特許6049688IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

本発明開示は、細粒と粗粒の遅延エレメントを伴なうデジタル的にコントロールされた遅延ラインに関する。さらに、細粒の増加を調整する方法とシステム

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

デジタル的にコントロール可能な遅延ラインは細粒および粗粒遅延エレメントを含み、細粒の増加により遅延を較正する。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

較正は、結合された遅延が粗粒エレメントの遅延と実質的に等しくなるように細粒エレメントの数量を較正するステップと、結合された遅延が参照クロック期間と対応するように細粒エレメントの数量を較正するステップとを含む。デジタル的にコントロールされた遅延ラインは、デジタル遅延固定ループ(DLL)の一部として実施され、同様に実施された遅延ラインを有するスレーブDLLに対して較正パラメーターが提供される。デ・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】図1は、細粒遅延エレメントと粗粒遅延エレメントを含む、デジタル的にコントロールされた遅延ラインと、細粒と粗粒の増加における遅延ラインをコントロールするためのデジタルコントロールのブロックダイアグラムである。

【図2】図2は、図1のデジタル的にコントロールされた遅延ラインのブロックダイアグラムであり、細粒遅延ラインの出力を受け取るために、細粒遅延ラインとして細粒遅延エレメントが実施され、粗粒遅延ラインとして粗粒遅延エレメントが実施される。

【図3】図3は、一つの粗粒遅延エレメントが、結合された8つの細粒遅延エレメントと実質的に等しい実施例を示している。

【図4】図4は、遅延の一定量の増加を説明するために、図1のデジタル的にコントロールされた遅延ラインの状態の実施例を示している。

【図5】図5は、遅延の一定量の増加を説明するために、図1のデジタル的にコントロールされた遅延ラインの状態を示している。

【図6】図6は、スイッチコントロールされたキャパシターとして実施される細粒遅延エレメントのブロックダイアグラムである。

【図7】図7は、スイッチコントロールされた出力を伴なう直列接続のバッファーとして実施される粗粒遅延エレメントのブロックダイアグラムである。

【図8】図8は、それぞれに反転バッファーとマルチプレクサーを含む、粗粒遅延エレメントのブロックダイアグラムである。

【図9】図9は、図2のデジタルコントローラーのデジタル的にコントロールされた遅延ラインを含む、デジタル遅延固定ループ(DLL)のブロックダイアグラムであり、さらに、位相検出器と遅延ラインの固有の遅延をオフセットするための初期微細遅延回路を含んでいる。

【図10】図10は、初期微細遅延回路の実施例のブロックダイアグラムである。

【図11】図11は、位相差に基づいて遅延ラインをコントロールするための第1および第2カウンターを含む、デジタルコントローラーのブロックダイアグラムであり、第1および第2カウンターは、参照クロックに関して遅延ラインを較正するための第1較正ループの部分を形成している。

【図12】図12は、図11で示されたデジタルコントローラーのブロックダイアグラムであり、さらに、細粗変換係数を較正するための第2較正ループの概念的な表示を含んでおり、第1カウンターのキャリーアウト(carry−out)閾値として適用され得る。

【図13】図13は、第2較正ループの実施例のブロックダイアグラムであり、細粗変換係数を増加及び/又は減少させるための第3カウンターを含んでいる。

【図14】図14は、ここにおいて説明されたデジタル的にコントロール可能な遅延ラインを有するマスターDLLを含むシステムのブロックダイアグラムである。

【図15】図15は、細粒遅延エレメントの数量Pを較正する方法のフローチャートであり、結合された遅延は一つの粗粒遅延エレメントの遅延と実質的に等しい。

【図16】図16は、細粒遅延エレメントの数量n、および、粗粒遅延エレメントの数量mを較正する方法のフローチャートであり、結合された遅延は参照クロックの期間に対応している。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

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