【図1】本発明の一態様に係るマグネシウム合金のワイヤの製造方法を説明するための断面図である。

【図2】実施例１によるサンプル１、サンプル２、サンプル３及びサンプル４それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面（横断面）でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。

【図3】実施例１によるサンプル５のワイヤの横断面でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。

【図4】図２に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。

【図5】図３に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。

【図6】サンプル１〜５それぞれの横断面のα−Ｍｇ相の平均結晶粒径を示す図である。

【図7】サンプル１〜４それぞれのワイヤの長手方向に切断した断面（縦断面）で観察した組織写真である。

【図8】サンプル１〜５それぞれの縦断面のα−Ｍｇ相の平均結晶粒径（組織長）を示す図である。

【図9】α−Ｍｇ相の結晶粒のアスペクト比を示す図である。

【図10】サンプル２〜５それぞれの０．２％耐力を測定した結果を示す図である。

【図11】実施例２によるサンプル５、サンプル６、サンプル７及びサンプル８それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面（横断面）でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。

【図12】実施例２によるサンプル９、サンプル１０、サンプル１１及びサンプル１２それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面（横断面）でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。

【図13】実施例２によるサンプル１３、サンプル１４、サンプル１５及びサンプル１６それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面（横断面）でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。

【図14】実施例２によるサンプル１７、サンプル１８、サンプル１９、サンプル２０、サンプル２５及びサンプル２６それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面（横断面）でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。

【図15】実施例２によるサンプル２１、サンプル２２、サンプル２３、サンプル２４、サンプル２７及びサンプル２８それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面（横断面）でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。

【図16】図１１に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。

【図17】図１２に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。

【図18】図１３に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。

【図19】図１４に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。

【図20】図１５に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。

【図21】サンプル５〜８それぞれの横断面のα−Ｍｇ相の平均結晶粒径を示す図である。

【図22】サンプル９〜１２それぞれの横断面のα−Ｍｇ相の平均結晶粒径を示す図である。

【図23】サンプル１３〜１６それぞれの横断面のα−Ｍｇ相の平均結晶粒径を示す図である。

【図24】サンプル１７〜２０，２５，２６それぞれの横断面のα−Ｍｇ相の平均結晶粒径を示す図である。

【図25】サンプル２１〜２４，２７，２８それぞれの横断面のα−Ｍｇ相の平均結晶粒径を示す図である。

【図26】サンプル１３〜１６それぞれのワイヤの長手方向に切断した断面（縦断面）で観察した組織写真である。

【図27】サンプル２１〜２４，２７，２８それぞれのワイヤの長手方向に切断した断面（縦断面）で観察した組織写真である。

【図28】サンプル１３〜１６，２１〜２４，２７，２８それぞれの縦断面のα−Ｍｇ相の平均結晶粒径（組織長）を示す図である。

【図29】サンプル１３〜１６，２１〜２４，２７，２８それぞれのα−Ｍｇ相の結晶粒のアスペクト比を示す図である。

【図30】サンプル５〜８それぞれの０．２％耐力を測定した結果を示す図である。

【図31】サンプル９〜１２それぞれの０．２％耐力を測定した結果を示す図である。

【図32】サンプル１３〜１６それぞれの０．２％耐力を測定した結果を示す図である。

【図33】サンプル１７〜２０，２５，２６それぞれの０．２％耐力を測定した結果を示す図である。

【図34】サンプル２１〜２４，２７，２８それぞれの０．２％耐力を測定した結果を示す図である。