特許6625428IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

X線CT装置、および画像処理装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明は、に鑑みてなされたものであって、想定した物質とは異なる物質の存在の有無を判別することができるX線CT装置、および画像処理装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

実施形態のX線CT装置は、取得部と、第1生成部と、第2生成部と、再構成部と、第1比較部と、第1通知部と、を備える。取得部は、検出器により検出された被検体を通過した放射線のエネルギーごとのX線の量を示すスペクトルに基づく投影データを取得する。第1生成部は、投影データから、被検体に存在する物質として選択された複数の物質それぞれの密度画像である第1密度画像を生成する。第2生成部は、第1密度画像から・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】第1のX線検査装置の全体構成図である。

【図2】サイノグラムを説明する図である。

【図3】特定のチャネルで検出されたエネルギーのスペクトルの一例を示す図である。

【図4】被検体サイノグラムの例を示す図である。

【図5】第1の実施形態の画像処理部のブロック構成の一例を示す図である。

【図6】X線のエネルギーに対する線減弱係数の特性の例を示す図である。

【図7】物質特定優先順位テーブルの構成例を示す図である。

【図8】第1の実施形態の画像処理部の動作の一例を示すフローチャートである。

【図9】第1の実施形態の変形例の画像処理部のブロック構成の一例を示す図である。

【図10】第2の実施形態の画像処理部の第1生成部のブロック構成の一例を示す図である。

【図11】投影データと線減弱係数との関係を説明する図である。

【図12】画素の寄与度を説明する図である。

【図13】第2の実施形態の画像処理部の動作の一例を示すフローチャートである。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

1 X線検査装置   10 架台装置   11 X線管   11a、11b X線ビーム   12 回転フレーム   13 検出器   13a チャネル   14 照射制御部   15 架台駆動部   16 データ収集部   20 寝台装置   21 寝台駆動装置   22 天板   30 コンソール装置   31 入力装置   32 表示装置   33 スキャン制御部   34、34a 画像処理部   35 画像記憶部   36 システム制御部   40 被検体   41 投影断面   42 計測範囲   311 入力部   321 表示部   341 投影データ取得部   342、342a 第1生成部   343 第2生成部   344 再構成部   345 差分判定部   345a 差分算出部   346 変更部   1001 サイノグラム   1011、1011a〜1011d 被検体サイノグラム   1101 密度画像   1111 画素   1112 重なり部分   2000 物質特定優先順位テーブル   3421 更新値算出部   3422 判定部   3423 密度画像生成部   3424 画像記憶部   3425 仮想投影部   s 投影ビーム

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