発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

３次元プロファイル測定器は容易にワークの３次元形状を測定できる利点を有しているが、３次元プロファイル測定器はまだ市場に登場したばかりであり、それほど普及していない。一方で、２次元プロファイル測定器はかなり普及しており、多くのユーザが所有している。３次元プロファイル測定器が広く普及するまでの過渡期においては、２次元プロファイル測定器を３次元プロファイル測定器の代わりに使用できれば、ユーザにとってはメリットがあろう。 しかし、２次元プロファイル測定器が取得できるデータはワークの２次元断面形状を示すプロファイルデータにすぎず、３次元プロファイルデータではない。もし、ワークの２次元断面形状を示す複数のプロファイルデータをつなぎ合わせることで３次元プロファイルデータを生成できれば、２次元プロファイル測定器を３次元プロファイル測定器として代用できるであろう。この場合、複数の２次元プロファイルデータを合成して３次元プロファイルデータを作成する画像処理装置が必要となる。なお、３次元プロファイル測定器は、ラインを流れるワークを一旦停止させないと測定を実行できないが、２次元プロファイル測定器であればラインを停止させることなく測定を実行できるといった副次的なメリットもある。 ところで、画像処理装置は、ＣＣＤカメラなどによって取得した画像データに画像処理を施して外観検査や寸法検査などのワーク検査を実行する装置であり、２次元プロファイル測定器が接続されることを想定して設計されていない。これは、２次元プロファイル測定器と画像処理装置とがそれぞれ独自に進化して来たことや、両者を接続しようという用途が従来は存在しなかったといった歴史的経緯がその理由である。さらに、画像処理装置ではＤＳＰ（デジタル・シグナル・プロセッサ）が画像処理を担当するが、リアルタイムでワークの画像を処理してワークの良否を判定するためには、画像処理ビット数を１５ビット以下に抑える必要があった。一方で、変位計などの２次元プロファイル測定器に求められる測定精度を満たすには、１５ビットでは不足し、２０ビットの測定データが必要であった。そのため、画像処理装置の画像処理ビット数は、２次元プロファイル測定器が出力するデータのビット数と一致していない。よって、画像処理装置が、２次元プロファイル測定器により測定された複数の２次元プロファイルデータから３次元プロファイルデータを作成するには、ビット数を合わせるための変換処理が必要となる。 そこで、本発明は、２次元プロファイル測定器の出力データのビット数と画像処理装置の画像処理ビット数とを一致させ、画像処理装置において２次元プロファイルデータから３次元プロファイルデータを生成できるようにすることを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、２次元プロファイル測定器の出力データのビット数と画像処理装置の画像処理ビット数とを一致させることで、画像処理装置が２次元プロファイルデータから３次元プロファイルデータを生成できるようになる。