特許6438716IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

変位測定装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかし、特許文献1に記載された遠隔測定装置は、受光装置を必要とすると共に、パソコン等を用いて受光装置が取得した情報をデータ処理する必要があるので、装置が高価であった。 本発明は、前記問題に鑑みてなされたものであり、従来よりも構成が簡単な上に変位量の測定が容易である変位測定装置を提供することを課題とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

前記課題を解決するため、本発明に係る変位測定装置は、レーザー光を照射する照射装置と、前記レーザー光を反射する反射面が形成された反射器と、前記反射面で反射したレーザー光を受光するスケールと、を備える変位測定装置であって、前記反射面は、前記スケールに対向する側の断面形状が円弧状をなす凸鏡面であり、前記スケールは、前記反射器の上方または下方に設置され、前記レーザー光に対して平行に延在され、前記反射・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
本発明によれば、従来よりも構成が簡単な上に変位量の測定が容易である。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】本発明の変位測定装置の外観図斜視図である。

【図2】本発明の変位測定装置の要部拡大図である。

【図3】反射器に照射されるレーザー光の位置とスケールに反射されるレーザー光(反射光)の位置との関係を示す図である。

【図4】反射器に照射されるレーザー光の高さと、スケールに映し出される反射光のX座標との関係を示す図である。

【図5】反射器に照射されるレーザー光の高さと、スケールに映し出される反射光のX座標との関係を示す図である。

【図6】反射器に照射されるレーザー光の位置とスケールに反射されるレーザー光(反射光)の位置との関係を示す図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

1 変位測定装置   2a はり(構造躯体)   2b,2c 柱(構造躯体)   3 観測者   10 照射装置   20 反射器   21 本体部   22 反射面   23 連結部   30 スケール   31 目盛り

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