特許5876113IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

一般に、表面に試薬を被着させる方法に関するものである。より具体的には、本発明は、湿潤試薬液滴を試験センサ内の電極パターン上に被着させる方法に関するものである。

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1A】試薬液滴を有する試験センサの上面図である。

【図1B】図1Aの1B−1B線におおよそ沿って見た図1Aの試験センサの断面図である。

【図1C】蓋を取り外した図1Aの試験センサの上面図である。

【図2A】試薬液滴を有する他の試験センサの上面図である。

【図2B】図2Aの2B−2B線におおよそ沿って見た図2Aの試験センサの断面図である。

【図3A】湿潤試薬液滴を有する他の試験センサの部分断面側面図である。

【図3B】湿潤試薬液滴を有する他の試験センサの部分断面側面図である。

【図3C】運動エネルギで被着した湿潤試薬液滴を有する図3Aの試験センサである。

【図3D】運動エネルギで被着した湿潤試薬液滴を有する図3Bの試験センサである。

【図4A】本発明の1つの方法による試薬分配システムの正面平面図である。

【図4B】図4Aの試薬分配システムの部分分解図である。

【図5A】他の試薬分配システムの断面側面図である。

【図5B】開放位置にある図5Aのピストン−ニードルアセンブリおよびノズルを図示する。

【図6A】本発明の他の方法による試薬分配システムの断面側面図である。

【図6B】開放位置にある図6Aの試薬分配システムを図示する。

【図7】図6A,Bに示される試薬分配システムの、分配高さに対する乾燥試薬層の直径間の直線的相関をグラフで図示する。

【図8A】試薬液滴を有する他の試験センサの上面図である。

【図8B】図8Aの8B−8B線におおよそ沿って見た図8Aの試験センサの断面図である。

【図9】後述の実施例1における試薬の高さ対距離のプロットであり、試薬試料の同一性を図示する。

【図10】後述の実施例2における試薬の高さ対距離のプロットであり、試薬試料の同一性を図示する。

【図11】後述の実施例3における試薬の高さ対距離のプロットであり、試薬試料の同一性を図示する。

【図12】後述の実施例4における試薬の高さ対距離のプロットであり、試薬試料の同一性を図示する。

【図13】後述の実施例5における試薬の高さ対距離のプロットであり、試薬試料の同一性を図示する。

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