特許5836269IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

紫外線走査計画のための方法及び装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】本発明を実施する画像取得及び分析の多段階方法を示す概略図である。

【図2】本発明の実施形態に基づくマスクフィルタを用いた画像取得のx−y方向を示す、組織マイクロアレイの概略図である。

【図3】固体支持体上の組織試料の位置を見つけることができる自動化されたシステムを示す図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

10 システム   12 撮像顕微鏡   13 対物レンズ   14 励起源   15 ステージ   16 デジタル画像装置   17 組織試料   18 記憶装置   20 処理装置   22 表示装置   30 組織マイクロアレイ   32 底部左   34 組織マイクロアレイの頂部   36 蛇行パターン

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