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公報発行日 2019年12月25
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【図1】第1のX線検査装置の全体構成図である。
【図2】サイノグラムを説明する図である。
【図3】特定のチャネルで検出されたエネルギーのスペクトルの一例を示す図である。
【図4】被検体サイノグラムの例を示す図である。
【図5】第1の実施形態の画像処理部のブロック構成の一例を示す図である。
【図6】X線のエネルギーに対する線減弱係数の特性の例を示す図である。
【図7】物質特定優先順位テーブルの構成例を示す図である。
【図8】第1の実施形態の画像処理部の動作の一例を示すフローチャートである。
【図9】第1の実施形態の変形例の画像処理部のブロック構成の一例を示す図である。
【図10】第2の実施形態の画像処理部の第1生成部のブロック構成の一例を示す図である。
【図11】投影データと線減弱係数との関係を説明する図である。
【図12】画素の寄与度を説明する図である。
【図13】第2の実施形態の画像処理部の動作の一例を示すフローチャートである。
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