技術分野
半導体装置、およびその作製方法に関する。
なお、本明細書中において半導体装置とは、半導体特性を利用することで機能しうる装置
全般を指し、トランジスタ、半導体回路、記憶装置、撮像装置、表示装置、電気光学装置
および電子機器などは、全て半導体装置と言える。
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
しかしながら、フォトリソグラフィ工程を削減または簡略化すると、本来必要のない場所
にチャネルが形成され、意図しない部分がトランジスタとして機能してしまう場合がある
。
例えば、画素電極と絶縁層を介して重畳する半導体層が存在すると、画素電極に供給され
る電位によっては、画素電極と重畳する半導体層にチャネルが形成されてしまう場合があ
る。なお、このように本来必要のない場所に形成されるチャネルを寄生チャネルという。
また、例えば、第1の画素と、第1の画素に隣接する第2の画素で共通の配線A(例えば
、ゲート配線)を使用している場合に、配線Aと絶縁層を介して重畳する半導体層に寄生
チャネルが形成されると、半導体層に接して形成されている、第1の画素が有する配線B
(例えば、第1の画素が有する画像信号配線)と第2の画素が有する配線C(例えば、第
2の画素が有する画像信号配線)が、寄生チャネルにより電気的に接続されてしまう場合
がある。すなわち、配線Aがゲート電極として機能し、配線Bがソース電極またはドレイ
ン電極の一方として機能し、配線Cがソース電極またはドレイン電極の他方として機能す
るトランジスタが形成されてしまう場合がある。このように、意図せず形成されるトラン
ジスタを寄生トランジスタという。
また、隣接する配線間の距離が短い場合は、ゲート電極として機能する層が無くても、隣
接する配線間に生じる電界により半導体層中に寄生チャネルが形成され、隣接する配線同
士が電気的に接続されてしまう場合がある。
寄生チャネルまたは寄生トランジスタが形成されると、配線間の信号が干渉し、正確な信
号の伝達が困難となるため、表示品位の低下や、信頼性低下の一因となる。
また、半導体装置は複雑な構造の複数の薄膜で構成されており、多種の材料、方法及び工
程で作製される。よって、用いられる作製工程によっては、得られる半導体装置の形状不
良や電気特性の低下が生じる恐れがある。
このような問題に鑑み、信頼性の高い半導体装置を提供することを課題の一とする。
本発明の一態様は、半導体装置の作製に用いるフォトリソグラフィ工程を従来よりも少な
くすることを課題の一とする。
本発明の一態様は、半導体装置の作製に用いるフォトマスクの枚数を従来よりも少なくす
ることを課題の一とする。
本発明の一態様は、生産性の良い半導体装置を提供することを課題の一とする。
本発明の一態様は、消費電力が低減された半導体装置を提供することを課題の一とする。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
島状半導体層を形成するためのフォトリソグラフィ工程を省略し、ゲート電極(同一層で
形成される配線を含む)を形成する工程、ソース電極およびドレイン電極(同一層で形成
される配線を含む)を形成する工程、コンタクトホールおよび溝部を形成する工程、画素
電極(同一層で形成される配線等を含む)を形成する工程の4つのフォトリソグラフィ工
程で液晶表示装置に用いる半導体装置を作製する。
【発明の効果】
本発明の一態様によれば、トランジスタの作製に用いるフォトリソグラフィ工程を従来よ
りも少なくすることができる。よって、トランジスタを有する表示装置の作製に用いるフ
ォトマスクの枚数を従来よりも少なくすることができ、低コストで生産性の良い半導体装
置を提供することができる。
本発明の一態様によれば、チャネルが形成される半導体層に酸化物半導体を用いることで
、消費電力が少なく、信頼性の高い半導体装置を提供することができる。
この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】本発明の一態様を説明する図。
【図2】本発明の一態様を説明する図。
【図3】本発明の一態様を説明する図。
【図4】本発明の一態様を説明する図。
【図5】本発明の一態様を説明する図。
【図6】本発明の一態様を説明する回路図。
【図7】本発明の一態様を説明する図。
【図8】本発明の一態様を説明する図。
【図9】作製方法を説明する図。
【図10】作製方法を説明する図。
【図11】作製方法を説明する図。
【図12】作製方法を説明する図。
【図13】多階調マスクを説明する図。
【図14】本発明の一態様を説明する図。
【図15】本発明の一態様を説明する図。
【図16】本発明の一態様を説明する図。
【図17】本発明の一態様を説明する図。
【図18】本発明の一態様を説明する図。
【図19】本発明の一態様を説明する図。
【図20】本発明の一態様を説明する回路図。
【図21】作製方法を説明する図。
【図22】作製方法を説明する図。
【図23】作製方法を説明する図。
【図24】本発明の一態様を説明する図。
【図25】本発明の一態様を説明する図。
【図26】本発明の一態様を説明する図。
【図27】本発明の一態様を説明する図。
【図28】電子機器を示す図。
100 半導体装置
101 基板
102 画素領域
103 端子部
104 端子部
105 端子
106 端子
107 端子
108 端子
110 画素
111 トランジスタ
112 液晶素子
113 容量素子
114 電極
115 ノード
116 EL素子
120 画素
121 トランジスタ
130 画素
150 半導体装置
160 画素
200 基板
201 下地層
202 ゲート電極
203 配線
204 ゲート絶縁層
205 半導体層
207 絶縁層
208 コンタクトホール
209 コンタクトホール
210 画素電極
211 画素電極
212 配線
213 配線
214 コンタクトホール
215 容量電極
216 配線
217 配線
218 隔壁層
219 コンタクトホール
220 コンタクトホール
221 電極
222 電極
223 配線
224 配線
225 対向電極接続部
226 対向電極
230 溝部
231 端部
232 端部
233 端部
234 端部
240 溝部
243 ゲート電極
251 溝部
252 溝部
253 溝部
254 溝部
255 溝部
256 溝部
257 溝部
258 溝部
261 レジストマスク
262 レジストマスク
271 EL層
272 開口部
301 透光性基板
302 遮光部
303 回折格子
304 グレートーンマスク
311 透光性基板
312 半透過部
313 遮光部
314 ハーフトーンマスク
2400 基板
2401 ゲート電極
2402 ゲート絶縁層
2403 酸化物半導体層
2406 チャネル保護層
2407 絶縁層
2409 保護絶縁層
2411 ゲート電極
2412 ゲート電極
2413 ゲート絶縁層
2414 ゲート絶縁層
2436 下地層
2450 トランジスタ
2460 トランジスタ
2470 トランジスタ
2480 トランジスタ
2550 トランジスタ
2560 トランジスタ
2570 トランジスタ
2701 眼鏡本体
2703 ケーブル
2704 筐体
2705 表示部
2706 筐体
2707 表示部
2711 表示装置
2712 軸部
2713 タイミング発生器
2716 表示制御回路
2717 表示部
2718 ソース線側駆動回路
2719 ゲート線側駆動回路
2721 電源端子
2722 外部操作手段
2723 操作キー
2725 スピーカー
2800 筐体
2801 筐体
2802 表示パネル
2803 スピーカー
2804 マイクロフォン
2805 操作キー
2806 ポインティングデバイス
2807 カメラ用レンズ
2808 外部接続端子
2810 太陽電池セル
2811 外部メモリスロット
3001 本体
3002 筐体
3003 表示部
3004 キーボード
3021 本体
3022 スタイラス
3023 表示部
3024 操作ボタン
3025 外部インターフェイス
3051 本体
3053 接眼部
3054 操作スイッチ
3056 バッテリー
4001 基板
4002 画素部
4003 信号線駆動回路
4004 走査線駆動回路
4005 シール材
4006 基板
4007 空間
4008 液晶層
4009 隔壁層
4010 トランジスタ
4013 液晶素子
4015 配線
4016 電極
4019 異方性導電層
4020 入力端子
4030 電極
4031 電極
4032 絶縁層
4033 絶縁層
4035 スペーサー
4040 溝部
4105 封止材
4108 EL層
4113 EL素子
4130 電極
4131 電極
9601 筐体
9603 表示部
9605 スタンド
105_i 端子
106_j 端子
206a ソース電極
206b ドレイン電極
212_i 配線
216_j 配線
236a ソース電極
236b ドレイン電極
2405a ソース電極
2405b ドレイン電極
2702a 左目用パネル
2702b 右目用パネル
2730a 同期信号
2730b 同期信号
2731a 同期信号
2731b 同期信号
4018a FPC
4018b FPC
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