【図1】本発明の第１実施形態のエマルション調製用デバイスを利用した調製器具の全体側面図である。

【図2】図１のデバイスの断面側面図である。

【図3】図１のIII矢視部分図であり、第１メッシュ部を示す図である。

【図4】本発明の第２実施形態のエマルション調製用デバイスを利用した調製器具の全体側面図である。

【図5】図４のデバイスの側面図である。

【図6】図４のデバイスの断面側面図である。

【図7】図４のデバイスの透視側面図である。

【図8】第１メッシュ部の変形例を示す図である。

【図9】第１メッシュ部の別の変形例を示す図である。

【図10】エマルション確認テストＡ、Ｂにおけるドロップテストを示す図である。

【図11】摺動抵抗評価テストＡ、Ｂの方法の一工程を示す図である。

【図12】異物評価テストの方法の一工程を示す図である。