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特許 6515142出願番号 特願 2017-127739
入力寄生金属の検出
出願人 フィリップス アイピー ベンチャーズ ビー ヴィ（識別番号 518116433）
2026年 特許公開件数ランキング 25912位 0件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 21403位 0件（※）
公報発行日 2019年5月15
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6515142 ログイン済みの方はこのURLへ
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※ 共同出願を含む
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技術分野
非接触電力供給システム用の電力損失説明
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
本発明は１次ユニット及び２次ユニットを含む非接触電力供給システムを提供する。このシステムは，動作中の既知の電力損失の変化を説明することによって，１次ユニットの近傍の寄生金属をより正確に検出することができる。誘導電力供給システムにおける誘導電力転送中の電力損失量は，１次ユニットと２次ユニットとの整列度に依存して変化することがある。さらに，誘導電力転送中の電力損失量もまた，１次ユニットにおけるス・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】入力寄生金属検出ができる非接触電力供給システムのブロック図の一実施例を示す図である。
【図2】入力寄生金属検出の方法の一実施例を示す図である。
【図3】種々の異なるシナリオにおける入力電力と電力消費との代表的なグラフを示す図である。
【図4】入力寄生金属検出システムを較正する際に用いる幾何学的位置調整システムの代表的な図である。
選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図
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