特開 2020-169859出願番号 特願 2019-70643
測定装置
公報発行日 2020年10月15
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-A-2020-169859 ログイン済みの方はこのURLへ
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※ 共同出願を含む
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技術分野
測定装置
要約特許出願時に添付された[要約書]
【課題】複数の対象物理量をより精度良く測定することが可能な測定装置を提供する。【解決手段】測定対象物に接触する検出電極と、所定の測定用信号を発振する発振器と、複数の測定対象物理量に対応して設けられ、測定用信号を検出電極に供給する複数の入力回路と、複数の測定対象物理量に対応して設けられ、検出電極から得られる検出信号に所定の検出処理を施す複数の検出処理回路と、検出処理回路から入力される処理済検出信号に基づいて複数の測定対象物理量を演算する演算手段と、複数の入力回路を択一的に選択して測定用信号を検出電極に入力させる制御手段とを備える。
【選択図】図１
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
ところで、背景技術では、溶質の濃度や分散系の電気伝導度を対象物理量として測定するが、各々対象物理量をより精度良く測定するためには、一対の電極に接続される測定系の回路定数を対象物理量毎に最適化する必要がある。 本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、複数の対象物理量をより精度良く測定することが可能な測定装置の提供を目的とするものである。課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
目的を達成するために、本発明では、測定装置に係る第１の解決手段として、測定対象物に接触する検出電極と、所定の測定用信号を発振する発振器と、複数の測定対象物理量に対応して設けられ、前記測定用信号を前記検出電極に供給する複数の入力回路と、複数の前記測定対象物理量に対応して設けられ、前記検出電極から得られる検出信号に所定の検出処理を施す複数の検出処理回路と、前記検出処理回路から入力される処理済・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
本発明によれば、複数の対象物理量をより精度良く測定することが可能な測定装置を提供することが可能である。
この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】本発明の一測定装置の機能構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の一測定装置の電極ユニットの構造を示す模式図である。
選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図
１ 発振器
２Ａ，２Ｂ 第１、第２のバッファ回路（入力回路）
３Ａ，３Ｂ 第１、第２の抵抗器（入力回路）
４Ｘ，４Ｙ 第１、第２の検出電極
５Ａ，５Ｂ 第３、第４のバッファ回路（検出処理回路）
６Ａ，６Ｂ 第１、第２の検出器（検出処理回路）
７Ａ，７Ｂ 第５、第６のバッファ回路（検出処理回路）
８Ａ，８Ｂ 第１、第２のローパスフィルタ（検出処理回路）
９Ａ，９Ｂ 第３、第４のローパスフィルタ（検出処理回路）
１０Ａ，１０Ｂ 第１、第２の差動アンプ（検出処理回路）
１１ ＭＰＵ
Ｍ 電極モジュール
Ｓ 支持部材
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