発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

このような４ＰＡＭ信号を生成する場合には、例えば２つのパターン発生器ＰＰＧ１，ＰＰＧ２を用意し、例えば図６（ａ）に示すパターン信号を一方のパターン発生器ＰＰＧ１から発生させ、図６（ｂ）に示すパターン信号を他方のパターン発生器ＰＰＧ２から発生させる。そして、これら２つのパターン信号を合成して図６（ｃ）に示すような４ＰＡＭ信号を生成する。 ここで、図６（ｃ）の４ＰＡＭ信号において、閾値電圧Ｖｔｈ２に対応するパターンは、パターン発生器ＰＰＧ２のパターンと同一である（図６（ｃ）の右下がりの斜線部分）。また、パターン発生器ＰＰＧ１のパターンは、閾値電圧Ｖｔｈ１と閾値電圧Ｖｔｈ３に半分ずつ現れる（図６（ｃ）の右上がりの斜線部分）。さらに説明すると、パターン発生器ＰＰＧ１のパターンは、閾値電圧Ｖｔｈ２＝０（Ｌｏｗ）の場合は閾値電圧Ｖｔｈ３に現れ、閾値電圧Ｖｔｈ２＝１（Ｈｉｇｈ）の場合は閾値電圧Ｖｔｈ１に現れる。そして、閾値電圧Ｖｔｈ１及び閾値電圧Ｖｔｈ３に対するデータパターンは、１つのＰＰＧから発生されたデータパターンが２つに分割されたものであるため、これらの閾値で測定されたビット誤り率は、真のビット誤り率とは異なる値となる。 しかしながら、上述した特許文献１に開示されるビット誤り測定装置では、そもそも上述した４ＰＡＭ信号のＢＥＲ測定に対応していなかった。仮に、特許文献１に開示されるビット誤り測定装置を使用して４ＰＡＭ信号のトータルビット誤り率の測定を行うためには、高電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、低電圧範囲Ｈ３の３つのアイパターン開口部それぞれの測定用パターン、閾値電圧Ｖｔｈ１，Ｖｈｔ２，Ｖｔｈ３、位相（測定範囲の中心）をユーザが手動で設定してＢＥＲ測定を行い、この手順を３つのアイパターン開口部分の３回繰り返した後、得られた３つのＢＥＲ結果から４ＰＡＭ信号のトータールＢＥＲをユーザが計算する必要があった。このため、ユーザにかかる負担も大きく、操作や測定が煩雑となり、設定から測定までの時間も要するという課題を生じる。 そこで、本発明は問題点に鑑みてなされたものであって、操作の簡略化、設定から測定までの時間を短縮して４ＰＡＭ信号のトータルビット誤り率を得ることができる誤り率測定装置及び誤り率測定方法を提供することを目的としている。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、測定パターンを指定し、１チャンネルの受信モジュールを用いることにより、必要最小限の構成で４ＰＡＭ信号のトータルビット誤り率を得ることができ、操作を簡略化してユーザにかかる負担を軽減でき、設定から測定に要する時間の短縮を図ることができる。 また、測定パターンの表示項目と、自動設定された各電圧範囲Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３毎の閾値電圧Ｖｔｈ１，Ｖｔｈ２，Ｖｔｈ３及び位相の値と、各電圧範囲毎のビット誤り率及び４ＰＡＭ信号のトータルビット誤り率の測定結果とを一つの表示画面上に表示するので、設定操作とともに測定結果の確認を同じ表示画面上で行うことができる。