特許6346167IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

アーチファクトを測定する方法に関し、特に工作機械上に取り付けられたアナログ測定ツールを使用してアーチファクトを走査する方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)

この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】工作機械用のシステム構成を示す概略図である。

【図2(a)】アナログ測定プローブの測定範囲を示す概略図である。

【図2(b)】アナログ測定プローブの測定範囲を示す概略図である。

【図2(c)】アナログ測定プローブの測定範囲を示す概略図である。

【図3】本発明の一実施形態による測定作業時の制御フローを示すシステム流れ図である。

【図4】本発明の第2の実施形態による、本発明による測定作業の実行における個々の段階の概略図である。

【図5(a)】本発明の第1の実施形態による、本発明による測定作業の実行における一段階の概略側面図である。

【図5(b)】本発明の第1の実施形態による、本発明による測定作業の実行における一段階の概略側面図である。

【図5(c)】本発明の第1の実施形態による、本発明による測定作業の実行における一段階の概略側面図である。

【図5(d)】本発明の第1の実施形態による、本発明による測定作業の実行における一段階の概略側面図である。

【図5(e)】図5(a)の概略的な模式図である。

【図6】対象が、本発明の方法を利用してその長さおよびその幅に沿って測定される、本発明の一実施形態の概略図である。

【図7】本発明の別の実施形態による測定作業時の制御フローを示すシステム流れ図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録

[広告欄]

ログインすれば広告は減ります

ログインすれば広告は減ります