特許5825111IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

シリコンインターポーザ及びそれを用いる半導体装置に関し、特にTSV(Through Sillicon Via:シリコン貫通電極)構造を持つシリコンインターポーザ

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

上述した電子部品が実装されるインターポーザパッケージでは、電子部品の主成分がシリコンであり、その電子部品が実装されるインターポーザの材料が有機もしくはセラミック材料であり、シリコンの熱膨張係数が2.6ppm程度、有機を材料とするインターポーザの熱膨張係数が12〜17ppmであることから、加熱実装時の反り量に違いが生じ、実装完了後に電子部品とインターポーザとの間で応力が内在するという問題がある。 また、熱膨張係数の差から電子部品のON/OFFによっても応力が発生するという問題がある。 さらに、マザーボート等のプリント配線板に実装された電源部品から電子部品への電流経路は、電源部品→プリント配線板→インターポーザ→電子部品というルートをたどり、CPU等の大電流消費電子部品では、その給電経路の抵抗やインダクタンスが大きいという問題がある。 一般的に、インターポーザパッケージの信号ピンは外周に配置され、コア電源は中央にアサインされる。よって、プリント配線板において、インターポーザパッケージ下の給電プレーンのイメージは図10に示すようになり、ここで抵抗及びインダクタンスが上昇する。 そこで、本発明の目的はの問題点を解消し、給電経路のインダクタンス及び抵抗を下げることができるシリコンインターポーザ及びそれを用いる半導体装置を提供することにある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によるシリコンインターポーザは、電子部品が実装され、TSV(Through Sillicon Via)構造を持つシリコンインターポーザであって、 前記電子部品の実装面に給電用FPC(Flexible Printed Circuit)を積層し、 前記給電用FPCから前記電子部品へ電流を供給することを特徴とする。
【発明の効果】
本発明は、のような構成及び動作とすることで、給電経路のインダクタンス及び抵抗を下げることができるという効果が得られる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】本発明の実施の形態によるFPC付きシリコンインターポーザの構成例を示す図である。

【図2】本発明の実施の形態によるFPC付きシリコンインターポーザのプリント配線板への実装例を示す図である。

【図3】図2のFPC付きシリコンインターポーザを表面側から見た状態を示す図である。

【図4】本発明の実施の形態によるFPCの断面を示す図である。

【図5】本発明の実施の形態によるFPC付きシリコンインターポーザの製造工程を示す図である。

【図6】本発明の実施の形態によるFPC付きシリコンインターポーザの製造工程を示す図である。

【図7】本発明の他の実施の形態によるFPC付きシリコンインターポーザの構成例を示す図である。

【図8】本発明の他の実施の形態によるFPCの構成例を示す図である。

【図9】本発明に関連するインターポーザパッケージのプリント配線板への実装を示す図である。

【図10】本発明に関連するプリント配線板におけるインターポーザパッケージ下の給電プレーンのイメージを示す図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

1 FPC付きシリコンインターポーザ   2 インターポーザ   3 電子部品   4 プリント配線板   10 インターポーザパッケージ   11 TSV   12 FPC   13 ハーネス   14 パッド   15 バンプ   16 電源層   17 グランド層   L1a,L1b,L2 接続部

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