特許5829224IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

半導体光検出素子

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、このような化合物半導体を用いたフォトダイオードは、未だ高価であり、製造工程も複雑なものとなってしまう。このため、安価で且つ製造が容易なシリコンフォトダイオードであって、近赤外の波長帯域に十分な分光感度を有しているものの実用化が求められている。シリコンフォトダイオードは、一般に、分光感度特性の長波長側での限界は1100nm程度ではあるものの、1000nm以上の波長帯域における分光感度特性は十分なものではなかった。 本発明は、シリコンを用いた半導体光検出素子であって、近赤外の波長帯域に十分な分光感度特性を有している半導体光検出素子を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係る半導体光検出素子は、第1導電型の半導体領域と第2導電型の半導体領域とで形成されたpn接合を有するシリコン基板を備え、シリコン基板には、該シリコン基板の一の主面側に第1導電型のアキュムレーション層が形成されていると共に、一の主面における少なくともpn接合に対向する領域に不規則な凹凸が形成されており、シリコン基板の一の主面におけるpn接合に対向する領域は、光学的に露出していることを特・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
本発明によれば、シリコンを用いた半導体光検出素子であって、近赤外の波長帯域に十分な分光感度特性を有している半導体光検出素子を提供することができる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)

この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】第1フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図2】第1フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図3】第1フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図4】第1フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図5】第1フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図6】第1フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図7】第1フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図8】第1フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図9】第1フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図10】第1フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図11】第1フォトダイオードの構成を示す図である。

【図12】実施例1及び比較例1における、波長に対する分光感度の変化を示す線図である。

【図13】実施例1及び比較例1における、波長に対する温度係数の変化を示す線図である。

【図14】第2フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図15】第2フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図16】第2フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図17】第3フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図18】第3フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図19】第3フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図20】第3フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図21】第3フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図22】第4フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図23】第4フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図24】第4フォトダイオードの製造方法を説明するための図である。

【図25】第5フォトダイオードアレイの構成を説明するための図である。

【図26】第6半導体光検出素子を示す斜視図である。

【図27】第6半導体光検出素子の断面構成を説明するための図である。

【図28】第7フォトダイオードの構成を説明するための図である。

【図29】第8フォトダイオードアレイの構成を説明するための図である。

【図30】第9フォトダイオードアレイを概略的に示す平面図である。

【図31】図30におけるXXXI−XXXI線に沿った断面構成を示す図である。

【図32】各光検出チャンネルと信号導線及び抵抗との接続関係を概略的に説明するための図である。

【図33】第10MOSイメージセンサを概略的に示す平面図である。

【図34】図33におけるXXXIV−XXXIV線に沿った断面構成を示す図である。

【図35】第10MOSイメージセンサにおける一つの画素を拡大して示す平面図である。

【図36】図35におけるXXXVI−XXXVI線に沿った断面構成を示す図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

1…n−型半導体基板、1a…第1主面、1b…第2主面、3…P+型半導体領域、5…n+型半導体領域、10…不規則な凹凸、11…アキュムレーション層、13,15…電極、PL…パルスレーザ光、PD1〜PD5…フォトダイオード、PDA1〜3…フォトダイオードアレイ、SI1…固体撮像素子、MI1…MOSイメージセンサ。

全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録

[広告欄]

ログインすれば広告は減ります

ログインすれば広告は減ります