発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかし、冷却ファンとは離れた位置に制御回路基板を配置した場合、距離が離れることで制御回路基板に届く冷却風の風量や風速が減少し、ＦＥＴが十分に冷却できないおそれがある。また、基板全体に防水加工を施すと、ＦＥＴが覆われてしまい、ＦＥＴそのものを冷却しにくいという問題がある。ＦＥＴが十分に冷却されないと、ＦＥＴが定格温度を超えて発熱して故障する可能性がある。 なお、特許文献２においては、ＦＥＴ（スイッチング素子）の側面に放熱部材に接触させることで冷却効果を向上させている。しかしながら、このように放熱部材を使用する構成では、放熱部材を配置するために収容空間の高さを確保する必要があり、電動工具の全高が高くなってしまう。また、放熱部材を使用することで、部品点数が増えて製造コストが嵩み、機械の重量アップにもつながる。また、複数のＦＥＴの表面が面一に実装されていないなどの理由により放熱部材にうまく接触できないＦＥＴがあると、放熱性にばらつきが生じ、機械ごとの品質にばらつきが生じてしまう。 そこで、本発明は、冷却ファンとは離れた位置に制御回路基板を配置し、放熱部材を使用していない場合でも、ＦＥＴを効率的に冷却することができる電動工具を提供することを課題とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

請求項１に記載の発明はの通りであり、ＦＥＴを実装した制御回路基板を備え、前記ＦＥＴの上面が露出するように前記制御回路基板の表面に防水処理を施した。このような構成によれば、ＦＥＴの上面が露出しているので、制御回路基板の防水性を確保しつつもＦＥＴの表面に直接冷却風を当てることができる。よって、冷却ファンとは離れた位置に制御回路基板を配置した場合でもＦＥＴを効率的に冷却することができる。 また、ヒートシンクなどの放熱部材が必要ないので、制御回路基板の高さを低く抑えることができ、電動工具の全高を低くすることができる。また、放熱部材を省略することで、部品点数を減少させて製造コストを低減でき、機械を軽量化することができる。 なお、ヒートシンクを使用する場合には、複数のＦＥＴの表面が面一に実装されていないなどの理由によりヒートシンクにうまく接触できないＦＥＴがあると、放熱性にばらつきが生じ、機械ごとの品質にばらつきが生じることにもつながる。この点、本発明によれば、ヒートシンクを使用しないので、したような品質のばらつきも生じず、製品管理も容易となる。 また、前記ＦＥＴは、前記制御回路基板に面実装されている。このような構成によれば、ＦＥＴの取り付け高さを安定させることができる。よって、防水処理を行う際の範囲の設定が容易であり、確実にＦＥＴの上面を露出させることができる。また、露出するＦＥＴの上面の面積を大きくすることができるので、広い面積に冷却風を当ててＦＥＴを効率的に冷却することができる。また、制御回路基板を薄く形成することができるので、電動工具の全高も低く抑えることができる。 また、請求項２に記載の発明はの通りであり、制御回路基板上においてＦＥＴを風窓側に寄せて配置した。このような構成によれば、風窓の面積を必要最小限として機械内部への粉塵の侵入を防止した場合でも、ＦＥＴ上を通過する冷却風の風量を十分に確保することができる。また、風窓を通過するときに風路面積の減少に伴って冷却風の風速が上がるので、風窓付近に配置されたＦＥＴの冷却効果が向上する。 また、請求項３に記載の発明はの通りであり、制御回路基板上において、ＦＥＴと風窓との間にはＦＥＴよりも背の高い電子部品が配置されていない。このような構成によれば、冷却風の流れが阻害されないので、ＦＥＴを効率的に冷却することができる。 また、請求項４に記載の発明はの通りであり、前記制御回路基板上に近接して配置された複数のＦＥＴのうち、少なくとも他のＦＥＴに挟まれるように配置されたＦＥＴに温度検知手段を設けた。このような構成によれば、温度が上昇し易いＦＥＴ（他のＦＥＴに挟まれるように配置された特定のＦＥＴ）に温度検知手段を設けているので、ＦＥＴが高温となったことを迅速かつ的確に検知することができる。そして、温度検知手段が検知した温度が所定の温度（例えばＦＥＴの定格温度）を超えている場合にモータを停止させるように制御すれば、ＦＥＴの故障を未然に防ぐことができる。 また、請求項５に記載の発明はの通りであり、前記温度検知手段は、前記制御回路基板上のランドに面実装されている。このように温度検知手段をランドに実装することで、温度検知手段をスルーホールに実装した場合と比較して温度検知手段が浮き上がりにくくなっており、ＦＥＴのできるだけ下部（基板実装面の近く）に温度検知手段を貼り付けることができる。このようにＦＥＴの下部に温度検知手段を貼り付けることで、より正確にＦＥＴの温度を検知することができる。