ａの厚さと基底物質Ｂの厚さとの関係を２次元の正規分布でモデル化した例を示した図。
【図5】基底物質Ａの厚さおよび基底物質Ｂの厚さで表わされる空間における尤度等高線の例を示した図。
【図6】比較例に係る従来の一般的なＸ線ＣＴ画像再構成装置の構成の例を示した図。
【図7】被検体の基底物質濃度画像の例を示した図であり、（ａ）は、本発明のＸ線ＣＴ画像再構成装置で算出された基底物質濃度画像の例、（ｂ）は、比較例に係るＸ線ＣＴ画像再構成装置で算出された基底物質濃度画像の例。
【図8】本発明のＸ線ＣＴ画像再構成方法をコンピュータにより実現するための基本的な処理手順の例を示した図。
選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図
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